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材料研究方法 版權(quán)信息
- ISBN：9787122454706
- 條形碼：9787122454706 ; 978-7-122-45470-6
- 裝幀：平裝
- 冊數(shù)：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
材料研究方法 內(nèi)容簡介
《材料研究方法》是高等學(xué)校材料類專業(yè)的核心課程之一。本教材內(nèi)容安排體現(xiàn)對人才四方面能力的培養(yǎng)：采用科學(xué)方法研究的能力、了解現(xiàn)代工具的工作原理和使用方法的能力、針對性選擇使用現(xiàn)代工具的能力、與同行溝通交流的能力。本書主要內(nèi)容包括金相顯微分析、X射線分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析、掃描探針顯微分析五篇17章，設(shè)立專門的章節(jié)對同步輻射X射線斷層掃描技術(shù)、單晶材料的取向與應(yīng)力問題、電子背散射衍射技術(shù)、原位透射電子顯微鏡技術(shù)、掃描探針顯微技術(shù)進(jìn)行介紹，并穿插數(shù)據(jù)分析軟件的介紹，提高實用性。在表達(dá)形式上，注重對重點問題詳細(xì)討論，對容易出錯的概念深入剖析，對容易混淆的概念逐一對比。為提高可讀性和啟發(fā)性，本教材穿插介紹科學(xué)史上的典型發(fā)現(xiàn)、發(fā)明故事，融入中國傳統(tǒng)文化、西遷精神等課堂思政內(nèi)容。本書既適合作為高等學(xué)校材料類專業(yè)本科、研究生的教材，也可為機械、能源動力、電子、電氣、航空航天等工科專業(yè)的學(xué)生提供幫助與參考。
材料研究方法 目錄
**篇金相顯微分析
第1章光學(xué)顯微鏡 2
1.1成像方式 2
1.2成像的關(guān)鍵要素 3
1.3顯微鏡的分辨率 5
1.4景深和焦深 8
習(xí)題 10
第二篇X射線分析
第2章晶體學(xué)基礎(chǔ) 12
2.1晶體的定義與特征 12
2.2對稱性 14
2.3點陣和基元 15
2.4晶系 19
2.5布拉菲格子 21
2.6晶向 23
2.7晶面 24
習(xí)題 27 第3章X射線簡介 28
3.1X射線的本質(zhì) 28
3.2X射線的產(chǎn)生 29
3.3X射線的吸收 32
3.4X射線的探測 35
3.5X射線的應(yīng)用 36
習(xí)題 38 第4章X射線斷層掃描 39
4.1X射線斷層掃描基本原理 39
4.2X射線斷層掃描術(shù)的衍射襯度 46
習(xí)題 50 第5章X射線衍射的方向 51
5.1布拉格定律 51
5.2勞厄方程 53
5.3埃瓦爾德球 56
5.4三種典型的衍射方法 59
習(xí)題 63 第6章X射線衍射的強度 64
6.1X射線與孤立電子的相互作用 64
6.2X射線在單原子上的散射 67
6.3X射線在單個晶胞上的散射 68
6.4結(jié)構(gòu)因子與消光條件 71
6.5德拜衍射峰的相對強度 74
6.6小結(jié) 79
習(xí)題 80 第7章多晶殘余應(yīng)力的X射線衍射測量 81
7.1殘余應(yīng)力的分類 81
7.2單軸應(yīng)力的測量 82
7.3平面應(yīng)力的測量 84
7.4 衍射角的選擇及誤差分析 88
習(xí)題 90 第8章同步輻射微束勞厄衍射 91
8.1實驗裝置及方法 91
8.2衍射譜的解析 92
8.3單晶取向的表達(dá) 94
8.4取向差的計算與晶界的表征 95
8.5單晶應(yīng)力應(yīng)變的測量 97
8.6案例：固態(tài)電解質(zhì)的應(yīng)變演化 100
習(xí)題 102
第三篇透射電子顯微分析
第9章電子光學(xué)及透射電子顯微鏡 104
9.1電子光學(xué)原理簡述 104
9.2電子波與電磁透鏡 110
9.3電磁透鏡的像差與分辨率 113
9.4電磁透鏡的景深和焦長 118
9.5透射電鏡的結(jié)構(gòu)及成像原理 119
9.6透射電鏡的主要部件及工作原理 123
9.7透射電子顯微鏡成像的分辨率 133
9.8透射電鏡樣品的制備 136
習(xí)題 143 第10章電子衍射 144
10.1電子衍射基本原理 144
10.2透射電鏡中的電子衍射 152
