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集成電路測試指南 版權(quán)信息
- ISBN：9787111683926
- 條形碼：9787111683926 ; 978-7-111-68392-6
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊數(shù)：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
集成電路測試指南 本書特色
將芯片測試原理與工程實踐相結(jié)合，涵蓋數(shù)字、模擬、混合和電源管理等各類主流芯片測試方法，入門**參考書
集成電路測試指南 內(nèi)容簡介
作者通過分享自身經(jīng)驗，為讀者提供一本以工程實踐為主的集成電路測試參考書。本書分為五篇共10章節(jié)來介紹實際芯片驗證及量產(chǎn)中半導體集成電路測試的概念和知識。篇由章和第2章組成，從測試流程和測試相關設備開始，力圖使讀者對于集成電路測試有一個整體的概念。第二篇由第3~5章組成，主要講解半導體集成電路的自動測試原理。第三篇開始進入工程實踐部分，本篇由第6章的集成運算放大器芯片和第7章的電源管理芯片測試原理及實現(xiàn)方法等內(nèi)容構(gòu)成。通過本篇的學習，讀者可以掌握一般模擬芯片的測試方法。第四篇為數(shù)字集成電路的具體實踐。我們選取了市場上應用需求量大的存儲芯片（第8章）和微控制器芯片（第9章），為讀者講述其測試項目和相關測試資源的使用方法。第五篇即0章節(jié)，使讀者了解混合信號測試的實現(xiàn)方式，為后續(xù)的進階打下一個堅實的基礎。本書主要的受眾是想要或即將成為集成電路測試工程師的讀者，我們假設讀者已經(jīng)學習過相應的基礎課程，主要包括電路分析、模擬電子技術、數(shù)字電子技術、信號與系統(tǒng)、數(shù)字信號處理以及計算機程序設計語言。通過本書的學習，讀者將對半導體集成電路測試有一個總體的概念，并可以掌握能直接應用到工作中的實戰(zhàn)技術，并借此以“術”入“道”。對于已經(jīng)從事半導體集成電路測試的工程技術人員、集成電路產(chǎn)品工程師、設計工程師，本書也具有一定的參考意義。
集成電路測試指南 目錄
序一
序二
序三
前言
**篇 集成電路測試及測試系統(tǒng)簡介
第1章 集成電路測試簡介
1．1 集成電路測試的分類
1．1．1 集成電路測試分類
1．1．2 CP測試流程及設備
1．1．3 FT測試流程及設備
1．2 IC測試項目
1．3 產(chǎn)品手冊與測試計劃
1．3．1 產(chǎn)品手冊
1．3．2 測試計劃
1．4 測試程序
1．4．1 測試程序的分類
1．4．2 量產(chǎn)測試程序的流程
1．4．3 分類篩選
第2章 集成電路測試系統(tǒng)
2．1 模擬IC測試系統(tǒng)
2．2 數(shù)字IC測試系統(tǒng)
2．2．1 數(shù)字測試系統(tǒng)的組成
2．2．2 PMU的原理與參數(shù)設置
2．2．3 引腳電路的組成和原理
2．3 混合IC測試系統(tǒng)
2．3．1 模擬子系統(tǒng)與數(shù)字子系統(tǒng)
2．3．2 測試同步
2．4 ST2500高性能數(shù)模混合測試系統(tǒng)
2．4．1 ST2500硬件資源
2．4．2 環(huán)境要求
2．5 ST-IDE軟件系統(tǒng)
2．5．1 ST-IDE軟件界面
2．5．2 基于ST-IDE的測試程序開發(fā)流程
2．5．3 工廠界面
2．6 集成電路測試工程師實訓平臺
2．6．1 實驗產(chǎn)品
2．6．2 教學實驗板的使用
第二篇 集成電路基本測試原理
第3章 直流及參數(shù)測試
3．1 開短路測試
3．1．1 開短路測試的目的和原理
3．1．2 開短路測試的方法
3．1．3 開短路的串行與并行測試
3．2 漏電流測試
3．2．1 漏電流測試的目的
3．2．2 漏電流測試方法
3．2．3 漏電流測試的串行與并行
3．3 電源電流測試
3．3．1 電源電流測試的目的
3．3．2 IDD測試方法
3．4 直流偏置與增益測試
3．4．1 輸入偏置電壓測試
3．4．2 輸出偏置電壓
3．4．3 增益測試
3．5 輸出穩(wěn)壓測試
3．6 數(shù)字電路輸入電平與輸出電平測試
