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包郵 石墨烯材料質(zhì)量技術(shù)基礎(chǔ):計(jì)量
作者：任玲玲
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頁(yè)數(shù)：
228
本類(lèi)榜單：自然科學(xué)銷(xiāo)量榜
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石墨烯材料質(zhì)量技術(shù)基礎(chǔ):計(jì)量 版權(quán)信息
- ISBN：9787562864141
- 條形碼：9787562864141 ; 978-7-5628-6414-1
- 裝幀：一般輕型紙
- 冊(cè)數(shù)：暫無(wú)
- 重量：暫無(wú)
- 所屬分類(lèi)：>>
石墨烯材料質(zhì)量技術(shù)基礎(chǔ):計(jì)量 本書(shū)特色
石墨烯是碳的同素異形體大家族的又一個(gè)傳奇，也是當(dāng)今橫跨學(xué)術(shù)界和產(chǎn)業(yè)界的**明星，幾乎到了家喻戶(hù)曉、婦孺皆知的程度。當(dāng)然，石墨烯是當(dāng)之無(wú)愧的。作為由單層碳原子構(gòu)成的蜂窩狀二維原子晶體材料，石墨烯擁有無(wú)與倫比的特性。理論上講，它是導(dǎo)電性和導(dǎo)熱性較好的材料，也是理想的輕質(zhì)高強(qiáng)材料。正因如此，一經(jīng)問(wèn)世便吸引了**范圍的關(guān)注。石墨烯有可能創(chuàng)造一個(gè)全新的產(chǎn)業(yè)，石墨烯產(chǎn)業(yè)將成為未來(lái)**高科技產(chǎn)業(yè)競(jìng)爭(zhēng)的高地，這一點(diǎn)已經(jīng)成為**外學(xué)術(shù)界和產(chǎn)業(yè)界的共識(shí)。 從2004年至今，已經(jīng)有了近十六年的歷史沉淀。無(wú)論是石墨烯的基礎(chǔ)研究，還是石墨烯材料的產(chǎn)業(yè)化實(shí)踐，人們都有了*多的一手材料，*有可能對(duì)石墨烯材料有一個(gè)***套叢書(shū)出的、科學(xué)的、理性的認(rèn)識(shí)？偨Y(jié)歷史，是為了*好地走向未來(lái)。對(duì)于新興的石墨烯產(chǎn)業(yè)來(lái)說(shuō)，戰(zhàn)略前沿新材料——石墨烯出版工程的出版意義也是不言而喻的。事實(shí)上，**外已經(jīng)出版了數(shù)十部石墨烯相關(guān)書(shū)籍，其中不乏經(jīng)典性著作。本叢書(shū)的定位有所不同，希望能夠全面總結(jié)石墨烯相關(guān)的知識(shí)積累，反映石墨烯領(lǐng)域的**外前沿研究進(jìn)展，展示石墨烯新材料的產(chǎn)業(yè)化現(xiàn)狀與發(fā)展前景，尤其希望能夠充分體現(xiàn)國(guó)人對(duì)石墨烯領(lǐng)域的貢獻(xiàn)。 本叢書(shū)共包括22分冊(cè)，執(zhí)筆作者20余位，都是石墨烯領(lǐng)域的重量級(jí)學(xué)者、專(zhuān)家，因此可以從源頭上保障叢書(shū)的專(zhuān)業(yè)性和科學(xué)性。叢書(shū)分五大部分，囊括了從石墨烯的基本性質(zhì)和表征技術(shù)，到石墨烯材料的制備方法及其在不同領(lǐng)域的應(yīng)用，以及石墨烯產(chǎn)品的計(jì)量檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)等***的知識(shí)總結(jié)。同時(shí)，兩份產(chǎn)業(yè)研究報(bào)告詳細(xì)闡述了世界各國(guó)的石墨烯產(chǎn)業(yè)發(fā)展現(xiàn)狀和未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)。除此之外，叢書(shū)還為廣大石墨烯迷們提供了一份科普讀物《有問(wèn)必答：石墨烯的魅力》，針對(duì)廣泛征集到的石墨烯相關(guān)問(wèn)題答疑解惑，去偽求真。 本叢書(shū)的內(nèi)容涵蓋石墨烯新材料的方方面面，每個(gè)分冊(cè)也相對(duì)獨(dú)立，具有很強(qiáng)的系統(tǒng)性、知識(shí)性、專(zhuān)業(yè)性和即時(shí)性，凝聚著各位作者的研究心得、智慧和心血，供不同需求的廣大讀者參考使用。