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藝術品檢測分析技術手冊 版權信息
- ISBN：9787302594444
- 條形碼：9787302594444 ; 978-7-302-59444-4
- 裝幀：100g膠版紙
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
藝術品檢測分析技術手冊 本書特色
奉賢區博物館，本譯本的策劃單位為上海市奉賢區博物館，其隸屬于上海市奉賢區文化和旅游局，是一家有著60年歷史的綜合類博物館。奉賢區博物館是上海市愛國主義教育基地兼科普教育基地，藏品類別多樣，包括陶瓷、書畫、造像和青銅等，藏品的歷史跨度上至史前、下至近現代。博物館以多種富于特色的專題展覽而聞名。 2019年5月，奉賢區博物館遷址于泰賢區金海湖畔，一邊繼續推進博物館現代化建設，一邊開啟了國際化新征程。藉此機遇．奉賢區博物館也建立了自己的文物保護與修復研究中心．開始秉承科學與現代的理念，投身于文化遺產保護事業。 助藝文化藝術發展（上海）有限公司，該書英文原版的*初推介者為助藝文化藝術發展（上海）有限公司（簡稱助藝）。助藝是國內領先的藝術品科學管理綜合服務提供商．致力于通過科技、創新和標準化，促進文化藝術行業的溝通與發展。助藝的核心業務源自歐洲，工作室和聯絡處遍及上海、北京、廣州、香港、日內瓦等地，建立并維護著國際化的專家網絡．為客戶提供藝術品包裝運輸、保護修復、教育培訓、管理咨詢等專業服務。 2020年12月，助藝油畫修復工作窒入駐上海奉賢區博物館修復中心，與奉賢區博物館聯手開拓文化遺產的科學保護事業，
藝術品檢測分析技術手冊 內容簡介
這是一本藝術品與文化遺產研究通用技術匯編，書中介紹了50種該領域常用的科學技術，以精煉的文字介紹了它們的基本原理、應用方法、局限性和發展歷史。 《藝術品檢測分析技術手冊》也是一本為方便相關領域專業人士理解這些技術而編寫的實用類書籍。
藝術品檢測分析技術手冊 目錄
目錄
zz晝光照相術 / 1
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zz紫外（UV）照相術 / 3
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zz紅外（IR）照相術 / 6
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zz紅外反射成像（IRR） / 8
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zz紅外假彩色照相術（IRFC） / 11
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zz紅外透射照相術（IRT） / 13
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zz紫外誘導紅外熒光成像 / 16
珍妮弗·馬斯（Jennifer Mass）
zz光纖反射光譜法（FORS） / 19
達妮埃拉·平娜（Daniela Pinna）
zzX射線照相術 / 22
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zzK-edge成像 / 25
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zz同步輻射X射線熒光（sXRF）成像 / 28
戴維·瑟羅古德（David Thurrowgood）
zz光學相干層析術（OCT） / 31
扎卡里·沃拉斯（Zachary Voras）
zzX射線吸收近邊結構譜法（XANES） / 35
珍妮弗·馬斯（Jennifer Mass）
zz掃描X射線粉末衍射（XRPD） / 39
弗雷德里克·范梅爾特（Frederik Vanmeert）
zz差式掃描量熱法（DSC） / 42
扎卡里·沃拉斯（Zachary Voras）
VIII
zz中子活化放射自顯影（NAA） / 46
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zz中子射線照相術（NR） / 49
拉克倫·麥金尼斯（Lachlan Mclnnes）
zz中子成像（Nl） / 51
埃伯哈德·H.萊曼（Eberhard H. Lehmann）
zz拉曼（Raman）光譜法 / 54
達妮埃拉·平娜（Daniela Pinna）
