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現代分析測試方法與技術精要 版權信息
- ISBN：9787122451576
- 條形碼：9787122451576 ; 978-7-122-45157-6
- 裝幀：平裝
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>
現代分析測試方法與技術精要 本書特色
本書從必要的基礎理論知識和儀器結構與工作原理介紹入手，對儀器的技術性能特點、適用范圍、實驗技術作較為詳細的論述，并探討了測試影響因素和參數優化途徑，對測試中常見問題給出建議。 涵蓋光譜、色譜-質譜聯用、波譜、X射線等化學分析類儀器，和物性分析類儀器，以及電子光學類儀器等，期望對現代分析測試表征手段作較為全面的介紹。 光譜部分收入熒光/磷光光譜儀和激光拉曼光譜儀；色譜-質譜聯用分析儀部分討論了氣-質聯用儀和液-質聯用儀；波譜儀部分對高場核磁共振波譜儀和低場核磁共振波譜儀兩種波譜儀進行了較詳細的性能介紹并加以比較；X射線類儀器主要包括理論與技術都非常成熟的粉末X射線衍射儀、表面分析重要利器X射線光電子能譜儀和近年來在軟物質結構表征方面大展身手的小角X射線散射儀。物性分析方面儀器選擇了動態/靜態激光光散射儀、比表面和孔徑分布分析儀、化學吸附儀、旋轉流變儀、動態熱機械分析儀、熱重分析儀、差示掃描量熱儀，以應對物質材料物性多樣性的特點。電子顯微鏡是材料科學、生命科學等重要的表征工具，由低至高有多個分支。本書著重介紹透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡的基本結構、基礎知識以及基本技能，希望助力讀者由此進階更高端電鏡。
現代分析測試方法與技術精要 內容簡介
本書共分17章，對現代分析測試表征手段作了較為全面的介紹，覆蓋17個種類儀器，既包括光譜、色譜、質譜、波譜、X射線等化學分析類儀器，也有流變儀、熱分析、粒度分析、表界面物性測試等物性分析類儀器，同時還介紹了電子光學顯微鏡等。本書以儀器結構和工作原理入手，并提供必要的基礎知識，幫助讀者理解儀器的性能、了解相應的技術特點及適用范圍。 本書可作為高等院校化學、化工、材料科學與工程、食品科學與工程、紡織科學與工程、環境科學與工程等專業研究生和高年級本科生教材，也可供相關專業教師和科技工作者參考。
現代分析測試方法與技術精要 目錄
第1章 熒光/磷光光譜儀
1.1 基本概念 001
1.1.1 光致發光涉及的電子躍遷類型 001
1.1.2 分子電子激發的光物理過程—Jab?oński能級圖 004
1.2 分子發光的類型 007
1.2.1 熒光的類型 007
1.2.2 磷光的類型 011
1.3 熒光光譜的基本特征 012
1.3.1 熒光激發光譜和吸收光譜 012
1.3.2 熒光發射光譜 012
1.3.3 斯托克斯位移 013
1.4 熒光/磷光光譜儀組件與結構 013
1.4.1 激發光源 014
1.4.2 單色器和濾光片 015
1.4.3 檢測器 016
1.5 實驗技術 017
1.5.1 檢測條件的選擇和優化 017
1.5.2 熒光壽命的測定 019
1.5.3 熒光量子產率的測定 023
參考書目 025 第2章 激光拉曼光譜儀
2.1 拉曼光譜基礎知識 026
2.1.1 拉曼散射和拉曼位移 026
2.1.2 拉曼光譜產生的條件 028
2.1.3 拉曼光譜與紅外吸收光譜的比較 029
2.1.4 拉曼光譜的偏振與退偏比 031
2.2 激光拉曼光譜儀 032
2.2.1 拉曼光譜儀的主要構成 032
2.2.2 拉曼光譜儀檢測條件優化 035
2.2.3 熒光的抑制和消除方法 036
2.3 激光拉曼光譜技術 036
2.3.1 傅里葉變換拉曼光譜 036
2.3.2 顯微共焦拉曼光譜 037
2.3.3 拉曼光譜成像 038
2.3.4 偏振拉曼 039
2.3.5 表面增強拉曼光譜 039
參考書目 041 第3章 色譜-質譜聯用分析儀
3.1 儀器結構與工作原理 043
3.1.1 質譜法的基本原理 043
