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毫米波與太赫茲天線測量技術 版權信息
- ISBN：9787030460264
- 條形碼：9787030460264 ; 978-7-03-046026-4
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
毫米波與太赫茲天線測量技術 本書特色
《毫米波與太赫茲天線測量技術》主要介紹毫米波及太赫茲頻段下天線測量的基本方法及基本原理，特別是對緊縮場測量系統進行了詳細的論述。書中涉及的三反鏡系統是工作于毫米波及太赫茲頻段的多反射鏡緊縮場系統。 《毫米波與太赫茲天線測量技術》適合航空航天、雷達、射電天文探測及電子工程領域從事天線設計及測試的相關研究人員及工程人員使用。
毫米波與太赫茲天線測量技術 內容簡介
毫米波與太赫茲技術是我國正在大力發展的領域。目前，已經產生了多項應用成果，比如遙感探測、天文探測、反恐成像。這些應用系統中，天線的測量是一項比較難以完成的工作，其主要原因受限于測量手段。本書全面總結了目前通用的天線測量方法，重點介紹了一種新型三反射鏡天線測量系統的設計原理、優化設計、參數分析、加工校準以及測量測試。
毫米波與太赫茲天線測量技術 目錄
第1章 緒論1．1 毫米波與太赫茲技術的發展與應用1．2 天線遠場及近場測量技術1．3 緊縮場天線測量方法1．4 毫米波及太赫茲天線測量參考文獻第2章 基本理論2．1 坐標系統2．1．1 矢量運算2．1．2 坐標系2．2 天線測量的基本參數2．2．1 輻射功率和輻射電阻2．2．2 天線的效率2．2．3 方向函數2．2．4 方向圖2．2．5 方向圖參數2．2．6 方向系數2．2．7 增益系數2．2．8 天線極化2．3 天線測量方式2．3．1 天線場區2．3．2 天線遠場測量方式2．3．3 天線近場測量方式2．4 平面掃描近場測量基本理論2．4．1 近場測量2．4．2 平面波的展開參考文獻第3章 緊縮場天線測量方法3．1 緊縮場天線測量方法的理論3．1．1 緊縮場的發展與現狀3．1．2 緊縮場指標3．1．3 使用反射鏡邊緣處理方法減小衍射效應3．1．4 緊縮場測量方法3．2 單反射鏡緊縮場天線測量系統3．3 雙反射鏡緊縮場天線測量系統3．3．1 卡塞格林雙反射鏡catr3．3．2 雙拋物柱面反射鏡catr3．3．3 雙賦形反射鏡catr3．4 單拋物柱面反射鏡catr3．5 小結參考文獻第4章 三反射鏡緊縮場測量系統設計原理4．1 三反射鏡天線測量系統的結構4．2 三反射鏡天線測量系統的設計方法4．2．1 幾何光學射線跟蹤法4．2．2 三反射鏡catr設計步驟4．3 小結參考文獻第5章 三反射鏡緊縮場測量系統設計實例5．1 三反射鏡緊縮場測量系統設計實例5．1．1 卡塞格林-格雷戈里反射形式的緊縮場系統5．1．2 雙格雷戈里反射形式的緊縮場系統5．2 三反射鏡緊縮場測量系統的參數優化5．2．1 自由量設計5．3 雙格雷戈里三反射鏡緊縮場天線測量系統的靈敏度分析5．3．1 卡塞格林格雷戈里緊縮場天線測量系統的靈敏度分析5．3．2 雙格雷戈里緊縮場天線測量系統的靈敏度分析第6章 微波暗室與射頻系統6．1 遠場暗室6．2 近場暗室6．3 吸波材料6．4 暗室性能指標參數及其物理含義6．5 暗室設計實例6．5．1 設計原則6．5．2 執行的標準6．5．3 材料選擇和布置方案6．5．4 吸波材料的安裝方案6．5．5 四側墻面及頂面6．5．6 地面6．5．7 特殊部位吸波材料的安裝6．5．8 通風波導窗6．5．9 接地6．6 毫米波測試儀器6．6．1 目前主流毫米波測試方案介紹6．6．2 緊縮場天線測試系統工作原理6．7 暗室整體第7章 三反射緊縮場天線測量系統的性能評估7．1 饋源測試7．2 鏡面的加工與測試7．3 靜區的測量7．4 對比測量7．5 總結附錄一 幾何光學法概論參考文獻附錄二 物理光學法概論
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