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實(shí)用電子電氣產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)/馮利峰 版權(quán)信息
- ISBN：9787121295133
- 條形碼：9787121295133 ; 978-7-121-29513-3
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊(cè)數(shù)：暫無(wú)
- 重量：暫無(wú)
- 所屬分類(lèi)：>>
實(shí)用電子電氣產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)/馮利峰 本書(shū)特色
本書(shū)以國(guó)家規(guī)范為依據(jù)，以人才培養(yǎng)目標(biāo)為導(dǎo)向，以企業(yè)應(yīng)用為主線，重點(diǎn)介紹了電子電氣產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)的基本原則和方法。全書(shū)引入了豐富的實(shí)例，降低了理論難度，內(nèi)容翔實(shí)、實(shí)用，應(yīng)用簡(jiǎn)便。 全書(shū)共11章，內(nèi)容包括：可靠性基礎(chǔ)知識(shí)、元器件選擇技術(shù)、環(huán)境應(yīng)力篩選、元器件失效分析、降額設(shè)計(jì)方法、熱設(shè)計(jì)、EMC設(shè)計(jì)、容差分析與設(shè)計(jì)、可靠性預(yù)計(jì)、電子元器件使用可靠性、可靠性試驗(yàn)等。
實(shí)用電子電氣產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)/馮利峰 內(nèi)容簡(jiǎn)介
本書(shū)以國(guó)家規(guī)范為依據(jù)，以人才培養(yǎng)目標(biāo)為導(dǎo)向，以企業(yè)應(yīng)用為主線，重點(diǎn)介紹了電子電氣產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)的基本原則和方法。全書(shū)引入了豐富的實(shí)例，降低了理論難度，內(nèi)容翔實(shí)、實(shí)用，應(yīng)用簡(jiǎn)便。 全書(shū)共11章，內(nèi)容包括：可靠性基礎(chǔ)知識(shí)、元器件選擇技術(shù)、環(huán)境應(yīng)力篩選、元器件失效分析、降額設(shè)計(jì)方法、熱設(shè)計(jì)、EMC設(shè)計(jì)、容差分析與設(shè)計(jì)、可靠性預(yù)計(jì)、電子元器件使用可靠性、可靠性試驗(yàn)等。
實(shí)用電子電氣產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)/馮利峰 目錄
目 錄
**章 可靠性基礎(chǔ)知識(shí) 1
**節(jié) 可靠性基本概念 1
第二節(jié) 可靠性參數(shù)體系及可靠性常用分布 4
實(shí)踐練習(xí)一 7
第二章 元器件選擇技術(shù) 9
**節(jié) 電子元器件的選擇與控制方法 9
第二節(jié) 電子元器件可靠性與質(zhì)量等級(jí) 11
第三節(jié) 電子元器件的選用要求與質(zhì)量標(biāo)記 23
第四節(jié) 電子元器件的選擇 24
實(shí)踐練習(xí)二 32
第三章 環(huán)境應(yīng)力篩選 34
**節(jié) 環(huán)境應(yīng)力篩選的基本概念 34
第二節(jié) 環(huán)境應(yīng)力篩選的基本原理 38
第三節(jié) 環(huán)境應(yīng)力篩選方案設(shè)計(jì) 47
第四節(jié) 元器件環(huán)境應(yīng)力篩選的試驗(yàn)方法 55
實(shí)踐練習(xí)三 62
第四章 元器件失效分析 64
**節(jié) 元器件的主要失效模式、失效機(jī)理和失效原因 64
第二節(jié) 元器件破壞性物理分析 75
第三節(jié) 電子元器件失效分析技術(shù) 78
第四節(jié) 假冒、翻新器件及電子元器件失效分析方法 80
實(shí)踐練習(xí)四 86
第五章 降額設(shè)計(jì)方法 87
**節(jié) 降額設(shè)計(jì)的概念及一般要求 87
第二節(jié) 降額準(zhǔn)則及應(yīng)用 89
實(shí)踐練習(xí)五 116
第六章 熱設(shè)計(jì) 118
**節(jié) 熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識(shí) 118
第二節(jié) 熱設(shè)計(jì)方法 133
第三節(jié) 散熱風(fēng)扇的基本定律及噪聲的評(píng)估 141
第四節(jié) 產(chǎn)品溫度控制標(biāo)準(zhǔn)及要求 142
實(shí)踐練習(xí)六 147
第七章 EMC設(shè)計(jì) 149
**節(jié) EMC基本概念 149
第二節(jié) EMC元件 156
第三節(jié) EMC設(shè)計(jì)參考電路 177
第四節(jié) 產(chǎn)品內(nèi)部的 EMC 設(shè)計(jì)技巧 189
第五節(jié) 電磁干擾的屏蔽方法 191
實(shí)踐練習(xí)七 197
第八章 容差分析與設(shè)計(jì) 198
**節(jié) 容差分析與設(shè)計(jì)基本概念 198
第二節(jié) 容差分析方法示例 201
實(shí)踐練習(xí)八 211
第九章 可靠性預(yù)計(jì) 212
**節(jié) 可靠性預(yù)計(jì)基礎(chǔ)知識(shí) 212
第二節(jié) 元器件應(yīng)力分析可靠性預(yù)計(jì)法 217