3.1.2 質譜儀基本結構 044
3.1.3 GC-MS儀器結構與技術要求 053
3.1.4 LC-MS儀器結構與技術要求 057
3.2 實驗技術 062
3.2.1 離子化方法的選擇 062
3.2.2 質量分析器的選擇 064
3.2.3 影響分辨率和靈敏度的操作條件 065
參考書目 067 第4章 高場核磁共振波譜儀
4.1 核磁共振基礎知識 068
4.1.1 原子核自旋現象與核磁共振產生 068
4.1.2 弛豫過程 071
4.1.3 化學位移 073
4.1.4 自旋-自旋耦合—J耦合效應 074
4.1.5 偶極耦合—核間奧氏效應 078
4.1.6 化學等價與磁等價 079
4.2 現代核磁共振波譜儀結構與工作原理 080
4.2.1 核磁共振信號的產生和檢測 080
4.2.2 調諧、鎖場、勻場技術 081
4.3 常用核磁共振實驗介紹 083
4.3.1 一維核磁共振譜 083
4.3.2 二維核磁共振譜 086
4.3.3 水峰抑制實驗 091
4.3.4 2D擴散排序譜 092
4.4 實驗前準備 093
4.5 數據的基本處理 095
4.5.1 傅里葉變換/相位調整/基線校正/峰位定標 095
4.5.2 MestReNova軟件簡介 096
參考書目 097 第5章 低場核磁共振波譜儀
5.1 低場核磁共振分析基本原理 098
5.1.1 自旋-晶格弛豫 099
5.1.2 自旋-自旋弛豫 100
5.2 低場核磁共振波譜儀結構與工作原理 101
5.2.1 儀器組成 101
5.2.2 工作原理 102
5.2.3 低場核磁共振波譜儀與高場核磁共振波譜儀的比較 105
5.3 實驗方法 107
5.3.1 儀器參數設置 107
5.3.2 數據處理 113
參考書目 114 第6章 動態/靜態激光光散射儀
6.1 動態/靜態光散射技術理論基礎 115
6.1.1 光散射現象及其分類 115
6.1.2 動態光散射技術 117
6.1.3 靜態光散射技術 119
6.2 儀器結構 120
6.3 實驗技術 121
6.3.1 實驗準備 121
6.3.2 樣品要求 123
6.3.3 測試中常見問題及解決方法 123
6.3.4 動態光散射數據分析 123
6.3.5 靜態光散射數據分析 125
6.4 光散射與凝膠滲透色譜/尺寸排阻色譜聯用 127
參考書目 128 第7章 粉末X射線衍射儀
7.1 X射線的產生與X射線的性質 129
7.1.1 X射線的產生 129
7.1.2 X射線的性質 131
7.2 X射線譜 132
7.2.1 連續X射線 132
7.2.2 特征X射線 133
7.3 X射線與物質間相互作用 136
7.3.1 X射線的散射 136
7.3.2 X射線的吸收 138
7.3.3 X射線的透射 140
7.4 晶體學基礎知識 141
7.4.1 晶體的特點 141
7.4.2 晶體點陣結構 143
7.4.3 晶體的空間群 147
7.4.4 晶面及晶面指數 149
7.4.5 倒易點陣 151
7.5 X射線衍射原理 152
7.5.1 勞厄方程 153
7.5.2 布拉格方程 154
7.5.3 晶胞中的原子分布與衍射強度的關系 155
7.6 粉末X射線衍射儀 157
7.6.1 定性分析 158
7.6.2 定量分析 159
7.6.3 晶粒尺寸計算 160
7.7 X射線晶體點陣常數精確測定 160
7.7.1 晶體點陣常數測定原理 160
7.7.2 Rietveld全譜擬合精修晶體結構法 161
7.7.3 晶體點陣常數測定的誤差與消除 162
7.8 實驗技術 163
7.8.1 樣品制備方法 163
7.8.2 樣品測試 163
7.9 XRD數據分析軟件與數據庫簡介 163
參考書目 164 第8章 X射線光電子能譜儀
8.1 X射線光電子能譜儀結構與工作原理 166
8.1.1 X射線光電子能譜儀結構 166
8.1.2 X射線光電子能譜儀工作原理 169
8.2 X射線光電子能譜圖及物質表面分析 172
8.2.1 X射線光電子能譜圖的譜線特點 173