希望叢書(shū)的出版對(duì)中國(guó)的石墨烯研究和中國(guó)石墨烯產(chǎn)業(yè)的健康發(fā)展有所助益。 1. “戰(zhàn)略前沿新材料——石墨烯出版工程” “十三五”**重點(diǎn)出版物出版規(guī)劃項(xiàng)目\/**出版基金叢書(shū)由石墨烯的基本性質(zhì)與表征技術(shù)、石墨烯的制備技術(shù)和計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)、石墨烯的分類(lèi)應(yīng)用、石墨烯的發(fā)展現(xiàn)狀報(bào)告、石墨烯科普知識(shí)等五大部分共22分冊(cè)構(gòu)成，本書(shū)為第07分冊(cè)。 2. 叢書(shū)由我國(guó)石墨烯研究領(lǐng)域的主要開(kāi)拓者及我國(guó)石墨烯發(fā)展的重要推動(dòng)者、北京大學(xué)教授、北京石墨烯研究院創(chuàng)院院長(zhǎng)劉忠范院士親自策劃并擔(dān)任總主編。 3.全書(shū)采用80克雅質(zhì)紙，彩色印刷，清晰直觀地展現(xiàn)了石墨烯的結(jié)構(gòu)、模擬及表征結(jié)果。
石墨烯材料質(zhì)量技術(shù)基礎(chǔ):計(jì)量 內(nèi)容簡(jiǎn)介
《石墨烯材料質(zhì)量技術(shù)基礎(chǔ)：計(jì)量》共七章。前兩章主要介紹了計(jì)量與材料計(jì)量的基本概念，以及石墨烯材料計(jì)量、標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)劃設(shè)計(jì)及框架。后五章主要介紹了石墨烯材料質(zhì)量評(píng)價(jià)中關(guān)于真假判斷的部分計(jì)量技術(shù)。第3章介紹了石墨烯材料拉曼光譜計(jì)量技術(shù)，第4章介紹了X射線衍射法測(cè)量石墨烯材料晶體結(jié)構(gòu)，第5章介紹了原子力顯微鏡法測(cè)量石墨烯材料厚度，第6章介紹了石墨烯材料電子顯微鏡計(jì)量技術(shù)，第7章介紹了石墨烯粉體化學(xué)成分測(cè)量技術(shù)。附錄補(bǔ)充了X射線衍射儀的溯源性研究、掠入射X射線反射膜厚測(cè)量?jī)x器校準(zhǔn)的內(nèi)容。
石墨烯材料質(zhì)量技術(shù)基礎(chǔ):計(jì)量 目錄
第1章 計(jì)量與材料計(jì)量
1．1 計(jì)量概述
1．2 計(jì)量與測(cè)量
1．2．1 測(cè)量
1．2．2 計(jì)量
1．2．3 計(jì)量特點(diǎn)
1．3 測(cè)量誤差與測(cè)量不確定度
1．3．1 測(cè)量誤差
1．3．2 測(cè)量不確定度
1．4 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
1．5 計(jì)量的作用
1．5．1 計(jì)量對(duì)國(guó)民經(jīng)濟(jì)的作用
1．5．2 計(jì)量在基礎(chǔ)研究中的作用
1．6 材料計(jì)量概述
1．6．1 材料計(jì)量研究?jī)?nèi)容
1．6．2 材料計(jì)量研究成果及社會(huì)服務(wù)
1．6．3 材料計(jì)量國(guó)內(nèi)外現(xiàn)狀
1．7 國(guó)際計(jì)量組織
1．7．1 國(guó)際計(jì)量局（BIPM）
1．7．2 亞太計(jì)量規(guī)劃組織（APMP）
1．7．3 先進(jìn)材料與標(biāo)準(zhǔn)凡爾賽合作計(jì)劃（VAMAS）
1．8 計(jì)量比對(duì)
1．9 總結(jié)與展望
1．9．1 總結(jié)
1．9．2 展望
參考文獻(xiàn)
第2章 國(guó)家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施及石墨烯材料計(jì)量
2．1 我國(guó)古代質(zhì)量觀——-度量衡
2．2 現(xiàn)代質(zhì)量觀——-國(guó)家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施
2．3 計(jì)量在國(guó)家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施中的基礎(chǔ)地位
2．4 納米技術(shù)對(duì)計(jì)量技術(shù)的需求