3．6．1 輸入電平（VILIVIH）測試
3．6．2 輸出高電平（VOHIIOH）測試
3．6．3 輸出低電平（VOLIIOL）測試
3．6．4 輸出電平的功能測試方法
第4章 數(shù)字電路功能及交流參數(shù)測試
4．1 測試向量
4．2 時序的設定
4．2．1 時序的基本概念
4．2．2 定義時序與波形格式
4．3 引腳電平的設定
4．4 動態(tài)負載測量開短路
第5章 混合信號測試基礎
……
第三篇 模擬集成電路測試與實踐
第四篇 數(shù)字集成電路測試與實踐
第五篇 混合集成電路測試與實踐
推薦閱讀
附錄 技術術語中英文對照表
序二
序三
前言
**篇 集成電路測試及測試系統(tǒng)簡介
第1章 集成電路測試簡介
1．1 集成電路測試的分類
1．1．1 集成電路測試分類
1．1．2 CP測試流程及設備
1．1．3 FT測試流程及設備
1．2 IC測試項目
1．3 產(chǎn)品手冊與測試計劃
1．3．1 產(chǎn)品手冊
1．3．2 測試計劃
1．4 測試程序
1．4．1 測試程序的分類
1．4．2 量產(chǎn)測試程序的流程
1．4．3 分類篩選
第2章 集成電路測試系統(tǒng)
2．1 模擬IC測試系統(tǒng)
2．2 數(shù)字IC測試系統(tǒng)
2．2．1 數(shù)字測試系統(tǒng)的組成
2．2．2 PMU的原理與參數(shù)設置
2．2．3 引腳電路的組成和原理
2．3 混合IC測試系統(tǒng)
2．3．1 模擬子系統(tǒng)與數(shù)字子系統(tǒng)
2．3．2 測試同步
2．4 ST2500高性能數(shù)模混合測試系統(tǒng)
2．4．1 ST2500硬件資源
2．4．2 環(huán)境要求
2．5 ST-IDE軟件系統(tǒng)
2．5．1 ST-IDE軟件界面
2．5．2 基于ST-IDE的測試程序開發(fā)流程
2．5．3 工廠界面
2．6 集成電路測試工程師實訓平臺
2．6．1 實驗產(chǎn)品
2．6．2 教學實驗板的使用
第二篇 集成電路基本測試原理
第3章 直流及參數(shù)測試
3．1 開短路測試
3．1．1 開短路測試的目的和原理
3．1．2 開短路測試的方法
3．1．3 開短路的串行與并行測試
3．2 漏電流測試
3．2．1 漏電流測試的目的
3．2．2 漏電流測試方法
3．2．3 漏電流測試的串行與并行
3．3 電源電流測試
3．3．1 電源電流測試的目的
3．3．2 IDD測試方法
3．4 直流偏置與增益測試
3．4．1 輸入偏置電壓測試
3．4．2 輸出偏置電壓
3．4．3 增益測試
3．5 輸出穩(wěn)壓測試
3．6 數(shù)字電路輸入電平與輸出電平測試
3．6．1 輸入電平（VILIVIH）測試
3．6．2 輸出高電平（VOHIIOH）測試
3．6．3 輸出低電平（VOLIIOL）測試
3．6．4 輸出電平的功能測試方法
第4章 數(shù)字電路功能及交流參數(shù)測試
4．1 測試向量
4．2 時序的設定
4．2．1 時序的基本概念
4．2．2 定義時序與波形格式
4．3 引腳電平的設定
4．4 動態(tài)負載測量開短路
第5章 混合信號測試基礎
……
第三篇 模擬集成電路測試與實踐
第四篇 數(shù)字集成電路測試與實踐
第五篇 混合集成電路測試與實踐
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附錄 技術術語中英文對照表
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集成電路測試指南 作者簡介
加速科技，以FPGA設計、高速通信技術、高性能數(shù)字信號處理技術、高精度模擬技術為基礎，將相關技術應用于半導體測試領域，是業(yè)界領先的數(shù)模混合信號測試設備提供商。公司推出國內(nèi)**自主研發(fā)的250Mbps及以上高性能數(shù)模混合信號測試系統(tǒng)解決方案，實現(xiàn)了國產(chǎn)替代，推動國產(chǎn)數(shù)字測試系統(tǒng)邁上新臺階，助力中國芯。加速科技團隊是一支年輕、富有激情的團隊，具有扎實的技術功底。團隊成員秉承以客戶為本的宗旨，以成就客戶為己任，力圖在半導體測試領域為中國芯片事業(yè)貢獻力量。
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