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光電測試技術(shù)-(第3版) 版權(quán)信息
- ISBN：9787121252624
- 條形碼：9787121252624 ; 978-7-121-25262-4
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊數(shù)：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
光電測試技術(shù)-(第3版) 本書特色
本書以光電測試方法為主線，較全面地介紹了在光電測試技術(shù)中所涉及的基本理論和概念、主要測試原理、測試方法、儀器組成和主要技術(shù)特點。本書除緒論外共8章，緒論介紹了光電測試技術(shù)的發(fā)展歷史、概況、特點，以及在光電測試技術(shù)中的數(shù)據(jù)處理方法；第1章介紹了光電測試技術(shù)中的光輻射體和光輻射探測器的基本性能和特點；第2章介紹了光學系統(tǒng)性能的測試技術(shù)；第3章介紹了光學元件特性的測試技術(shù)；第4章介紹了色度學的基本原理和色度測試技術(shù)；第5～7章介紹了激光測試技術(shù)，包括激光準直、測速、測距以及干涉、衍射測試技術(shù)；第8章介紹了技術(shù)成熟應用廣泛的莫爾條紋、圖像測試、光纖傳感、層析探測、共焦掃描顯微技術(shù)及納米技術(shù)中的光電測試技術(shù)等。上述光電測試技術(shù)廣泛地應用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、文教、衛(wèi)生、國防、科研和家庭生活等各個領(lǐng)域。
光電測試技術(shù)-(第3版) 內(nèi)容簡介
本書以光電測試方法為主線，較全面地介紹了在光電測試技術(shù)中所涉及的基本理論和概念、主要測試原理、測試方法、儀器組成和主要技術(shù)特點。本書除緒論外共8章，緒論介紹了光電測試技術(shù)的發(fā)展歷史、概況、特點，以及在光電測試技術(shù)中的數(shù)據(jù)處理方法；第1章介紹了光電測試技術(shù)中的光輻射體和光輻射探測器的基本性能和特點；第2章介紹了光學系統(tǒng)性能的測試技術(shù)；第3章介紹了光學元件特性的測試技術(shù)；第4章介紹了色度學的基本原理和色度測試技術(shù)；第5～7章介紹了激光測試技術(shù)，包括激光準直、測速、測距以及干涉、衍射測試技術(shù)；第8章介紹了技術(shù)成熟應用廣泛的莫爾條紋、圖像測試、光纖傳感、層析探測、共焦掃描顯微技術(shù)及納米技術(shù)中的光電測試技術(shù)等。上述光電測試技術(shù)廣泛地應用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、文教、衛(wèi)生、國防、科研和家庭生活等各個領(lǐng)域。
光電測試技術(shù)-(第3版) 目錄
緒論
第1章 光輻射體與光輻射探測器件
1.1 輻射度學與光度學基礎(chǔ)
1.1.1 輻射度學與光度學的基本物理量
1.1.2 輻射度學與光度學的基本定律
1.1.3 光輻射量計算舉例
1.1.4 光輻射在大氣中的傳播
1.2 光輻射體
1.2.1 人工光輻射體（光源）的基本性能參數(shù)
1.2.2 自然光輻射體
1.2.3 人工光輻射體
1.3 光輻射探測器件
1.3.1 光輻射探測器件的性能參數(shù)
1.3.2 光子探測器
1.3.3 熱探測器件
思考題與習題1
第2章 光學系統(tǒng)測試技術(shù)
2.1 光電系統(tǒng)的對準和調(diào)焦技術(shù)
2.1.1 目視系統(tǒng)的對準和調(diào)焦
2.1.2 光電對準技術(shù)
2.1.3 光電調(diào)焦技術(shù)
2.2 焦距的測量
2.2.1 概述
2.2.2 放大率法
2.2.3 附加透鏡法
2.2.4 精密測角法
2.2.5 莫爾偏折法
2.3 星點檢驗
2.3.1 星點檢驗的理論基礎(chǔ)
2.3.2 星點檢驗條件
2.4 分辨率測試技術(shù)
2.4.1 衍射受限系統(tǒng)的分辨率
2.4.2 分辨率測試方法
2.5 光度學量測試技術(shù)
2.5.1 積分球及其應用
2.5.2 光學系統(tǒng)像面照度均勻性測試技術(shù)
2.5.3 光學系統(tǒng)透過率測試技術(shù)
2.5.4 光學系統(tǒng)雜散光分析與測試
2.6 光學傳遞函數(shù)測試技術(shù)
2.6.1 光學傳遞函數(shù)測試基礎(chǔ)
2.6.2 光學傳遞函數(shù)測試原理及方法
2.6.3 光學傳遞函數(shù)用于像質(zhì)評價
思考題與習題2
第3章 光學元件特性測試技術(shù)
3.1 光學材料特性測試
3.1.1 光學材料折射率的測量
3.1.2 色散系數(shù)的測量
3.1.3 光學材料折射率溫度系數(shù)的測試
3.1.4 光學材料其他參數(shù)的測試
3.2 光學元件面形測試技術(shù)
3.2.1 刀口陰影法
3.2.2 子孔徑拼接測試技術(shù)
3.2.3 自由曲面的面形測試技術(shù)