8.2.2 X射線光電子能譜定性分析 176
8.2.3 X射線光電子能譜定量分析 177
8.2.4 X射線光電子能譜深度分析 179
8.3 實驗技術 181
8.3.1 樣品準備 181
8.3.2 樣品測試 182
8.3.3 XPS圖譜常用數據處理分析軟件 183
參考書目 184 第9章 小角X射線散射儀
9.1 小角X射線散射技術理論基礎 185
9.1.1 散射公式 185
9.1.2 Guinier定律 187
9.1.3 Porod定律 188
9.1.4 散射不變量 189
9.2 小角X射線散射儀結構 191
9.2.1 X射線光源 191
9.2.2 準直系統 193
9.2.3 樣品臺 193
9.2.4 探測器 194
9.3 實驗技術 196
9.3.1 樣品制備 196
9.3.2 測試條件與基本參數設定 197
9.4 應用-測定體系舉例 198
9.4.1 膠體分散體系 198
9.4.2 液晶體系 199
9.4.3 結晶取向聚合物體系 200
9.4.4 負載在基底上的聚合物體系 202
參考書目 203 第10章 比表面和孔徑分布分析儀
10.1 氣體物理吸附基礎知識 204
10.1.1 吸附現象與吸附作用 204
10.1.2 氣體物理吸附理論模型 205
10.1.3 吸附等溫線 208
10.2 比表面和孔徑分布分析儀結構與工作原理 211
10.3 吸附等溫線測定的影響因素 213
10.3.1 死體積 213
10.3.2 樣品的預處理（脫氣） 214
10.3.3 樣品的使用量 214
10.3.4 吸附質的確定 215
10.3.5 平衡時間的影響 216
10.3.6 液氮浴的溫度 216
10.4 數據分析—比表面積、孔容及孔徑分布 216
10.4.1 表面積的計算方法 217
10.4.2 孔體積和孔徑分布計算方法 218
10.5 測試過程中一些常見問題 225
參考書目 225 第11章 化學吸附儀
11.1 化學吸附分析的基本原理 227
11.1.1 化學吸附過程熱力學 228
11.1.2 化學吸附過程動力學及吸附模型 228
11.1.3 化學吸附位與分子吸附態 230
11.1.4 吸附速率和吸附活化能 230
11.2 化學吸附儀裝置組成 231
11.3 化學吸附儀的應用場景 232
11.3.1 程序升溫脫附技術 232
11.3.2 程序升溫還原技術 235
11.3.3 程序升溫氧化技術 237
11.3.4 程序升溫表面反應技術 238
11.3.5 脈沖吸附或反應 239
11.4 化學吸附儀使用的注意事項 243
參考書目 244 第12章 透射電子顯微鏡
12.1 電子顯微分析基礎知識（Ⅰ） 245
12.1.1 電磁透鏡 245
12.1.2 光闌 246
12.1.3 景深 247
12.1.4 像差 248
12.1.5 分辨率 249
12.2 透射電子顯微鏡鏡筒結構及性能 250
12.2.1 TEM基本部件 251
12.2.2 主要附件 253
12.3 透射電子顯微鏡圖像襯度來源 254
12.3.1 質厚襯度 255
12.3.2 衍射襯度 256
12.3.3 相位襯度 257
12.4 透射電子顯微鏡電子衍射 257
12.4.1 電子衍射的條件 258
12.4.2 相機常數 259
12.4.3 TEM衍射花樣標定與常見晶體衍射花樣特征 261
12.4.4 電子衍射法與X射線衍射法晶體分析比較 262
12.5 實驗技術 263
12.5.1 透射電子顯微鏡的基本操作模式 263
12.5.2 透射電子顯微鏡樣品制備 265
12.6 透射電子顯微鏡與電子能量損失譜儀聯用 267
參考書目 267 第13章 掃描電子顯微鏡
13.1 電子顯微分析基礎知識（Ⅱ） 268
13.1.1 電子散射 268
13.1.2 高能電子激發作用 269
13.2 掃描電子顯微鏡結構與成像原理 271
13.2.1 鏡筒 272
13.2.2 掃描系統 273
13.2.3 信號檢測和放大系統 274
13.2.4 圖像顯示與記錄系統 275