zz傅里葉變換紅外光譜法（FTIR） / 58
達妮埃拉·平娜（Daniela Pinna）
zz同步輻射傅里葉變換紅外光譜法（SR-FTIR） / 63
珍妮弗·馬斯（Jennifer Mass）
zz掃描電子顯微鏡（SEM）結合能量色散X射線光譜法（EDS/EDX） / 67
達妮埃拉·平娜（Daniela Pinna）
zz實驗室微X射線衍射（XRD） / 70
珍妮弗·馬斯（Jennifer Mass）
zz表面增強拉曼光譜法（SERS） / 74
馬爾科·利昂納（Marco Leona）
zz宏觀X射線熒光成像（MA-XRF） / 77
馬蒂亞斯·阿爾費爾德（Matthias Alfeld）
zz便攜式X射線熒光（pXRF）斑點分析 / 81
珍妮弗·馬斯（Jennifer Mass）
zz共聚焦X射線熒光法（cXRF） / 85
馬蒂亞斯·阿爾費爾德（Matthias Alfeld）
zz質子X射線熒光分析（PIXE） / 89
洛倫佐·瓊蒂尼（Lorenzo Giuntini）、塞爾日·馬托（Serge Mathot）、弗朗切斯科·塔
切蒂（Francesco Taccetti）、毛里齊奧·弗雷泰納（Maurizio Vretenar）
zz微取樣 / 92
達妮埃拉·平娜（Daniela Pinna）
zz光學顯微鏡（OM）法 / 95
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zz原子力顯微鏡（AFM）法 / 98
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
IX
zz紫外/可見光（UV/VIS）斷面顯微鏡法 / 101
蘇珊娜·布拉奇（Susanna Bracci）
zz斷面染色試驗顯微分析 / 104
蘇珊娜·布拉奇（Susanna Bracci）
zz免疫試驗法 / 107
達妮埃拉·平娜（Daniela Pinna）
zzX射線光電子能譜法（XPS） / 111
扎卡里·沃拉斯（Zachary Voras）
zz二次離子質譜法（SIMS） / 115
扎卡里·沃拉斯（Zachary Voras）
zz氣相色譜-質譜法（GC-MS） / 120
瑪麗亞·佩拉·科隆比尼（Maria Perla Colombini）
zz裂解氣相色譜-質譜法（Py-GC/MS） / 124
瑪麗亞·佩拉·科隆比尼（Maria Perla Colombini）
zz電噴霧電離質譜法（ESI-MS） / 128
扎卡里·沃拉斯（Zachary Voras）
zz直接溫度質譜法（DTMS） / 131
扎卡里·沃拉斯（Zachary Voras）
zz熱重質譜法（TGMS/TGA-MS） / 134
扎卡里·沃拉斯（Zachary Voras）
zz激光燒蝕電感耦合等離子體質譜法（LA-ICP-MS） / 137
奧古斯汀·多羅尼拉（Augustine Doronila）
zz基質輔助激光解吸電離質譜法（MALDI MS） / 140
伊內茲·范德韋爾夫（Inez van der Werf）
zz電化學分析法 / 143
拉克倫·麥金尼斯（Lachlan Mclnnes）
zz鉛同位素分析 / 145
丹尼爾·法比安（Daniel Fabian）
zz太赫茲（THz）光譜法與成像 / 149
羅杰·劉易斯（Roger Lewis）
zz畫布經緯密度法 / 151
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zz放射性碳定年法 / 154
伊爾卡·哈伊達什（Irka Hajdas）
. 14C核彈峰值放射性碳定年法 / 156
伊爾卡·哈伊達什（Irka Hajdas）
zz樹木年代學法 / 158
米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）
zz作者簡介 / 161
zz譯者后記 / 172
展開全部
藝術品檢測分析技術手冊 節選
