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集成電路設計與集成系統(tǒng)--數(shù)字集成電路測試及可測性設計 版權信息
- ISBN：9787122465535
- 條形碼：9787122465535 ; 978-7-122-46553-5
- 裝幀：平裝
- 冊數(shù)：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
集成電路設計與集成系統(tǒng)--數(shù)字集成電路測試及可測性設計 內容簡介
本書從數(shù)字集成電路測試與可測性設計的基本概念出發(fā)，系統(tǒng)介紹了數(shù)字集成電路測試的概念、原理及方法。主要內容包括：數(shù)字集成電路測試基礎、測試向量生成、可測性設計與掃描測試、邊界掃描測試、內建自測試、存儲器測試，以及可測性設計案例及分析。 本書將理論與實踐相融合，深入淺出地進行理論講解，并輔以實例解析，幫助讀者從入門級別的理解到信手拈來的精通，實現(xiàn)從理論知識到工程應用的有效過渡。 本書可作為高等院校集成電路設計與集成系統(tǒng)等專業(yè)的教材，也可供集成電路及相關行業(yè)的工程技術人員參考。
集成電路設計與集成系統(tǒng)--數(shù)字集成電路測試及可測性設計 目錄
第1章 緒論 001
1.1 電路測試的意義 001
1.2 電路測試的分類及基本方法 005
1.2.1 電路測試分類 005
1.2.2 電路測試基本方法 007
1.3 自動測試設備 009
習題 010第2章 數(shù)字集成電路測試基礎 011
2.1 缺陷、錯誤和故障 011
2.1.1 缺陷、錯誤 011
2.1.2 故障 012
2.1.3 常用故障模型 013
2.1.4 單固定故障 014
2.2 單固定故障精簡 018
2.2.1 故障等效 018
2.2.2 故障支配 020
2.2.3 *小故障集精簡 021
2.2.4 測試向量生成舉例 023
2.3 多固定故障 024
2.4 故障淹沒 024
習題 025第3章 測試向量生成 027
3.1 自動測試向量生成 027
3.1.1 布爾差分法 028
3.1.2 路徑敏化法 030
3.2 隨機測試向量生成 036
3.2.1 純隨機測試向量生成 036
3.2.2 偽隨機測試向量生成 037
3.3 模擬 042
3.3.1 驗證、模擬與仿真 042
3.3.2 邏輯模擬 044
3.3.3 故障模擬 045
3.4 實例 050
3.4.1 自動測試向量生成EDA工具 050
3.4.2 自動測試向量生成實例 052
3.4.3 邏輯模擬與故障模擬實例 068
3.4.4 偽隨機測試向量生成電路實例 073
3.4.5 TetraMAX工具腳本 075
習題 075第4章 可測性設計與掃描測試 078
4.1 可測性設計分析 078
4.1.1 可測性分析 078
4.1.2 電路測試問題 079
4.2 掃描測試設計 083
4.3 全掃描設計 088
4.3.1 掃描路徑測試 088
4.3.2 掃描測試計算 089
4.3.3 掃描測試舉例 091
4.4 基于EDA工具的掃描設計 092
4.5 實例 094
4.5.1 掃描鏈插入EDA工具 094
4.5.2 掃描鏈插入實例 095
4.5.3 DFT Compiler工具腳本 101
習題 102第5章 邊界掃描測試 104
5.1 邊界掃描基礎 104
5.2 邊界掃描結構 105
5.2.1 測試訪問端口 108
5.2.2 數(shù)據(jù)寄存器 109
5.2.3 指令寄存器 112
5.2.4 指令 113
5.2.5 TAP控制器及操作 116
5.2.6 邊界掃描鏈結構 122
5.3 邊界掃描描述語言 123
5.4 實例 132
5.4.1 TAP控制器的硬件描述 132
5.4.2 累加器的邊界掃描描述 135
習題 138第6章 內建自測試 139
6.1 內建自測試概念 139
6.1.1 內建自測試類型 142
6.1.2 內建自測試向量生成 143
6.2 響應數(shù)據(jù)分析 143
6.2.1 數(shù)“1”法 144
6.2.2 跳變計數(shù)法 144
6.2.3 奇偶校驗法 144
6.2.4 簽名分析法 145
6.3 內建自測試結構 149
6.3.1 按時鐘測試BIST系統(tǒng) 149
6.3.2 按掃描測試BIST系統(tǒng) 150
6.3.3 循環(huán)BIST系統(tǒng) 150
6.3.4 內建邏輯塊觀察器 150
6.3.5 隨機測試塊 152
6.4 實例 153
6.4.1 內建自測試電路設計 153
6.4.2 多輸入簽名分析電路設計 157
習題 158第7章 存儲器測試 161
7.1 存儲器結構 161
7.2 存儲器故障模型 163
7.3 存儲器測試算法 165
7.3.1 MSCAN測試算法 166
7.3.2 GALPAT測試算法 166
7.3.3 其他測試算法 167
7.4 存儲器測試方法 173
7.4.1 存儲器直接存取測試 173
7.4.2 存儲器內建自測試 173
7.4.3 宏測試 175
7.5 存儲器修復 176
7.6 實例 176
習題 186參考文獻 190
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集成電路設計與集成系統(tǒng)--數(shù)字集成電路測試及可測性設計 作者簡介
張曉旭，大連東軟信息學院教師。曾任職于松下電器軟件開發(fā)（大連）有限公司，擔任半導體開發(fā)部門工程師，主要負責集成電路設計、驗證、測試等工作。2016年9月至今，任職于大連東軟信息學院，擔任集成電路設計與集成系統(tǒng)專業(yè)教師。參與省級縱向項目2項，市級縱向項目1項。參與橫向項目10項。參與發(fā)明專利1項，實用新型專利1項。指導學生參與專業(yè)競賽，多次獲得省三以上獎勵，獲全國大學生集成電路創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)大賽一等獎。
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