13.3 掃描電子顯微鏡的主要性能 275
13.3.1 分辨率和放大倍數 275
13.3.2 景深 276
13.4 掃描電子顯微鏡圖像襯度來源 276
13.4.1 表面形貌襯度 277
13.4.2 成分襯度 278
13.5 掃描電子顯微鏡樣品制備 279
13.6 掃描電子顯微鏡操作主要環節 281
13.6.1 加速電壓值的設置 281
13.6.2 電子光學系統合軸 282
13.6.3 聚焦與消像散 282
13.6.4 掃描電子顯微鏡探頭的選擇 283
13.6.5 工作距離和樣品臺傾斜 284
13.6.6 圖像觀察與記錄 285
13.7 掃描電子顯微鏡與X射線能譜儀聯用 286
13.7.1 X射線能譜儀構成 286
13.7.2 與X射線能譜儀聯用 287
參考書目 289 第14章 熱重分析儀
14.1 儀器結構及工作原理 290
14.1.1 儀器結構 290
14.1.2 TGA基本原理 294
14.2 實驗技術 294
14.2.1 樣品的制備 294
14.2.2 儀器的校準 295
14.2.3 測試影響因素 296
14.2.4 數據處理 298
參考書目 300 第15章 差示掃描量熱儀
15.1 儀器結構和工作原理 301
15.2 實驗技術 303
15.2.1 樣品的制備 303
15.2.2 儀器的校準 304
15.2.3 測試影響因素 305
15.2.4 數據處理 307
參考書目 309 第16章 旋轉流變儀
16.1 流變學基礎知識 310
16.1.1 幾個流變學指標定義 310
16.1.2 流體的分類 313
16.1.3 材料的黏彈性 314
16.1.4 時溫等效原理 314
16.2 旋轉流變儀結構及工作原理 315
16.2.1 旋轉流變儀結構 315
16.2.2 旋轉流變儀的工作原理 315
16.3 實驗技術 316
16.3.1 樣品的準備 316
16.3.2 測試夾具的選擇 318
16.3.3 測量模式 322
16.3.4 測試影響因素 326
16.4 數據處理—幾種分析模型 327
16.4.1 Ostwald（或Power Law）模型 327
16.4.2 Bingham模型 328
16.4.3 Herschel-Bulkley模型 328
16.4.4 Carreau-Yasuda模型 329
參考書目 329 第17章 動態熱機械分析儀
17.1 動態熱機械分析儀結構及工作原理 330
17.1.1 動態熱機械分析儀結構 330
17.1.2 儲能模量、損耗模量、復合模量及損耗因子 331
17.1.3 動態熱機械分析儀的工作原理 332
17.2 實驗技術 333
17.2.1 樣品的制備 333
17.2.2 夾具的選擇 334
17.2.3 測量模式 336
17.2.4 測試影響因素 339
參考書目 340
1.1 基本概念 001
1.1.1 光致發光涉及的電子躍遷類型 001
1.1.2 分子電子激發的光物理過程—Jab?oński能級圖 004
1.2 分子發光的類型 007
1.2.1 熒光的類型 007
1.2.2 磷光的類型 011
1.3 熒光光譜的基本特征 012
1.3.1 熒光激發光譜和吸收光譜 012
1.3.2 熒光發射光譜 012
1.3.3 斯托克斯位移 013
1.4 熒光/磷光光譜儀組件與結構 013
1.4.1 激發光源 014
1.4.2 單色器和濾光片 015
1.4.3 檢測器 016
1.5 實驗技術 017
1.5.1 檢測條件的選擇和優化 017
1.5.2 熒光壽命的測定 019
1.5.3 熒光量子產率的測定 023
參考書目 025 第2章 激光拉曼光譜儀
2.1 拉曼光譜基礎知識 026
2.1.1 拉曼散射和拉曼位移 026
2.1.2 拉曼光譜產生的條件 028
2.1.3 拉曼光譜與紅外吸收光譜的比較 029
2.1.4 拉曼光譜的偏振與退偏比 031
2.2 激光拉曼光譜儀 032
2.2.1 拉曼光譜儀的主要構成 032
2.2.2 拉曼光譜儀檢測條件優化 035
2.2.3 熒光的抑制和消除方法 036