2．5 石墨烯材料產(chǎn)業(yè)國(guó)家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施技術(shù)發(fā)展
2．6 石墨烯材料關(guān)鍵特性參數(shù)調(diào)研
參考文獻(xiàn)
第3章 石墨烯材料拉曼光譜計(jì)量技術(shù)
3．1 概述
3．2 拉曼光譜儀溯源
3．2．1 拉曼光譜測(cè)量原理
3．2．2 拉曼頻移的溯源
3．2．3 拉曼相對(duì)強(qiáng)度的溯源
3．3 拉曼頻移和相對(duì)強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制
3．3．1 拉曼頻移標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
3．3．2 拉曼相對(duì)強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
3．4 基于拉曼頻移和相對(duì)強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)拉曼光譜儀的方法
3．4．1 基于拉曼頻移標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)拉曼光譜儀的方法
3．4．2 基于拉曼相對(duì)強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)拉曼光譜儀的方法
3．5 石墨烯材料拉曼光譜測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)方法
3．5．1 測(cè)量方法研究
3．5．2 標(biāo)準(zhǔn)方法建立過(guò)程中的國(guó)內(nèi)比對(duì)
3．6 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第4章 X射線衍射法測(cè)量石墨烯材料晶體結(jié)構(gòu)
4．1 概述
4．2 設(shè)備溯源和校準(zhǔn)
4．2．1 設(shè)備溯源
4．2．2 設(shè)備校準(zhǔn)
4．3 測(cè)量方法研究
4．3．1 測(cè)量樣品準(zhǔn)備
4．3．2 取樣原則
4．3．3 測(cè)量條件
4．3．4 圖譜分析及數(shù)據(jù)處理
4．4 計(jì)量比對(duì)
4．5 標(biāo)準(zhǔn)方法
4．6 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第5章 原子力顯微鏡法測(cè)量石墨烯材料厚度
5．1 概述
5．2 原子力顯微鏡技術(shù)原理
5．3 原子力顯微鏡設(shè)備校準(zhǔn)與溯源
5．4 測(cè)量方法建立
5．4．1 AFM掃描模式的選擇
5．4．2 AFM測(cè)量用基底的影響
5．4．3 AFM測(cè)量參數(shù)的影響
5．4．4 AFM數(shù)據(jù)分析處理的方法
5．4．5 不確定度評(píng)定
5．5 計(jì)量比對(duì)
5．5．1 比對(duì)樣品的選取
5．5．2 國(guó)內(nèi)比對(duì)
5．5．3 國(guó)際比對(duì)
5．6 測(cè)量方法標(biāo)準(zhǔn)化
5．7 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第6章 石墨烯材料電子顯微鏡計(jì)量技術(shù)
6．1 掃描電鏡測(cè)量石墨烯材料片層尺寸和覆蓋度
6．1．1 掃描電鏡溯源及校準(zhǔn)
6．1．2 石墨烯片層尺寸測(cè)量方法
6．1．3 大范圍金屬基底上石墨烯薄膜覆蓋度的測(cè)量方法
6．2 透射電鏡測(cè)量石墨烯材料形貌、層數(shù)和層間距
6．2．1 透射電鏡校準(zhǔn)溯源
6．2．2 透射電鏡放大倍率校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
6．2．3 透射電鏡校準(zhǔn)方法
6．2．4 石墨烯形貌、層數(shù)和層間距的透射電鏡測(cè)量方法
6．3 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第7章 石墨烯粉體化學(xué)成分測(cè)量技術(shù)
7．1 概述
7．2 XPS儀器測(cè)量要求
7．2．1 XPS儀器簡(jiǎn)介