第三節(jié) 電子電氣產(chǎn)品可靠性壽命預(yù)計(jì) 223
實(shí)踐練習(xí)九 228
第十章 電子元器件使用可靠性 230
**節(jié) 集成電路的使用可靠性 230
第二節(jié) 晶體管和特種半導(dǎo)體器件的使用可靠性 239
第三節(jié) 電阻器、電容器、繼電器的使用可靠性問(wèn)題 243
實(shí)踐練習(xí)十 248
第十一章 可靠性試驗(yàn) 249
**節(jié) 電子電氣產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 249
第二節(jié) 常用環(huán)境試驗(yàn)方法 254
第三節(jié) 高加速可靠性試驗(yàn) 260
實(shí)踐練習(xí)十一 270
附錄：相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)系列 271
參考文獻(xiàn) 275
**章 可靠性基礎(chǔ)知識(shí) 1
**節(jié) 可靠性基本概念 1
第二節(jié) 可靠性參數(shù)體系及可靠性常用分布 4
實(shí)踐練習(xí)一 7
第二章 元器件選擇技術(shù) 9
**節(jié) 電子元器件的選擇與控制方法 9
第二節(jié) 電子元器件可靠性與質(zhì)量等級(jí) 11
第三節(jié) 電子元器件的選用要求與質(zhì)量標(biāo)記 23
第四節(jié) 電子元器件的選擇 24
實(shí)踐練習(xí)二 32
第三章 環(huán)境應(yīng)力篩選 34
**節(jié) 環(huán)境應(yīng)力篩選的基本概念 34
第二節(jié) 環(huán)境應(yīng)力篩選的基本原理 38
第三節(jié) 環(huán)境應(yīng)力篩選方案設(shè)計(jì) 47
第四節(jié) 元器件環(huán)境應(yīng)力篩選的試驗(yàn)方法 55
實(shí)踐練習(xí)三 62
第四章 元器件失效分析 64
**節(jié) 元器件的主要失效模式、失效機(jī)理和失效原因 64
第二節(jié) 元器件破壞性物理分析 75
第三節(jié) 電子元器件失效分析技術(shù) 78
第四節(jié) 假冒、翻新器件及電子元器件失效分析方法 80
實(shí)踐練習(xí)四 86
第五章 降額設(shè)計(jì)方法 87
**節(jié) 降額設(shè)計(jì)的概念及一般要求 87
第二節(jié) 降額準(zhǔn)則及應(yīng)用 89
實(shí)踐練習(xí)五 116
第六章 熱設(shè)計(jì) 118
**節(jié) 熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識(shí) 118
第二節(jié) 熱設(shè)計(jì)方法 133
第三節(jié) 散熱風(fēng)扇的基本定律及噪聲的評(píng)估 141
第四節(jié) 產(chǎn)品溫度控制標(biāo)準(zhǔn)及要求 142
實(shí)踐練習(xí)六 147
第七章 EMC設(shè)計(jì) 149
**節(jié) EMC基本概念 149
第二節(jié) EMC元件 156
第三節(jié) EMC設(shè)計(jì)參考電路 177
第四節(jié) 產(chǎn)品內(nèi)部的 EMC 設(shè)計(jì)技巧 189
第五節(jié) 電磁干擾的屏蔽方法 191
實(shí)踐練習(xí)七 197
第八章 容差分析與設(shè)計(jì) 198
**節(jié) 容差分析與設(shè)計(jì)基本概念 198
第二節(jié) 容差分析方法示例 201
實(shí)踐練習(xí)八 211
第九章 可靠性預(yù)計(jì) 212
**節(jié) 可靠性預(yù)計(jì)基礎(chǔ)知識(shí) 212
第二節(jié) 元器件應(yīng)力分析可靠性預(yù)計(jì)法 217
第三節(jié) 電子電氣產(chǎn)品可靠性壽命預(yù)計(jì) 223
實(shí)踐練習(xí)九 228
第十章 電子元器件使用可靠性 230
**節(jié) 集成電路的使用可靠性 230
第二節(jié) 晶體管和特種半導(dǎo)體器件的使用可靠性 239
第三節(jié) 電阻器、電容器、繼電器的使用可靠性問(wèn)題 243
實(shí)踐練習(xí)十 248
第十一章 可靠性試驗(yàn) 249
**節(jié) 電子電氣產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 249
第二節(jié) 常用環(huán)境試驗(yàn)方法 254
第三節(jié) 高加速可靠性試驗(yàn) 260
實(shí)踐練習(xí)十一 270
附錄：相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)系列 271
參考文獻(xiàn) 275
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實(shí)用電子電氣產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)/馮利峰 作者簡(jiǎn)介
馮利峰，半導(dǎo)體物理專(zhuān)業(yè)畢業(yè)，廣東機(jī)電職業(yè)技術(shù)學(xué)院專(zhuān)業(yè)骨干教師，主持校級(jí)精品課程、校級(jí)開(kāi)放課程《電子電器產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)與提升》的建設(shè)，主持和參與多項(xiàng)省級(jí)和校級(jí)專(zhuān)業(yè)教改課題，具有豐富的教學(xué)和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。
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