2.3 激光拉曼光譜技術 036
2.3.1 傅里葉變換拉曼光譜 036
2.3.2 顯微共焦拉曼光譜 037
2.3.3 拉曼光譜成像 038
2.3.4 偏振拉曼 039
2.3.5 表面增強拉曼光譜 039
參考書目 041 第3章 色譜-質譜聯用分析儀
3.1 儀器結構與工作原理 043
3.1.1 質譜法的基本原理 043
3.1.2 質譜儀基本結構 044
3.1.3 GC-MS儀器結構與技術要求 053
3.1.4 LC-MS儀器結構與技術要求 057
3.2 實驗技術 062
3.2.1 離子化方法的選擇 062
3.2.2 質量分析器的選擇 064
3.2.3 影響分辨率和靈敏度的操作條件 065
參考書目 067 第4章 高場核磁共振波譜儀
4.1 核磁共振基礎知識 068
4.1.1 原子核自旋現象與核磁共振產生 068
4.1.2 弛豫過程 071
4.1.3 化學位移 073
4.1.4 自旋-自旋耦合—J耦合效應 074
4.1.5 偶極耦合—核間奧氏效應 078
4.1.6 化學等價與磁等價 079
4.2 現代核磁共振波譜儀結構與工作原理 080
4.2.1 核磁共振信號的產生和檢測 080
4.2.2 調諧、鎖場、勻場技術 081
4.3 常用核磁共振實驗介紹 083
4.3.1 一維核磁共振譜 083
4.3.2 二維核磁共振譜 086
4.3.3 水峰抑制實驗 091
4.3.4 2D擴散排序譜 092
4.4 實驗前準備 093
4.5 數據的基本處理 095
4.5.1 傅里葉變換/相位調整/基線校正/峰位定標 095
4.5.2 MestReNova軟件簡介 096
參考書目 097 第5章 低場核磁共振波譜儀
5.1 低場核磁共振分析基本原理 098
5.1.1 自旋-晶格弛豫 099
5.1.2 自旋-自旋弛豫 100
5.2 低場核磁共振波譜儀結構與工作原理 101
5.2.1 儀器組成 101
5.2.2 工作原理 102
5.2.3 低場核磁共振波譜儀與高場核磁共振波譜儀的比較 105
5.3 實驗方法 107
5.3.1 儀器參數設置 107
5.3.2 數據處理 113
參考書目 114 第6章 動態/靜態激光光散射儀
6.1 動態/靜態光散射技術理論基礎 115
6.1.1 光散射現象及其分類 115
6.1.2 動態光散射技術 117
6.1.3 靜態光散射技術 119
6.2 儀器結構 120
6.3 實驗技術 121
6.3.1 實驗準備 121
6.3.2 樣品要求 123
6.3.3 測試中常見問題及解決方法 123
6.3.4 動態光散射數據分析 123
6.3.5 靜態光散射數據分析 125
6.4 光散射與凝膠滲透色譜/尺寸排阻色譜聯用 127
參考書目 128 第7章 粉末X射線衍射儀
7.1 X射線的產生與X射線的性質 129
7.1.1 X射線的產生 129
7.1.2 X射線的性質 131
7.2 X射線譜 132
7.2.1 連續X射線 132
7.2.2 特征X射線 133
7.3 X射線與物質間相互作用 136
7.3.1 X射線的散射 136
7.3.2 X射線的吸收 138
7.3.3 X射線的透射 140
7.4 晶體學基礎知識 141
7.4.1 晶體的特點 141
7.4.2 晶體點陣結構 143
7.4.3 晶體的空間群 147
7.4.4 晶面及晶面指數 149
7.4.5 倒易點陣 151
7.5 X射線衍射原理 152
7.5.1 勞厄方程 153
7.5.2 布拉格方程 154
7.5.3 晶胞中的原子分布與衍射強度的關系 155
7.6 粉末X射線衍射儀 157
7.6.1 定性分析 158
7.6.2 定量分析 159
7.6.3 晶粒尺寸計算 160
7.7 X射線晶體點陣常數精確測定 160
7.7.1 晶體點陣常數測定原理 160
7.7.2 Rietveld全譜擬合精修晶體結構法 161
7.7.3 晶體點陣常數測定的誤差與消除 162
7.8 實驗技術 163
7.8.1 樣品制備方法 163
7.8.2 樣品測試 163