7．2．2 XPS儀器檢定校準(zhǔn)
7．2．3 XPS儀器檢定校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
7．2．4 XPS儀器檢測(cè)注意事項(xiàng)
7．3 石墨烯粉體的C-O測(cè)量技術(shù)研究
7．3．1 測(cè)量樣品選取
7．3．2 石墨烯粉體XPS測(cè)量方法開(kāi)發(fā)
7．3．3 石墨烯粉體C/O測(cè)量實(shí)例
7．4 ICPMS儀器測(cè)量要求
7．5 石墨烯粉體中金屬雜質(zhì)測(cè)量技術(shù)研究
7．5．1 測(cè)量樣品處理
7．5．2 石墨烯粉體的ICPMS測(cè)量程序
7．5．3 石墨烯粉體中金屬雜質(zhì)測(cè)量實(shí)例
7．6 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法開(kāi)發(fā)
7．7 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
附錄1 X射線衍射儀的溯源性研究
附錄2 掠入射X射線反射膜厚測(cè)量?jī)x器校準(zhǔn)
索引
1．1 計(jì)量概述
1．2 計(jì)量與測(cè)量
1．2．1 測(cè)量
1．2．2 計(jì)量
1．2．3 計(jì)量特點(diǎn)
1．3 測(cè)量誤差與測(cè)量不確定度
1．3．1 測(cè)量誤差
1．3．2 測(cè)量不確定度
1．4 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
1．5 計(jì)量的作用
1．5．1 計(jì)量對(duì)國(guó)民經(jīng)濟(jì)的作用
1．5．2 計(jì)量在基礎(chǔ)研究中的作用
1．6 材料計(jì)量概述
1．6．1 材料計(jì)量研究?jī)?nèi)容
1．6．2 材料計(jì)量研究成果及社會(huì)服務(wù)
1．6．3 材料計(jì)量國(guó)內(nèi)外現(xiàn)狀
1．7 國(guó)際計(jì)量組織
1．7．1 國(guó)際計(jì)量局（BIPM）
1．7．2 亞太計(jì)量規(guī)劃組織（APMP）
1．7．3 先進(jìn)材料與標(biāo)準(zhǔn)凡爾賽合作計(jì)劃（VAMAS）
1．8 計(jì)量比對(duì)
1．9 總結(jié)與展望
1．9．1 總結(jié)
1．9．2 展望
參考文獻(xiàn)
第2章 國(guó)家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施及石墨烯材料計(jì)量
2．1 我國(guó)古代質(zhì)量觀——-度量衡
2．2 現(xiàn)代質(zhì)量觀——-國(guó)家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施
2．3 計(jì)量在國(guó)家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施中的基礎(chǔ)地位
2．4 納米技術(shù)對(duì)計(jì)量技術(shù)的需求
2．5 石墨烯材料產(chǎn)業(yè)國(guó)家質(zhì)量基礎(chǔ)設(shè)施技術(shù)發(fā)展
2．6 石墨烯材料關(guān)鍵特性參數(shù)調(diào)研
參考文獻(xiàn)
第3章 石墨烯材料拉曼光譜計(jì)量技術(shù)
3．1 概述
3．2 拉曼光譜儀溯源
3．2．1 拉曼光譜測(cè)量原理
3．2．2 拉曼頻移的溯源
3．2．3 拉曼相對(duì)強(qiáng)度的溯源
3．3 拉曼頻移和相對(duì)強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制
3．3．1 拉曼頻移標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
3．3．2 拉曼相對(duì)強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
3．4 基于拉曼頻移和相對(duì)強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)拉曼光譜儀的方法
3．4．1 基于拉曼頻移標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)拉曼光譜儀的方法
