包郵 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編-第5版
預(yù)估到手價(jià)是按參與促銷活動、以最優(yōu)惠的購買方案計(jì)算出的價(jià)格(不含優(yōu)惠券部分),僅供參考,未必等同于實(shí)際到手價(jià)。
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編-第5版 版權(quán)信息
- ISBN:9787506663229
- 條形碼:9787506663229 ; 978-7-5066-6322-9
- 裝幀:暫無
- 冊數(shù):暫無
- 重量:暫無
- 所屬分類:>>
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編-第5版 內(nèi)容簡介
本冊為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第5版)》,共匯集了截至2011年4月底我國正式發(fā)布且現(xiàn)行有效的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方面的國家標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)70項(xiàng),涉及總則、術(shù)語、各種試驗(yàn)方法、試驗(yàn)導(dǎo)則及環(huán)境參數(shù)測量方法等。其中有25項(xiàng)是2008年以來新制修訂的標(biāo)準(zhǔn)。 本匯編收集的國家標(biāo)準(zhǔn)均為推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)(目錄.中標(biāo)明gb/t),標(biāo)準(zhǔn)年號用四位數(shù)字表示。鑒于部分國家標(biāo)準(zhǔn)是在國家標(biāo)準(zhǔn)清理整頓前出版的,現(xiàn)尚未修訂,故正文部分仍保留原樣;讀者在使用這些國家標(biāo)準(zhǔn)時(shí),其屬性以本目錄上標(biāo)明的為準(zhǔn)(標(biāo)準(zhǔn)正文“引用標(biāo)準(zhǔn)”中標(biāo)準(zhǔn)的屬性請讀者注意查對)。由于所收錄標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布年代不盡相同,我們對標(biāo)準(zhǔn)中所涉及到的有關(guān)量和單位的標(biāo)注方法未作統(tǒng)一改動。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編-第5版 目錄
gb/t 2421.2—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范編制者用信息試驗(yàn)概要
gb/t 2422.1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語
gb/t 2423.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)a:低溫
gb/t 2423.2—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)b:高溫
gb/t 2423.3—2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)cab:溫?zé)嵩囼?yàn)
gb/t 2423.4—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)db:交變濕熱(12 h+12 h循環(huán))
gb/t 2423.5—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ea和導(dǎo)則:沖擊
gb/t 2423.6—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)eb和導(dǎo)則:碰撞
gb/t 2423.7—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)
gb/t 2423.8—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)ed.自由跌落
gb/t 2423.10一2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)fc:振動(正弦)
gb/t 2423.15—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
gb/t 2423.16—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)j及導(dǎo)則:長霉
gb/t 2423.17—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)ka:鹽霧
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