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工業電子測試技術 版權信息
- ISBN：9787030786432
- 條形碼：9787030786432 ; 978-7-03-078643-2
- 裝幀：暫無
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>
工業電子測試技術 內容簡介
本書主要內容包括：工業電子測試技術基本概念、相關電氣及電子技術基礎知識、工業電子測試中可能使用到的傳感器、測試系統通訊接口及協議、測試系統接口、常用測試儀器、常用測試軟件、典型芯片及器件的測試方法。（1）構建了應用導向的科教融合創新課程體系。面向芯片測試產業，建立基于應用導向的科教融合專業課程體系以及質量監控方案，促進了供需對接和流程再造，縮小高校人才培養與芯片企業用人需求之間的差距；跟蹤芯片前沿動態，將企校合作的科研成果及時的反哺教學，更新教學內容和實踐體系，促進課程內容與技術發展銜接、教學過程與生產過程對接，人才培養與產業需求匹配，提升了芯片測試人才培養質量，形成科教互促的創新人才培養模式。（2）讓學生在培養過程中能接觸到芯片產業中當前正在使用的前沿技術，同時依托優質的實踐環境和工程級的專業技術指導進行實訓，從而培養出能直接承擔相關技術工作、實踐能力強、滿足企業實際需要的專業人才。
工業電子測試技術 目錄
目錄前言第1章 緒論11.1 電子測試技術概述11.1.1 電子測試技術簡介11.1.2 電子測量的內容11.1.3 電子測試儀器的分類21.1.4 電子測試技術的優點41.1.5 電子測試技術的應用現狀51.1.6 電子測試技術發展與趨勢51.2 電子測試方法及系統71.2.1 電子測試方法分類71.2.2 電子測試方法的選擇81.2.3 自動化電子測試系統81.3 實驗室認可標準101.3.1 校準實驗室能力認可101.3.2 中國計量認證：CMA國家計量認證111.3.3 實驗室CNAS認可和CMA資質認證的區別121.3.4 檢測報告標識：CNAS、CMA、CAL12參考文獻14第2章 電子測試技術基礎152.1 數字信號和模擬信號的測量152.1.1 數字信號的測量152.1.2 模擬信號的測量162.2 電子元器件的測試232.2.1 電子元器件分類232.2.2 電子元器件測試的特點242.3 集成電路測試242.3.1 數字集成電路概述252.3.2 數字集成電路測試272.4 測量誤差與數據處理312.4.1 測量誤差的基礎知識312.4.2 研究測量誤差的目的322.4.3 測量誤差的表示方法332.4.4 測量誤差的來源與分類342.4.5 系統誤差分析352.4.6 隨機誤差分析372.4.7 測量結果的置信度382.4.8 測量結果的表示和有效數字39參考文獻41第3章 傳感器423.1 概述423.1.1 傳感器的基本功能和分類423.1.2 工業測量中的常用傳感器433.2 無源傳感器443.2.1 電阻應變式傳感器443.2.2 電容式傳感器463.2.3 電感式傳感器473.3 有源傳感器503.3.1 壓電式傳感器503.3.2 磁電式傳感器523.3.3 光電傳感器553.4 新型傳感器563.4.1 氣敏傳感器563.4.2 微型傳感器58參考文獻59第4章 工業通信604.1 典型通信模型604.1.1 開放系統互連參考模型604.1.2 TCP/IP協議簇624.1.3 現場總線通信模型644.2 工業基礎通信總線664.2.1 RS-232總線664.2.2 RS-422/485總線684.2.3 I2C總線704.2.4 TTL總線714.3 板卡式通信總線714.3.1 PXI和PXIe總線714.3.2 VXI總線734.3.3 PCI和PCIe總線754.4 工業高級通信總線774.4.1 GPIB總線774.4.2 CAN總線794.4.3 LXI總線824.4.4 USB總線834.4.5 工業以太網844.5 無線通信854.5.1 藍牙技術854.5.2 ZigBee技術864.5.3 Wi-Fi技術874.5.4 LoRa技術87參考文獻88第5章 測試接口905.1 探針905.1.1 測試探針結構905.1.2 探針臺結構915.2 連接器接口935.2.1 連接器的選用935.2.2 普通單雙排插針965.2.3 普通單雙排插座975.2.4 其他插針插座985.2.5 線對板連接器1005.2.6 USB接口1025.2.7 其他類型連接器1045.3 通信線纜1065.3.1 雙絞線的分類及特點1065.3.2 同軸線的分類及特點1075.3.3 光纖的分類及特點1085.4 3D打印技術1105.4.1 3D打印技術介紹1105.4.2 3D打印流程1115.4.3 3D打印建模軟件1125.4.4 模型要求113參考文獻116第6章 電子測試儀器1176.1 測試信號輸出儀器1176.1.1 電源1176.1.2 信號發生器1196.2 專用測試儀器1216.2.1 邏輯分析儀1216.2.2 虛擬儀器1236.3 頻域測試儀器1266.3.1 頻譜分析儀1266.3.2 網絡分析儀1276.4 時域測試儀器1306.4.1 數字萬用表1306.4.2 示波器134參考文獻141第7章 測試應用軟件1427.1 虛擬儀器與LabVIEW1427.1.1 虛擬儀器簡介1427.1.2 LabVIEW簡介1427.1.3 LabVIEW安裝與使用1437.1.4 LabVIEW操作選板1447.1.5 創建VI1457.1.6 VI調試與錯誤分析1477.2 數據結構1497.2.1 布爾型1497.2.2 數值型1507.2.3 字符串1517.2.4 下拉列表與枚舉1527.2.5 數組1537.2.6 簇1537.2.7 列表框與表格1547.2.8 波形1547.3 基本程序結構1557.3.1 順序結構1557.3.2 條件結構1557.3.3 循環結構1577.3.4 事件結構1597.3.5 禁用結構1607.3.6 變量1607.4 常用函數1627.4.1 布爾函數1627.4.2 數值運算1627.4.3 比較函數1637.4.4 數組函數1657.4.5 簇函數1707.4.6 定時函數1717.4.7 對話框1717.4.8 文件處理函數1727.4.9 報表生成函數1767.5 數字波形處理1767.5.1 波形生成1767.5.2 波形調理1787.5.3 波形測量1797.5.4 波形存取1807.6 LabVIEW通信1837.6.1 串行通信1837.6.2 GPIB通信1847.6.3 網絡通信1847.7 應用框架1867.7.1 事件型通用應用程序1867.7.2 枚舉型狀態機1877.7.3 隊列型狀態機1887.7.4 生成可執行文件1897.7.5 制作安裝包192參考文獻195第8章 可測性設計1968.1 可測性設計的意義1968.2 芯片的可測性設計1968.2.1 芯片可測性設計的必要性1968.2.2 JTAG邊界掃描技術1978.3 PCBA的可測性設計1998.3.1 PCBA可測性設計的必要性1998.3.2 PCB可測性布板工藝2008.3.3 PCBA電氣性能可測試性設計要點201參考文獻202第9章 測試及試驗2049.1 基本電性能測試2049.1.1 電性能測試目的2049.1.2 電性能測試意義2079.1.3 典型電性能測試環境2079.2 老化試驗2109.2.1 老化試驗目的2109.2.2 老化試驗意義2109.2.3 典型老化試驗環境2119.3 安規試驗方案2139.3.1 安規試驗目的2139.3.2 安規試驗意義2149.3.3 典型安規試驗環境2159.4 環境試驗方案2189.4.1 環境試驗目的2189.4.2 環境試驗范圍2199.4.3 典型環境試驗環境221參考文獻222
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