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光電子器件微波封裝和測試 版權信息
- ISBN:9787030330048
- 條形碼:9787030330048 ; 978-7-03-033004-8
- 裝幀:暫無
- 冊數:暫無
- 重量:暫無
- 所屬分類:>>
光電子器件微波封裝和測試 本書特色
本書總結了作者多年來的工作經驗和近期研究成果,系統地介紹了高速光電子器件測試和微波封裝設計方面的實用技術,先進性、學術性和實用性兼備。全書共12章,內容包括半導體激光器、光調制器和光探測器三種典型高速光電子器件的微波封裝設計,網絡分析儀掃頻測試法、小信號功率測試法、光外差技術等小信號頻率響應特性測試方法及測試系統校準方法,數字和模擬通信光電子器件大信號頻率響應特性測試方法,光電子器件本征響應特性分析和應用,光譜與頻譜分析技術,光注入技術及其應用。
光電子器件微波封裝和測試 內容簡介
本書總結了作者多年來的工作經驗和近期研究成果,系統地介紹了高速光電子器件測試和微波封裝設計方面的實用技術,先進性、學術性和實用性兼備。全書共12章,內容包括半導體激光器、光調制器和光探測器三種典型高速光電子器件的微波封裝設計,網絡分析儀掃頻測試法、小信號功率測試法、光外差技術等小信號頻率響應特性測試方法及測試系統校準方法,數字和模擬通信光電子器件大信號頻率響應特性測試方法,光電子器件本征響應特性分析和應用,光譜與頻譜分析技術,光注入技術及其應用。
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