7.9 XRD數據分析軟件與數據庫簡介 163
參考書目 164 第8章 X射線光電子能譜儀
8.1 X射線光電子能譜儀結構與工作原理 166
8.1.1 X射線光電子能譜儀結構 166
8.1.2 X射線光電子能譜儀工作原理 169
8.2 X射線光電子能譜圖及物質表面分析 172
8.2.1 X射線光電子能譜圖的譜線特點 173
8.2.2 X射線光電子能譜定性分析 176
8.2.3 X射線光電子能譜定量分析 177
8.2.4 X射線光電子能譜深度分析 179
8.3 實驗技術 181
8.3.1 樣品準備 181
8.3.2 樣品測試 182
8.3.3 XPS圖譜常用數據處理分析軟件 183
參考書目 184 第9章 小角X射線散射儀
9.1 小角X射線散射技術理論基礎 185
9.1.1 散射公式 185
9.1.2 Guinier定律 187
9.1.3 Porod定律 188
9.1.4 散射不變量 189
9.2 小角X射線散射儀結構 191
9.2.1 X射線光源 191
9.2.2 準直系統 193
9.2.3 樣品臺 193
9.2.4 探測器 194
9.3 實驗技術 196
9.3.1 樣品制備 196
9.3.2 測試條件與基本參數設定 197
9.4 應用-測定體系舉例 198
9.4.1 膠體分散體系 198
9.4.2 液晶體系 199
9.4.3 結晶取向聚合物體系 200
9.4.4 負載在基底上的聚合物體系 202
參考書目 203 第10章 比表面和孔徑分布分析儀
10.1 氣體物理吸附基礎知識 204
10.1.1 吸附現象與吸附作用 204
10.1.2 氣體物理吸附理論模型 205
10.1.3 吸附等溫線 208
10.2 比表面和孔徑分布分析儀結構與工作原理 211
10.3 吸附等溫線測定的影響因素 213
10.3.1 死體積 213
10.3.2 樣品的預處理（脫氣） 214
10.3.3 樣品的使用量 214
10.3.4 吸附質的確定 215
10.3.5 平衡時間的影響 216
10.3.6 液氮浴的溫度 216
10.4 數據分析—比表面積、孔容及孔徑分布 216
10.4.1 表面積的計算方法 217
10.4.2 孔體積和孔徑分布計算方法 218
10.5 測試過程中一些常見問題 225
參考書目 225 第11章 化學吸附儀
11.1 化學吸附分析的基本原理 227
11.1.1 化學吸附過程熱力學 228
11.1.2 化學吸附過程動力學及吸附模型 228
11.1.3 化學吸附位與分子吸附態 230
11.1.4 吸附速率和吸附活化能 230
11.2 化學吸附儀裝置組成 231
11.3 化學吸附儀的應用場景 232
11.3.1 程序升溫脫附技術 232
11.3.2 程序升溫還原技術 235
11.3.3 程序升溫氧化技術 237
11.3.4 程序升溫表面反應技術 238
11.3.5 脈沖吸附或反應 239
11.4 化學吸附儀使用的注意事項 243
參考書目 244 第12章 透射電子顯微鏡
12.1 電子顯微分析基礎知識（Ⅰ） 245
12.1.1 電磁透鏡 245
12.1.2 光闌 246
12.1.3 景深 247
12.1.4 像差 248
12.1.5 分辨率 249
12.2 透射電子顯微鏡鏡筒結構及性能 250
12.2.1 TEM基本部件 251
12.2.2 主要附件 253
12.3 透射電子顯微鏡圖像襯度來源 254
12.3.1 質厚襯度 255
12.3.2 衍射襯度 256
12.3.3 相位襯度 257
12.4 透射電子顯微鏡電子衍射 257
12.4.1 電子衍射的條件 258
12.4.2 相機常數 259
12.4.3 TEM衍射花樣標定與常見晶體衍射花樣特征 261
12.4.4 電子衍射法與X射線衍射法晶體分析比較 262
12.5 實驗技術 263
12.5.1 透射電子顯微鏡的基本操作模式 263
12.5.2 透射電子顯微鏡樣品制備 265
12.6 透射電子顯微鏡與電子能量損失譜儀聯用 267
參考書目 267 第13章 掃描電子顯微鏡
