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光學測試技術 版權信息
- ISBN：9787576335415
- 條形碼：9787576335415 ; 978-7-5763-3541-5
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>
光學測試技術 內容簡介
本書共七章，內容包括：光學測量基礎、準直和自準直技術、光學測角技術、光學干涉測量技術、光學偏振測量技術、光學系統成像性能評測、光度測量。
光學測試技術 目錄
第1章 光學測量基礎
1.1 測量誤差與測量不確定度
1.2 對準與調焦
1.3 光學測試裝置的基本部件及其組合
1.4 焦距和頂焦距測量
1.5 思考與練習題
第2章 準直與自準直技術
2.1 激光準直與自準直技術
2.2 自準直法測量平面光學零件光學平行度
2.3 自準直法測量曲率半徑和焦距
2.4 自準直法測量非球面面形
2.5 思考與練習題
第3章 光學測角技術
3.1 光學測量用的精密測角儀
3.2 測角技術的應用
3.3 思考與練習題
第4章 光學干涉測量技術
4.1 干涉測量基礎
4.2 泰曼格林干涉測量和斐索干涉測量
4.3 剪切干涉測量
4.4 移相干涉測量
4.5 干涉測量典型光路
4.6 點衍射移相干涉技術
4.7 思考與練習題
第5章 光學偏振測量技術
5.1 偏振測量儀及基本原理
5.2 光學玻璃應力雙折射測量
5.3 光學薄膜厚度和折射率測量
5.4 偏振干涉測量
5.5 思考與練習題
第6章 光學系統成像性能評測
6.1 成像性能評測的基本理論
6.2 星點檢驗
6.3 分辨率測量
6.4 畸變測量
6.5 光學傳遞函數測量
6.6 思考與練習題
第7章 光度測量
7.1 輻射度、光度量基礎
7.2 積分球和CIE標準照明體
7.3 基本光度量的測量
7.4 光學系統透射比的測量
7.5 光學系統雜光系數的測量
7.6 照相物鏡像面照度均勻性的測量
7.7 思考與練習題
參考文獻
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