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LABVIEW與天線測量技術 版權信息
- ISBN：9787560668413
- 條形碼：9787560668413 ; 978-7-5606-6841-3
- 裝幀：平裝
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
LABVIEW與天線測量技術 內容簡介
本書介紹了LabVIEW在天線測試領域中的使用經驗與相關程序代碼，篩選并介紹了一些關鍵函數的使用方法，從基礎到實踐對天線測試系統采集與分析軟件進行了源碼解析，同時介紹了天線測試和天線測試系統集成知識，可幫助讀者快速進入天線測試系統集成與軟件開發的世界。 本書共15章，分為三篇。第1章至第10章為基礎篇，介紹了LabVIEW的基礎知識，包括認識LabVIEW，啟動界面、前面板與菜單，數據格式，循環與事件結構，文件I/O，畫圖與顯示，MAX與儀器驅動、接口，VI顯示設置與美化，程序代碼的保護，生成可執行與安裝程序。第11章、第12章為提高篇，給出了天線測試系統采集軟件與分析軟件的源代碼詳細解析。第13章至第15章為高級篇，介紹了天線測試系統集成相關知識。本書通過對這三篇內容的講解，可幫助讀者了解天線測試參數與天線測試系統的組成、天線測試系統的工作原理、設計天線測試系統的關鍵知識，這些都是天線測試系統集成與軟件工程師的**常識。 本書可作為高等學校天線測試、測量等專業的教材，也可作為科研院所天線測試與天線測試系統集成工程師和對天線測試感興趣的讀者的學習參考書。
LABVIEW與天線測量技術 目錄
基礎篇
第1章 認識LabVIEW
1.1 LabVIEW的概念
1.2 LabVIEW 2018的安裝
1.3 開啟LabVIEW程序之旅
第2章 啟動界面、前面板與菜單
2.1 啟動界面
2.2 前面板和程序框圖
2.3 菜單欄與工具欄
2.4 選板
2.5 程序結構與子VI
2.5.1 創建子VI
2.5.2 調用子VI
2.6 運行與調試程序
第3章 數據格式
3.1 數值
3.2 布爾
3.3 字符串與路徑
3.4 數組
3.5 其他數據類型
3.6 錯誤輸入與輸出
3.7 MATLAB數據接口
第4章 循環與事件結構
4.1 循環
4.1.1 for循環
4.1.2 while循環
4.1.3 定時循環
4.2 事件結構
4.2.1 事件結構與while循環
4.2.2 條件結構、順序結構與程序框圖禁用結構
第5章 文件
5.1 寫入與讀取電子表格數據文件
5.2 寫入與讀取文本文件
5.3 文件的路徑設置
5.4 配置文件
5.4.1 寫配置文件
5.4.2 讀配置文件
第6章 畫圖與顯示
6.1 Express XY圖
6.2 屬性節點
6.3 強度圖
6.4 列表框
第7章 MAX與儀器驅動、接口
7.1 網絡接口與儀器控制
7.1.1 添加儀表地址
7.1.2 測試通信協議
7.2 GPIB接口與儀器控制
7.3 編寫基礎的儀表控制程序
7.4 調用動態鏈接庫函數
7.4.1 使用“調用庫函數節點”調用庫函數
7.4.2 使用“.NET”構造器調用庫函數
第8章 VI顯示設置與美化
8.1 VI屬性設置
8.1.1 常規
8.1.2 內存使用
8.1.3 編輯器選項
8.1.4 保護
8.1.5 窗口外觀
8.1.6 窗口大小
8.1.7 窗口運行時的位置
8.1.8 執行
8.2 使用工具選板的顏色
8.3 合理化使用修飾與窗格屬性
8.4 不同的前面板控件風格及對齊排布
第9章 程序代碼的保護
9.1 綁定計算機
9.2 使用硬件鎖
第10章 生成可執行與安裝程序
10.1 可執行程序
10.2 安裝程序
提高篇
第11章 天線測試系統采集軟件源碼解析
11.1 軟件要求與設計思路
11.1.1 軟件要求
11.1.2 設計思路
11.2 文件與儀器配置
11.3 源與RTC控制
11.3.1 測試頻率列表設置
11.3.2 網絡分析儀控制子VI的編寫
11.4 RTC控制編程
11.5 轉臺控制編程
11.6 掃描架控制編程
11.7 定點采集的實現
11.8 掃描設置
11.9 全局變量的傳遞
11.10 工程文件
11.10.1 保存配置文件
11.10.2 導入配置文件
11.11 近場測試
11.11.1 初始化測試參數
11.11.2 運行掃描架
11.11.3 實時采集顯示
11.11.4 位置實時顯示
11.12 遠場測試
11.13 退出軟件
11.14 修飾及美化
第12章 天線測試系統分析軟件源碼解析
12.1 軟件要求與設計思路
12.1.1 軟件要求
12.1.2 設計思路
12.2 文件與繪圖選擇
12.2.1 添加文件
12.2.2 添加繪圖數據
12.3 繪圖
12.3.1 切面圖
12.3.2 三維圖
12.3.3 強度圖
12.4 數據分析
12.4.1 副瓣電平分析
12.4.2 波束寬度
12.5 數據處理
12.5.1 圓極化合成
12.5.2 軸比處理
12.5.3 增益
高級篇
第13章 天線測試參數基本知識
13.1 電性能參數
13.1.1 方向圖
13.1.2 副瓣電平
13.1.3 半功率波束寬度
13.1.4 增益
13.1.5 極化
13.1.6 軸比
13.1.7 交叉極化隔離度
13.2 端口測試參數
13.2.1 輸入阻抗
13.2.2 電壓駐波比
13.2.3 反射系數
13.2.4 回波損耗
13.2.5 Open Short Load校準方法
第14章 天線測試系統認知
14.1 測試系統分類
14.1.1 近場
14.1.2 遠場
14.2 測試系統組成
14.2.1 信號源
14.2.2 接收機
14.2.3 轉臺與掃描架
14.2.4 系統多任務控制器
14.2.5 通用射頻器件
14.3 測試系統原理
14.3.1 內外混頻
14.3.2 鎖相環
14.3.3 觸發與掃頻
14.3.4 多波位自動測試
第15章 天線測試系統集成設計認知
15.1 測試系統設計
15.1.1 總體布局
15.1.2 鏈路設計
15.1.3 系統動態計算
15.1.4 控制設計
15.2 測試系統驗收
15.2.1 機械測量驗收
15.2.2 方向圖的驗收測試
參考文獻
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