10.3單晶電子衍射花樣標(biāo)定 156
10.4復(fù)雜電子衍射花樣 159
10.5微束電子衍射 161
習(xí)題 163 第11章透射電子顯微成像 164
11.1襯度及其分類 164
11.2衍射運動學(xué)簡介 169
11.3衍射動力學(xué)簡介 173
11.4典型的襯度 176
11.5晶體缺陷分析 181
習(xí)題 187 第12章高分辨透射電子顯微成像 188
12.1高分辨透射電子顯微成像的原理 188
12.2HRTEM圖像模擬、處理與定量分析 193
12.3HRTEM分析晶體缺陷結(jié)構(gòu)實例 201
習(xí)題 207
第四篇掃描電子顯微分析
第13章掃描電子顯微鏡成像 209
13.1掃描電鏡的基本原理 209
13.2掃描電鏡的結(jié)構(gòu) 211
13.3掃描電鏡的信號來源 214
13.4掃描電鏡的分辨率 217
13.5掃描電鏡成像的襯度 223
習(xí)題 226 第14章能譜與波譜 227
14.1基本原理 227
14.2能譜儀與波譜儀的設(shè)備特點 229
14.3能譜儀與波譜儀的性能對比 233
習(xí)題 235 第15章電子背散射衍射 236
15.1基本原理：菊池線與菊池譜 236
15.2實驗 238
15.3菊池譜標(biāo)定 239
15.4數(shù)據(jù)解讀 240
15.5XtalCAMP軟件簡介 243
15.6電子背散射衍射應(yīng)用舉例 248
習(xí)題 251
第五篇掃描探針顯微分析
第16章掃描隧道顯微鏡 253
16.1掃描隧道顯微鏡原理 253
16.2掃描隧道顯微鏡設(shè)備 254
16.3掃描隧道顯微鏡的應(yīng)用 257
習(xí)題 260 第17章原子力顯微鏡 261
17.1原子力顯微鏡成像原理 261
17.2原子力顯微鏡設(shè)備與工作模式 262
17.3原子力顯微鏡的應(yīng)用及拓展 264
習(xí)題 267
參考文獻(xiàn)
第1章光學(xué)顯微鏡 2
1.1成像方式 2
1.2成像的關(guān)鍵要素 3
1.3顯微鏡的分辨率 5
1.4景深和焦深 8
習(xí)題 10
第二篇X射線分析
第2章晶體學(xué)基礎(chǔ) 12
2.1晶體的定義與特征 12
2.2對稱性 14
2.3點陣和基元 15
2.4晶系 19
2.5布拉菲格子 21
2.6晶向 23
2.7晶面 24
習(xí)題 27 第3章X射線簡介 28
3.1X射線的本質(zhì) 28
3.2X射線的產(chǎn)生 29
3.3X射線的吸收 32
3.4X射線的探測 35
3.5X射線的應(yīng)用 36
習(xí)題 38 第4章X射線斷層掃描 39
4.1X射線斷層掃描基本原理 39
4.2X射線斷層掃描術(shù)的衍射襯度 46
習(xí)題 50 第5章X射線衍射的方向 51
5.1布拉格定律 51
5.2勞厄方程 53
5.3埃瓦爾德球 56
5.4三種典型的衍射方法 59
習(xí)題 63 第6章X射線衍射的強度 64
6.1X射線與孤立電子的相互作用 64
6.2X射線在單原子上的散射 67
6.3X射線在單個晶胞上的散射 68
6.4結(jié)構(gòu)因子與消光條件 71
6.5德拜衍射峰的相對強度 74
6.6小結(jié) 79
習(xí)題 80 第7章多晶殘余應(yīng)力的X射線衍射測量 81
7.1殘余應(yīng)力的分類 81
7.2單軸應(yīng)力的測量 82
7.3平面應(yīng)力的測量 84
7.4 衍射角的選擇及誤差分析 88
習(xí)題 90 第8章同步輻射微束勞厄衍射 91
8.1實驗裝置及方法 91
8.2衍射譜的解析 92
8.3單晶取向的表達(dá) 94
8.4取向差的計算與晶界的表征 95
8.5單晶應(yīng)力應(yīng)變的測量 97
8.6案例：固態(tài)電解質(zhì)的應(yīng)變演化 100
習(xí)題 102
第三篇透射電子顯微分析
第9章電子光學(xué)及透射電子顯微鏡 104
9.1電子光學(xué)原理簡述 104
9.2電子波與電磁透鏡 110
9.3電磁透鏡的像差與分辨率 113
9.4電磁透鏡的景深和焦長 118
9.5透射電鏡的結(jié)構(gòu)及成像原理 119
9.6透射電鏡的主要部件及工作原理 123
9.7透射電子顯微鏡成像的分辨率 133
9.8透射電鏡樣品的制備 136
習(xí)題 143 第10章電子衍射 144
10.1電子衍射基本原理 144