3．4．2 基于拉曼相對(duì)強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)拉曼光譜儀的方法
3．5 石墨烯材料拉曼光譜測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)方法
3．5．1 測(cè)量方法研究
3．5．2 標(biāo)準(zhǔn)方法建立過(guò)程中的國(guó)內(nèi)比對(duì)
3．6 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第4章 X射線衍射法測(cè)量石墨烯材料晶體結(jié)構(gòu)
4．1 概述
4．2 設(shè)備溯源和校準(zhǔn)
4．2．1 設(shè)備溯源
4．2．2 設(shè)備校準(zhǔn)
4．3 測(cè)量方法研究
4．3．1 測(cè)量樣品準(zhǔn)備
4．3．2 取樣原則
4．3．3 測(cè)量條件
4．3．4 圖譜分析及數(shù)據(jù)處理
4．4 計(jì)量比對(duì)
4．5 標(biāo)準(zhǔn)方法
4．6 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第5章 原子力顯微鏡法測(cè)量石墨烯材料厚度
5．1 概述
5．2 原子力顯微鏡技術(shù)原理
5．3 原子力顯微鏡設(shè)備校準(zhǔn)與溯源
5．4 測(cè)量方法建立
5．4．1 AFM掃描模式的選擇
5．4．2 AFM測(cè)量用基底的影響
5．4．3 AFM測(cè)量參數(shù)的影響
5．4．4 AFM數(shù)據(jù)分析處理的方法
5．4．5 不確定度評(píng)定
5．5 計(jì)量比對(duì)
5．5．1 比對(duì)樣品的選取
5．5．2 國(guó)內(nèi)比對(duì)
5．5．3 國(guó)際比對(duì)
5．6 測(cè)量方法標(biāo)準(zhǔn)化
5．7 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第6章 石墨烯材料電子顯微鏡計(jì)量技術(shù)
6．1 掃描電鏡測(cè)量石墨烯材料片層尺寸和覆蓋度
6．1．1 掃描電鏡溯源及校準(zhǔn)
6．1．2 石墨烯片層尺寸測(cè)量方法
6．1．3 大范圍金屬基底上石墨烯薄膜覆蓋度的測(cè)量方法
6．2 透射電鏡測(cè)量石墨烯材料形貌、層數(shù)和層間距
6．2．1 透射電鏡校準(zhǔn)溯源
6．2．2 透射電鏡放大倍率校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
6．2．3 透射電鏡校準(zhǔn)方法
6．2．4 石墨烯形貌、層數(shù)和層間距的透射電鏡測(cè)量方法
6．3 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第7章 石墨烯粉體化學(xué)成分測(cè)量技術(shù)
7．1 概述
7．2 XPS儀器測(cè)量要求
7．2．1 XPS儀器簡(jiǎn)介
7．2．2 XPS儀器檢定校準(zhǔn)
7．2．3 XPS儀器檢定校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
7．2．4 XPS儀器檢測(cè)注意事項(xiàng)
7．3 石墨烯粉體的C-O測(cè)量技術(shù)研究
7．3．1 測(cè)量樣品選取
7．3．2 石墨烯粉體XPS測(cè)量方法開(kāi)發(fā)
7．3．3 石墨烯粉體C/O測(cè)量實(shí)例
7．4 ICPMS儀器測(cè)量要求
7．5 石墨烯粉體中金屬雜質(zhì)測(cè)量技術(shù)研究
7．5．1 測(cè)量樣品處理
7．5．2 石墨烯粉體的ICPMS測(cè)量程序
7．5．3 石墨烯粉體中金屬雜質(zhì)測(cè)量實(shí)例
7．6 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法開(kāi)發(fā)
7．7 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
附錄1 X射線衍射儀的溯源性研究
附錄2 掠入射X射線反射膜厚測(cè)量?jī)x器校準(zhǔn)
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