1.分類X射線吸收近邊結構譜法（X-ray absorption near edge spectroscopy，XANES）常與微取樣技術結合使用，是一種侵入式分析技術，通常用于顏料層斷面薄片分析。XANES成像所需樣品尺寸一般與顏料層斷面樣的取樣尺寸[通常為100Um x（200-300） μm]相當。需將樣品斷面制成薄片在透射模式下進行分析。2.說明XANES可對藝術品中的晶體化合物或非晶體化合物進行分子識別，可用來檢測繪畫和陶瓷等分層結構對象內的各種材料。它對非晶體化合物識別的應用更為重要。XANES或微束XANES（文物檢測一般采用微束XANES）可用于藝術作品和藝術家材料樣品的分子分析和氧化態識別。X射線束的光斑尺寸*小可至1 Um，因此可做出詳細的樣品分子組成圖像。通過繪畫樣品的微束XANES分子組成圖像，可以獲得繪畫保存狀態和劣化機制的信息。也可以用這種方法來了解陶瓷的燒成溫度和氛圍（以及這些條件下的相）。一般來說，也可采用顯微拉曼光譜法和傅里葉變換紅外光譜法等實驗室方法對樣品進行分子組成成像，但如果還需進行更靈敏、詳細的空間識別，就要使用微束XANES了。與顯微拉曼光譜法相比，這種技術對非晶相和溶解相也具有更高的靈敏度。要使用XANES，必須將樣品送到專用同步輻射設備（由粒子加速器產生的可調諧高強度X射線源）所在地，意味著這種方法很少用于藝術品保護研究以外的領域。不過它對繪畫劣化現象的揭示有著無與倫比的價值，例如，隨老化而出現的鉛皂與鋅皂團聚現象，在17世紀至19世紀上半葉的繪畫中就可以觀察到這種團聚現象。不過由于團聚體的形成因顏料配方和繪畫保存環境而異，它們的形成動力學尚無法直接與畫作的年代掛鉤。因此這種團聚體的缺位只能用作判定繪畫不屬于1 7世紀至1 9世紀上半葉的不完全證據，不能視為決定性證據。在文化遺產科學領域，XANES的應用還包括金屬腐蝕產物的鑒定與成像。可以用這種技術來區分自然銹蝕和人工銹蝕。XANES有透射模式（用于薄片）和反射模式（用于斷面），用透射模式分析薄片可減少X射線吸收問題，獲得的數據質量也高于反射模式。3.應用使用這項技術時，入射×射線束會被樣品中的分子吸收，令核心原子（通常是繪畫顏料中的金屬離子）電離出一個電子。從分子中分離出電子所需的能量就是電子結合能，也稱“邊緣能”。同一種元素在單質狀態與分子狀態下的邊緣能并不相同，例如，單質銅中的銅元素就與銅化合物中銅元素邊緣能略有差異，所以才可能用XANES進行分子識別。此外，銅化合物的種類不同，圍繞銅的邊緣能還會有一系列不同的特征峰。用于分子識別的重要特征有3種：邊前區特征（發生在X射線吸收導致電離之前）、吸收邊位置以及邊后區特征。圍繞吸收邊的這些特征性擺動或振蕩可以提供金屬周圍原子的信息（分子識別，如鉻酸鉛與硫酸鉛的識別），而結合邊的位置可以提供金屬氧化態的信息。這一點尤其重要，因為許多繪畫顏料的金屬氧化態會隨著顏料的分解／劣化而改變。XANES譜圖是X射線吸收（通常指吸收系數大小）與X射線能量的函數關系圖，系數急劇升高的部分代表吸收邊。用該圖與目標化合物的標準譜作比照，即可識別樣品中的分子。標準樣檢測和未知樣檢測通常在同一實驗中完成。繪畫顏料（尤其是老化的顏料）是多種密切相關的化合物構成的復雜混合物。因此，通常需要把多種標準樣品數據組合起來，才能與未知樣品數據達到*佳擬合／匹配。例如，老化的銅基顏料樣品中可能含40%的原始顏料，剩下的則是原始顏料轉化成的銅氧化物與銅硫化物混合物。如果數據質量夠高，還可以確定每種化合物所占百分比。顏料層取樣和陶瓷斷面取樣的XANES成像可以直觀地展示顏料粉和劣化產物在樣品中的分布。可以看出特定化合物在斷面各層的分布情況，還可根據位置來分辨這些化合物是有意添加的顏料添加劑還是劣化／變化的產物。這種圖像通常為三色圖，每種顏色代表一種不同的化合物。……
藝術品檢測分析技術手冊 作者簡介
[荷]米爾科·登萊烏（Milko den Leeuw）——專業從事繪畫科技研究的繪畫保護修復師。1989年于阿姆斯特丹多拉·范丹齊格工作室完成保護修復與圖畫學（一種用于繪畫作者鑒識與評估的分析方法）訓練，完成過一項17世紀荷蘭大師作品的保護修復實習工作，后于1991年創建了繪畫修復與研究工作室（ARRS）。曾為世界各地多家博物館、藝術品交易商和私人收藏家工作。著述頗豐，編撰有多種博物館目錄、國際同行評審期刊文章和會議論文。ARRS在1991-2006年曾經是烏得勒支凱瑟琳修道院國立博物館（Rijksmuseum Catharijneconvent Utrecht）的戶外保護修復工作室。ARRS還針對保存狀況與鑒定問題為凱瑟琳修道院的繪畫藏品制作過一份完整的清單。登萊烏于1993-2003年擔任阿姆斯特丹佳士得戶外繪畫保護修復師。 ARRS為保護修復技術、藝術史與材料科學等學科建立了良好的溝通，并因此而享譽國際。ARRS憑著專業的知識與經驗，與拍賣商、私人收藏家、博物館保護修復師、藝術顧問、法律顧問、編目委員會和學生等各界人士建立了25年以上的合作關系，也是2012年、2014年、2016年和2018年AIA大會的組織者。
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