3.3 微光學元件參數(shù)測試
3.3.1 衍射光學元件衍射效率測試
3.3.2 衍射光學元件表面形貌測量
3.3.3 微透鏡陣列焦距測量
3.4 自聚焦透鏡參數(shù)測試
3.4.1 自聚焦透鏡折射率分布測試
3.4.2 自聚焦透鏡數(shù)值孔徑的測量
3.4.3 自聚焦透鏡周期長度的測量
3.4.4 自聚焦透鏡焦斑直徑的測量
思考題與習題3
第4章 色度測試技術(shù)
4.1 色度學的基本概念和實驗定律
4.1.1 顏色混合定律
4.1.2 色度學中的基本概念
4.1.3 CIE標準色度系統(tǒng)
4.1.4 CIE標準照明體和標準光源
4.2 CIE色度計算方法
4.2.1 色品坐標計算
4.2.2 顏色相加計算
4.2.3 主波長和色純度計算
4.3 色度的測試方法和應用
4.3.1 顏色的測量方法和儀器
4.3.2 有色光學玻璃的色度測量例
4.3.3 白度的測量
思考題與習題4
第5章 激光測試技術(shù)
5.1 激光概述
5.1.1 激光的基本性質(zhì)
5.1.2 高斯光束
5.2 激光準直技術(shù)及應用
5.2.1 激光束的壓縮技術(shù)
5.2.2 激光準直測試技術(shù)
5.2.3 激光準直測試技術(shù)的應用
5.3 激光多普勒測速技術(shù)
5.3.1 激光多普勒測速技術(shù)基礎(chǔ)
5.3.2 激光多普勒測速技術(shù)的應用
5.4 激光測距技術(shù)
5.4.1 激光相位測距
5.4.2 脈沖激光測距
5.5 激光三角法測試技術(shù)
5.5.1 激光三角法測試技術(shù)基礎(chǔ)
5.5.2 激光三角法測試技術(shù)的應用
思考題與習題5
第6章 激光干涉測試技術(shù)
6.1 激光干涉測試技術(shù)基礎(chǔ)
6.1.1 干涉原理與干涉條件
6.1.2 影響干涉條紋對比度的因素
6.1.3 共程干涉和非共程干涉
6.1.4 干涉條紋的分析與波面恢復
6.1.5 提高分辨率的方法和干涉條紋的信號處理
6.2 激光斐索型干涉測試技術(shù)
6.2.1 激光斐索型平面干涉測量
6.2.2 斐索型球面干涉儀
6.3 波面剪切干涉測試技術(shù)
6.3.1 波面剪切干涉技術(shù)基本原理
6.3.2 橫向剪切干涉儀及應用
6.3.3 徑向剪切干涉儀及應用
6.4 激光全息干涉測試技術(shù)
6.4.1 全息術(shù)及其基本原理
6.4.2 全息干涉測試技術(shù)
6.4.3 全息干涉測試技術(shù)應用
6.5 激光外差干涉測試技術(shù)
6.5.1 激光外差干涉測試技術(shù)原理
6.5.2 激光外差干涉測試技術(shù)應用
6.6 激光移相干涉測試技術(shù)
6.6.1 激光移相干涉測試技術(shù)原理
6.6.2 激光移相干涉測試技術(shù)的特點
6.6.3 激光移相干涉測試技術(shù)應用
思考題與習題6
第7章 激光衍射測試技術(shù)
7.1 激光衍射測試技術(shù)基礎(chǔ)
7.1.1 惠更斯菲涅耳原理
7.1.2 巴俾涅原理
7.1.3 單縫衍射
7.1.4 圓孔衍射
7.2 激光衍射測量方法
7.2.1 間隙測量法
7.2.2 反射衍射測量法
7.2.3 分離間隙法
7.2.4 互補測量法
7.2.5 艾里斑測量法
7.2.6 衍射頻譜檢測法
7.3 衍射光柵及其應用
7.3.1 衍射光柵的基本特性
7.3.2 衍射光柵的典型應用
思考題與習題7
第8章 其他典型光電測試技術(shù)
8.1 莫爾測試技術(shù)
8.1.1 莫爾測試技術(shù)基礎(chǔ)
8.1.2 莫爾形貌（等高線）測試技術(shù)
8.1.3 莫爾測試技術(shù)的應用
8.2 圖像測試技術(shù)
8.2.1 圖像信息的獲取
8.3.2 圖像的預處理技術(shù)
8.2.3 圖像測試技術(shù)的應用
8.3 光纖傳感技術(shù)
8.3.1 光纖傳感技術(shù)基礎(chǔ)
8.3.2 光纖傳感技術(shù)典型應用
8.4 層析探測技術(shù)
8.4.1 層析探測技術(shù)基礎(chǔ)
8.4.2 層析探測技術(shù)應用
8.5 激光共焦掃描顯微技術(shù)
8.5.1 激光共焦掃描顯微技術(shù)原理
8.5.2 激光共焦掃描顯微技術(shù)的應用
8.6 納米技術(shù)中的光電測試技術(shù)
8.6.1 掃描隧道顯微鏡（STM）
8.6.2 掃描近場光學顯微鏡（SNOM）
8.6.3 光子掃描隧道顯微鏡（PSTM）
8.6.4 亞納米零差檢測干涉系統(tǒng)
8.6.5 亞納米外差檢測干涉系統(tǒng)
8.6.6 亞納米X射線干涉測試技術(shù)
8.6.7 亞納米表面增強拉曼散射測試技術(shù)
思考題與習題8
參考文獻
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光電測試技術(shù)-(第3版) 作者簡介
范志剛，主要從事精密光電測試技術(shù)、氣動光學理論與技術(shù)、空間光電系統(tǒng)與技術(shù)等方向的研究。近年在國內(nèi)外重要學術(shù)刊物上發(fā)表論文50余篇。
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