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高速電路設計實踐 版權信息
- ISBN：9787121284397
- 條形碼：9787121284397 ; 978-7-121-28439-7
- 裝幀：平裝-膠訂
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
高速電路設計實踐 內容簡介
本書從設計實踐角度出發，介紹了在從事高速電路設計的工作中需要掌握的各項技術及技能，并結合工作中的具體案例，強化了設計中的各項要點，詳細研究了相關具體案例。在本書的編寫過程中，作者避免了純理論的講述，而是結合設計實例敘述經驗，將復雜的高速電路設計，用通俗易懂的語言陳述給讀者。
高速電路設計實踐 目錄
●目 錄 第1章 概述1 1.1 低速設計和高速設計的例子1 【案例1-1】 簡化的存儲電路模塊1 1.1.1 低速設計1 1.1.2 高速設計2 1.2 如何區分高速和低速3 1.3 硬件設計流程5 1.3.1 需求分析6 1.3.2 概要設計7 1.3.3 詳細設計7 1.3.4 調試9 1.3.5 測試9 1.3.6 轉產10 1.4 原理圖設計11 第2章 高速電路中的電阻、電容、電感和磁珠的選型及應用13 2.1 電阻的應用13 2.1.1 與電阻相關的經典案例13 【案例2-1】 串聯電阻過大，導致板間告警失敗13 【案例2-2】 電阻額定功率不夠造成的單板潛在缺陷14 【案例2-3】 電阻在時序設計中的妙用15 2.1.2 電阻應用要點16 2.2 電容的選型及應用17 2.2.1 與電容相關的經典案例17 【案例2-4】 電容失效導致低溫下硬盤停止工作17 【案例2-5】 多次帶電插拔子板導致母板上鉭電容損壞18 【案例2-6】 高速電路中電容應用問題導致CPU工作不穩定18 2.2.2 高速電路設計中電容的作用及分析19 【案例2-7】 交流耦合電容選擇不當引起數據幀出錯20 【案例2-8】 利用0612封裝的電容增強濾波性能21 【案例2-9】 LDO電源應用中的濾波電容ESR問題22 【案例2-10】 高頻電路中1?F 0.01?F是否能展寬低阻抗頻帶24 2.2.3 高速電路設計常用電容及其應用要點26 【案例2-11】 陶瓷電容選型錯誤導致單板丟數據包27 【案例2-12】 根據電路要求進行鉭電容選型29 2.2.4 去耦電容和旁路電容31 2.3 電感的選型及應用32 2.3.1 與電感相關的經典案例32 【案例2-13】 LC低通濾波導致輸出電源電壓紋波偏大32 【案例2-14】 大電流通路PI型濾波造成電壓衰減33 2.3.2 高速電路設計中電感的作用35 2.3.3 高速電路設計常用電感及其應用要點36 2.4 磁珠的選型及應用39 2.4.1 磁珠的濾波機理39 2.4.2 高速電路設計中磁珠的選型及其應用要點40 【案例2-15】 誤用磁珠造成過流保護電路失效41 2.4.3 磁珠和電感的比較42 第3章 高速電路中的邏輯器件選型及高速邏輯電平應用44 3.1 與邏輯器件相關的經典案例44 【案例3-1】 邏輯器件輸入端上拉太弱造成帶電插拔監測功能失效44 3.2 邏輯器件應用要點47 3.2.1 邏輯器件概要47 【案例3-2】 邏輯器件驅動能力過強造成信號振鈴51 【案例3-3】 同一型號邏輯器件的差異性造成PHY配置錯誤51 3.2.2 邏輯器件參數介紹52 3.2.3 邏輯器件功耗計算60 3.2.4 邏輯器件熱插拔功能介紹62 3.2.5 邏輯器件使用中注意事項的總結68 3.3 高速邏輯電平應用68 3.3.1 高速邏輯電平概述68 【案例3-4】 差分對走線附近信號分布不均衡造成電磁輻射70 3.3.2 LVDS邏輯電平介紹及其應用要點71 【案例3-5】 空閑輸入引腳處理有誤導致FPGA檢測到錯誤輸入73 3.3.3 LVPECL邏輯電平介紹及其應用要點75 3.3.4 CML邏輯電平介紹及其應用要點77 3.3.5 高速邏輯電平的比較78 3.3.6 高速邏輯電平的互連及其應用要點78 第4章 高速電路中的電源設計87 4.1 與電源相關的經典案例87 【案例4-1】 LDO輸出電源電平低于設置值87 【案例4-2】 電源芯片欠壓保護電路導致上電時序不滿足設計的要求88 【案例4-3】 多電源模塊并聯工作時的均壓措施89 4.2 高速電路設計的電源架構90 4.2.1 集中式電源架構90 4.2.2 分布式電源架構90 4.3 高速電路電源分類及其應用要點91 4.3.1 LDO電源介紹及其應用要點92 【案例4-4】 計算LDO工作時的結溫95 【案例4-5】 SENSE功能導致電源芯片輸出電壓不穩定97 4.3.2 DC/DC電源介紹及其應用要點100 【案例4-6】 計算柵極電流105 【案例4-7】 MOSFET同時導通導致MOSFET損壞108 