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面向時(shí)空序列變形數(shù)據(jù)的高斯過程智能分析方法 版權(quán)信息
- ISBN：9787564651923
- 條形碼：9787564651923 ; 978-7-5646-5192-3
- 裝幀：平裝
- 冊(cè)數(shù)：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
面向時(shí)空序列變形數(shù)據(jù)的高斯過程智能分析方法 內(nèi)容簡(jiǎn)介
多傳感器集成系統(tǒng)獲取的數(shù)據(jù)主要有反映變形位移的幾何數(shù)據(jù)、觸發(fā)變形的物理量以及外界環(huán)境因素，呈現(xiàn)出高精度、實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)和連續(xù)的特點(diǎn)。與其他監(jiān)測(cè)系統(tǒng)相比，這類監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的時(shí)空采樣率大大提高，逐漸累積形成多源時(shí)空序列大數(shù)據(jù)集，蘊(yùn)藏著豐富的變形信息,而傳統(tǒng)的變形分析方法無法在線實(shí)時(shí)分析數(shù)據(jù)，不能滿足這類監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的需求。本書面向多源時(shí)空序列數(shù)據(jù)集，將高斯過程智能機(jī)器學(xué)習(xí)和現(xiàn)代測(cè)量數(shù)據(jù)處理進(jìn)行學(xué)科交叉融合，就變形監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)中的異常值提取、監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)時(shí)空插值、變形智能分析和預(yù)測(cè)、變形區(qū)域局部穩(wěn)定性分析等相關(guān)理論方法展開論述，并結(jié)合工程監(jiān)測(cè)案例進(jìn)行分析研究。本書可供從事變形監(jiān)測(cè)、環(huán)境災(zāi)害監(jiān)測(cè)、機(jī)器學(xué)習(xí)等相關(guān)學(xué)科的科研人員、高校教師和研究生參考。
面向時(shí)空序列變形數(shù)據(jù)的高斯過程智能分析方法 目錄
第1章 緒論
1.1 概述
1.2 變形監(jiān)測(cè)的主要內(nèi)容
1.3 本書內(nèi)容及結(jié)構(gòu)
第2章 變形監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)可靠性分析
2.1 概述
2.2 多維異常數(shù)據(jù)的定位和估值
2.3 FSE用于測(cè)量機(jī)器人觀測(cè)數(shù)據(jù)可靠性分析
2.4 FSE用于坐標(biāo)系統(tǒng)轉(zhuǎn)換參數(shù)可靠性求解
2.5 本章小結(jié)
第3章 高斯過程基礎(chǔ)理論和方法
3.1 概述
3.2 隨機(jī)過程與高斯過程
3.3 高斯過程回歸與分類
3.4 協(xié)方差函數(shù)及超參數(shù)求解
3.5 本章小結(jié)
第4章 面向時(shí)空序列數(shù)據(jù)的GP時(shí)空插值方法
4.1 概述
……
1.1 概述
1.2 變形監(jiān)測(cè)的主要內(nèi)容
1.3 本書內(nèi)容及結(jié)構(gòu)
第2章 變形監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)可靠性分析
2.1 概述
2.2 多維異常數(shù)據(jù)的定位和估值
2.3 FSE用于測(cè)量機(jī)器人觀測(cè)數(shù)據(jù)可靠性分析
2.4 FSE用于坐標(biāo)系統(tǒng)轉(zhuǎn)換參數(shù)可靠性求解
2.5 本章小結(jié)
第3章 高斯過程基礎(chǔ)理論和方法
3.1 概述
3.2 隨機(jī)過程與高斯過程
3.3 高斯過程回歸與分類
3.4 協(xié)方差函數(shù)及超參數(shù)求解
3.5 本章小結(jié)
第4章 面向時(shí)空序列數(shù)據(jù)的GP時(shí)空插值方法
4.1 概述
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