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(社版)集成電路測試原理 版權信息
- ISBN：9787577001630
- 條形碼：9787577001630 ; 978-7-5770-0163-0
- 裝幀：平裝-膠訂
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
(社版)集成電路測試原理 內容簡介
本書詳細介紹了集成電路測試的基本原理、測試系統和測試開發方法。首先介紹了集成電路測試的相關概念和術語，集成電路測試的*新發展趨勢；其次詳細介紹了集成電路直流參數測試和模擬集成電路測試的基本方法；再次介紹了數字集成電路的基本測試方法，然后在此基礎上重點介紹了數模混合電路（ADC/DAC）測試方法。此外，本書還對集成電路測試系統（ATE）的結構和工作原理、測試接口板（DIB）和測試程序開發做了介紹。
本書可作為集成電路測試相關專業本科和專科的教材，同時可用于集成電路測試專業技術人員培訓，也可作為從事集成電路測試技術研究人員的參考書。
(社版)集成電路測試原理 作者簡介
戴志堅，1968年生，電子科技大學測試計量技術及儀器專業碩士，現任職于電子科技大學自動化工程學院，電子科技大學（深圳）高等研究院集成電路測試技術重點實驗室主任，教授。主要研究方向為集成電路測試技術。主持多項國家級和省部級項目，發表學術論文10余篇，出版教材1部，主持編寫國家標準1項，申請國家發明專利20余項，獲省部級學術獎項多項。
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