10.2透射電鏡中的電子衍射 152
10.3單晶電子衍射花樣標(biāo)定 156
10.4復(fù)雜電子衍射花樣 159
10.5微束電子衍射 161
習(xí)題 163 第11章透射電子顯微成像 164
11.1襯度及其分類 164
11.2衍射運動學(xué)簡介 169
11.3衍射動力學(xué)簡介 173
11.4典型的襯度 176
11.5晶體缺陷分析 181
習(xí)題 187 第12章高分辨透射電子顯微成像 188
12.1高分辨透射電子顯微成像的原理 188
12.2HRTEM圖像模擬、處理與定量分析 193
12.3HRTEM分析晶體缺陷結(jié)構(gòu)實例 201
習(xí)題 207
第四篇掃描電子顯微分析
第13章掃描電子顯微鏡成像 209
13.1掃描電鏡的基本原理 209
13.2掃描電鏡的結(jié)構(gòu) 211
13.3掃描電鏡的信號來源 214
13.4掃描電鏡的分辨率 217
13.5掃描電鏡成像的襯度 223
習(xí)題 226 第14章能譜與波譜 227
14.1基本原理 227
14.2能譜儀與波譜儀的設(shè)備特點 229
14.3能譜儀與波譜儀的性能對比 233
習(xí)題 235 第15章電子背散射衍射 236
15.1基本原理：菊池線與菊池譜 236
15.2實驗 238
15.3菊池譜標(biāo)定 239
15.4數(shù)據(jù)解讀 240
15.5XtalCAMP軟件簡介 243
15.6電子背散射衍射應(yīng)用舉例 248
習(xí)題 251
第五篇掃描探針顯微分析
第16章掃描隧道顯微鏡 253
16.1掃描隧道顯微鏡原理 253
16.2掃描隧道顯微鏡設(shè)備 254
16.3掃描隧道顯微鏡的應(yīng)用 257
習(xí)題 260 第17章原子力顯微鏡 261
17.1原子力顯微鏡成像原理 261
17.2原子力顯微鏡設(shè)備與工作模式 262
17.3原子力顯微鏡的應(yīng)用及拓展 264
習(xí)題 267
參考文獻(xiàn)
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材料研究方法 作者簡介
陳凱，西安交通大學(xué)教授，2005年于北京大學(xué)化學(xué)與分子工程學(xué)院獲得理學(xué)學(xué)士學(xué)位，2009年于美國加州大學(xué)洛杉磯分校獲得哲學(xué)博士學(xué)位，2007-2009年博士在讀期間獲得美國能源部資助，在美國勞倫斯伯克利國家實驗室先進(jìn)光源同步輻射實驗裝置擔(dān)任訪問研究助理，2009-2011年在加州大學(xué)伯克利分校和勞倫斯伯克利國家實驗室各進(jìn)行了為期一年的博士后研究工作。2011年8月加入西安交通大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院金屬材料強度國家重點實驗室，“新世紀(jì)人才”支持計劃。工作簡歷：2011.08 – 2016.09 西安交通大學(xué) 副教授2016.10 – 至今 西安交通大學(xué) 教 授研究領(lǐng)域方向：同步輻射微衍射技術(shù)的軟/硬件發(fā)展及在材料研究中的應(yīng)用科研項目：1、國家自然科學(xué)基金面上基金項目，51671154、裂變產(chǎn)物碲對鎳基合金微觀結(jié)構(gòu)及力學(xué)性能演化影響的研究、2017/01-2020/12、60萬元、在研、主持。2、國家重點研發(fā)計劃，2016YFB0700400、先進(jìn)材料多維多尺度高通量表征技術(shù)、2016/07-2021/06、2600萬元、在研、參與。3、國家重點基礎(chǔ)研究計劃（973計劃），2015CB057400、航空發(fā)動機運行安全基礎(chǔ)研究、2015/01-2019/08、3500萬元、在研、參與。4、國家自然科學(xué)基金青年基金項目，51302207、微納尺度VO2 的力致相變機制及力電耦合性能研究、2014/01- 2016/12、25萬元、已結(jié)題、主持。5、國家自然科學(xué)基金重點基金項目，11132006、亞微米尺度位錯主導(dǎo)的晶體材料力學(xué)行為研究、2012/01-2016/12、320萬元、已結(jié)題、參加。
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