13.1 電子顯微分析基礎知識（Ⅱ） 268
13.1.1 電子散射 268
13.1.2 高能電子激發作用 269
13.2 掃描電子顯微鏡結構與成像原理 271
13.2.1 鏡筒 272
13.2.2 掃描系統 273
13.2.3 信號檢測和放大系統 274
13.2.4 圖像顯示與記錄系統 275
13.3 掃描電子顯微鏡的主要性能 275
13.3.1 分辨率和放大倍數 275
13.3.2 景深 276
13.4 掃描電子顯微鏡圖像襯度來源 276
13.4.1 表面形貌襯度 277
13.4.2 成分襯度 278
13.5 掃描電子顯微鏡樣品制備 279
13.6 掃描電子顯微鏡操作主要環節 281
13.6.1 加速電壓值的設置 281
13.6.2 電子光學系統合軸 282
13.6.3 聚焦與消像散 282
13.6.4 掃描電子顯微鏡探頭的選擇 283
13.6.5 工作距離和樣品臺傾斜 284
13.6.6 圖像觀察與記錄 285
13.7 掃描電子顯微鏡與X射線能譜儀聯用 286
13.7.1 X射線能譜儀構成 286
13.7.2 與X射線能譜儀聯用 287
參考書目 289 第14章 熱重分析儀
14.1 儀器結構及工作原理 290
14.1.1 儀器結構 290
14.1.2 TGA基本原理 294
14.2 實驗技術 294
14.2.1 樣品的制備 294
14.2.2 儀器的校準 295
14.2.3 測試影響因素 296
14.2.4 數據處理 298
參考書目 300 第15章 差示掃描量熱儀
15.1 儀器結構和工作原理 301
15.2 實驗技術 303
15.2.1 樣品的制備 303
15.2.2 儀器的校準 304
15.2.3 測試影響因素 305
15.2.4 數據處理 307
參考書目 309 第16章 旋轉流變儀
16.1 流變學基礎知識 310
16.1.1 幾個流變學指標定義 310
16.1.2 流體的分類 313
16.1.3 材料的黏彈性 314
16.1.4 時溫等效原理 314
16.2 旋轉流變儀結構及工作原理 315
16.2.1 旋轉流變儀結構 315
16.2.2 旋轉流變儀的工作原理 315
16.3 實驗技術 316
16.3.1 樣品的準備 316
16.3.2 測試夾具的選擇 318
16.3.3 測量模式 322
16.3.4 測試影響因素 326
16.4 數據處理—幾種分析模型 327
16.4.1 Ostwald（或Power Law）模型 327
16.4.2 Bingham模型 328
16.4.3 Herschel-Bulkley模型 328
16.4.4 Carreau-Yasuda模型 329
參考書目 329 第17章 動態熱機械分析儀
17.1 動態熱機械分析儀結構及工作原理 330
17.1.1 動態熱機械分析儀結構 330
17.1.2 儲能模量、損耗模量、復合模量及損耗因子 331
17.1.3 動態熱機械分析儀的工作原理 332
17.2 實驗技術 333
17.2.1 樣品的制備 333
17.2.2 夾具的選擇 334
17.2.3 測量模式 336
17.2.4 測試影響因素 339
參考書目 340
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現代分析測試方法與技術精要 作者簡介
冉國俠，江南大學，實驗室主任、副研究員。1991年7月獲得分析化學專業碩士學位以來，一直從事專業相關工作，涉及實驗室管理、化妝品功效成分分析、藥物分析、臨床藥理等領域。目前承擔研究生教育工作同時兼具學院中心實驗室管理工作。經手包括掃描/透射電鏡、粉末X射線衍射儀、核磁共振譜儀、穩態瞬態熒光光譜儀、激光共聚焦拉曼光譜儀、液相色譜等大型精密儀器。作為主要研究人員參與了包括“基于分子印跡識別和銥配合物電致化學發光檢測毒品的傳感器研究”（國自然基金No.21175060）等多項科研項目研究工作。
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