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電子技術基礎實驗(高等學校規劃教材) 版權信息
- ISBN：9787122384737
- 條形碼：9787122384737 ; 978-7-122-38473-7
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>
電子技術基礎實驗(高等學校規劃教材) 內容簡介
本書是根據電子技術的發展趨勢和電子信息類、電氣類、自動化類等相關專業對電子技術實驗的具體要求，結合多年來的實踐教學工作，并針對學生工程實踐能力和創新能力的培養而編寫的一本實踐性較強的教材。 全書共六章，以電子技術實驗為主，全面介紹了電子技術實驗知識、模擬電子技術實驗、數字電子技術實驗、模擬電子技術實驗基礎知識、數字電子技術實驗基礎知識、噪聲及抑制等內容，很后附有元器件參數介紹和常用數字集成電路等內容。 本書適合作為高等學校電子信息類、電氣類、自動化類等相關專業的電子技術實驗教材，也可供從事電子技術的工程技術人員參考。
電子技術基礎實驗(高等學校規劃教材) 目錄
**章 電子技術實驗概述 1
**節 電子技術實驗的基本特點 1
第二節 電子技術實驗的安全操作 2
第三節 實驗數據的處理 3
第四節 撰寫實驗報告 5
第二章 模擬電子技術實驗 7
實驗一 常用電子儀器的使用 7
實驗二 晶體二、三極管測試 11
實驗三 單級交流放大電路 17
實驗四 負反饋放大電路 18
實驗五 比例求和運算電路 20
實驗六 積分與微分電路 23
實驗七 波形發生電路 24
實驗八 整流濾波與并聯穩壓電路 27
實驗九 比例求和運算電路(直流) 29
實驗十 LC振蕩器及選頻放大器 32
實驗十一 有源濾波器 33
實驗十二 電壓比較器 35
實驗十三 射極跟隨器 37
實驗十四 差動放大電路 39
實驗十五 集成功率放大器 41
實驗十六 集成穩壓器 42
實驗十七 萬用表的使用 44
實驗十八 集成直流穩壓電源設計 51
實驗十九 函數發生器設計 56
實驗二十 水溫控制系統設計 64
第三章 數字電子技術實驗 67
實驗一 TTL與非門電壓傳輸特性及參數測試 67
實驗二 TTL邏輯門電路功能測試 69
實驗三 組合邏輯電路功能測試 71
實驗四 編碼器和譯碼器功能測試 72
實驗五 數據選擇器和數值比較器功能測試 75
實驗六 觸發器的功能測試及應用 77
實驗七 計數、譯碼和顯示電路 80
實驗八 移位寄存器及其應用 84
實驗九 用與非門組成的微分型單穩觸發器和多諧振蕩器 88
實驗十 555時基電路及應用 90
實驗十一 數模(D/A)和模數(A/D)轉換器 93
實驗十二 多路智力競賽搶答器(設計) 98
實驗十三 數字電子鐘(設計) 103
實驗十四 交通燈控制電路(設計) 106
第四章 模擬電子技術實驗基礎知識 110
**節 半導體分立器件 110
第二節 正確使用測量儀器 117
第三節 合理地安裝、布線實驗裝置 119
第四節 選擇合適的測試點 121
第五章 數字電子技術實驗基礎知識 123
**節 半導體集成電路 123
第二節 邏輯圖形符號 127
第三節 TTL集成電路與CMOS集成電路的使用規則 129
第四節 電路故障檢查與排除 131
第六章 噪聲(干擾)及抑制 134
**節 噪聲的來源 134
第二節 噪聲與干擾的一般途徑 135
第三節 噪聲的抑制方法 137
第四節 如何處理寄生振蕩 138
第五節 噪聲與接地 139
附錄 144
附錄A 常用電子元器件圖形符號 144
附錄B 常用晶體管參數 145
附錄C 常用集成運算放大器主要參數 148
附錄D 常用數字集成電路型號及引腳 148
附錄E 常用IC封裝形式 153
附錄F 電量符號說明 159
參考文獻 161
**節 電子技術實驗的基本特點 1
第二節 電子技術實驗的安全操作 2
第三節 實驗數據的處理 3
第四節 撰寫實驗報告 5
第二章 模擬電子技術實驗 7
實驗一 常用電子儀器的使用 7
實驗二 晶體二、三極管測試 11
實驗三 單級交流放大電路 17
實驗四 負反饋放大電路 18
實驗五 比例求和運算電路 20
實驗六 積分與微分電路 23
實驗七 波形發生電路 24
實驗八 整流濾波與并聯穩壓電路 27
實驗九 比例求和運算電路(直流) 29
實驗十 LC振蕩器及選頻放大器 32
實驗十一 有源濾波器 33
實驗十二 電壓比較器 35
實驗十三 射極跟隨器 37
實驗十四 差動放大電路 39
實驗十五 集成功率放大器 41
實驗十六 集成穩壓器 42
實驗十七 萬用表的使用 44
實驗十八 集成直流穩壓電源設計 51
實驗十九 函數發生器設計 56
實驗二十 水溫控制系統設計 64
第三章 數字電子技術實驗 67
實驗一 TTL與非門電壓傳輸特性及參數測試 67
實驗二 TTL邏輯門電路功能測試 69
實驗三 組合邏輯電路功能測試 71
實驗四 編碼器和譯碼器功能測試 72
實驗五 數據選擇器和數值比較器功能測試 75
實驗六 觸發器的功能測試及應用 77
實驗七 計數、譯碼和顯示電路 80
實驗八 移位寄存器及其應用 84
實驗九 用與非門組成的微分型單穩觸發器和多諧振蕩器 88
實驗十 555時基電路及應用 90
實驗十一 數模(D/A)和模數(A/D)轉換器 93
實驗十二 多路智力競賽搶答器(設計) 98
實驗十三 數字電子鐘(設計) 103
實驗十四 交通燈控制電路(設計) 106
第四章 模擬電子技術實驗基礎知識 110
**節 半導體分立器件 110
第二節 正確使用測量儀器 117
第三節 合理地安裝、布線實驗裝置 119
第四節 選擇合適的測試點 121
第五章 數字電子技術實驗基礎知識 123
**節 半導體集成電路 123
第二節 邏輯圖形符號 127
第三節 TTL集成電路與CMOS集成電路的使用規則 129
第四節 電路故障檢查與排除 131
第六章 噪聲(干擾)及抑制 134
**節 噪聲的來源 134
第二節 噪聲與干擾的一般途徑 135
第三節 噪聲的抑制方法 137
第四節 如何處理寄生振蕩 138
第五節 噪聲與接地 139
附錄 144
附錄A 常用電子元器件圖形符號 144
附錄B 常用晶體管參數 145
附錄C 常用集成運算放大器主要參數 148
附錄D 常用數字集成電路型號及引腳 148
附錄E 常用IC封裝形式 153
附錄F 電量符號說明 159
參考文獻 161
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