【案例4-8】 ?48V緩啟電路中MOSFET燒壞111 【案例4-9】 基于ADM1066對多路電源實現監控114 【案例4-10】 基于LTC1422實現上電速度的控制115 【案例4-11】 基于電源芯片實現上電速度的控制115 【案例4-12】 基于RC阻容電路實現延時功能116 【案例4-13】 上電電流過大引起電感嘯叫116 【案例4-14】 輸入電源上電過緩造成輸出電源上電波形不單調117 4.3.3 電源管理124 4.3.4 保險管的選型及應用124 【案例4-15】 熱插拔單板的保險管選型126 第5章 高速電路中的時序設計127 5.1 時序設計概述127 5.2 時序參數介紹127 5.3 源同步系統時序設計129 5.3.1 源同步系統時序設計原理129 5.3.2 源同步系統時序設計范例一131 5.3.3 源同步系統時序設計范例二134 5.4 共同時鐘系統時序設計136 5.5 源同步系統與共同時鐘系統的比較137 第6章 高速電路中的復位、時鐘設計139 6.1 復位電路設計139 6.1.1 與復位電路相關的經典案例139 【案例6-1】 主控板無法通過PCI-線查詢到接口板139 6.1.2 復位設計介紹及其應用要點141 【案例6-2】 存儲模塊讀取的錯誤141 6.1.3 專用復位芯片的使用142 6.2 時鐘電路設計145 6.2.1 與時鐘電路相關的經典案例145 【案例6-3】 系統時鐘偏快的問題145 【案例6-4】 PHY寄存器無法讀取的問題147 【案例6-5】 高溫流量測試丟包問題148 6.2.2 晶體、晶振介紹及其應用要點150 【案例6-6】 利用少有時鐘沿啟動組合邏輯導致CPU工作不穩定153 6.2.3 鎖相環及其應用157 【案例6-7】 兩級鎖相環的應用導致MPC8280的PCI時鐘失鎖162 6.2.4 時鐘抖動與相位噪聲164 第7章 高速電路中的存儲器應用與設計172 7.1 與存儲器相關的經典案例172 【案例7-1】 時序裕量不足導致存儲器測試出錯172 7.2 常用存儲器介紹及其應用要點174 7.2.1 存儲器概述174 7.2.2 SDRAM介紹及其應用要點176 7.2.3 DDR SDRAM介紹及其應用要點188 【案例7-2】 DLL缺陷造成DDR SDRAM時序出錯192 【案例7-3】 VREF不穩定造成存儲器讀寫操作出錯198 7.2.4 DDR2 SDRAM介紹及其應用要點203 【案例7-4】 CPU存儲系統不識別8位內存條的問題211 7.2.5 SRAM介紹及其應用要點212 【案例7-5】 片選處理不當導致SRAM數據丟失214 7.2.6 FLASH與EEPROM介紹227 【案例7-6】 熱插拔導致單板FLASH損壞227 【案例7-7】 讀取百兆光模塊信息出錯231 第8章 高速電路中的PCB及其完整性設計232 8.1 與PCB及完整性設計相關的經典案例232 【案例8-1】 回流路徑缺陷對高速信號質量的影響232 8.2 PCB層疊結構與阻抗計算234 8.2.1 Core和PP234 8.2.2 PCB的層疊結構和阻抗設計234 8.3 高速電路PCB設計要點241 8.3.1 PCB設計與信號完整性241 【案例8-2】 傳輸線的判斷241 【案例8-3】 反射的計算242 【案例8-4】 DDR SDRAM設計時，終端電阻RTT布放位置的選擇244 【案例8-5】 大驅動電流信號對高速數據信號的串擾250 【案例8-6】 高速接口器件批次更換造成輻射超標252 【案例8-7】 TCK信號出現回溝導致無法通過JTAG接口對CPLD進行加載256 8.3.2 PCB設計與電源完整性257 8.3.3 PCB設計中的EMC260 【案例8-8】 網口指示燈信號線引發的輻射問題264 【案例8-9】 接口芯片與時鐘驅動器共用電源，導致輻射超標266 8.3.4 PCB設計中的ESD防護267 【案例8-10】 TVS管布放位置不合理導致靜電放電測試失敗268 【案例8-11】 GND和HV_GND混用導致電源控制電路失效270 8.3.5 PCB設計與結構、易用性272 【案例8-12】 網口指示燈排列順序出錯273 【案例8-13】 網口連接器堆疊方式與易插拔特性273 8.3.6 PCB設計與散熱274 8.3.7 PCB設計與可測試性275 參考文獻279
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高速電路設計實踐 作者簡介
王劍宇，工程師，長期在業界 公司從事一線的高速電路設計開發工作，積累了大量的設計經驗。作者從實踐中精選出六十多個經典案例，總結出兩百多項設計要點，精心編著成本書。
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