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電子測(cè)量與儀器操作實(shí)訓(xùn) 版權(quán)信息
- ISBN:9787111243229
- 條形碼:9787111243229 ; 978-7-111-24322-9
- 裝幀:暫無
- 冊(cè)數(shù):暫無
- 重量:暫無
- 所屬分類:>>
電子測(cè)量與儀器操作實(shí)訓(xùn) 內(nèi)容簡(jiǎn)介
本書依據(jù)應(yīng)用電子與電子信息專業(yè)高技能型人才教學(xué)大綱而編寫。主要內(nèi)容包括:信號(hào)發(fā)生器的使用與調(diào)試、電子示波器的使用與測(cè)試、頻率與時(shí)間的測(cè)量、電壓的測(cè)量、元器件參數(shù)的測(cè)量、頻率測(cè)量?jī)x器、數(shù)據(jù)域分析測(cè)試儀器、虛擬儀器設(shè)計(jì)與測(cè)試等。
本書可作為高等職業(yè)學(xué)校應(yīng)用電子與電子信息專業(yè)高技能型人才教學(xué)用書,也可作為成人高校或職亞技術(shù)學(xué)院相關(guān)專業(yè)的載材,還可作為自學(xué)用書或供有關(guān)技術(shù)人員使用參考。
電子測(cè)量與儀器操作實(shí)訓(xùn) 目錄
前言
模塊一 信號(hào)發(fā)生器的使用與調(diào)試
項(xiàng)目1.1 低頻信號(hào)發(fā)生器
項(xiàng)目1.2 高頻信號(hào)發(fā)生器
項(xiàng)目1.3 函數(shù)信號(hào)發(fā)生器
項(xiàng)目1.4 脈沖信號(hào)發(fā)生器
項(xiàng)目1.5 電視信號(hào)發(fā)生器
模塊二 電子示波器的使用與測(cè)試
項(xiàng)目2.1 模擬示波器的使用
項(xiàng)目2.2 模擬示波器的測(cè)試
項(xiàng)目2.3 數(shù)字示波器的使用
項(xiàng)目2.4 數(shù)字示波器的測(cè)試
模塊三 頻率與時(shí)間的測(cè)量
項(xiàng)目3.1 典型計(jì)數(shù)器產(chǎn)品介紹
項(xiàng)目3.2 通用電子計(jì)數(shù)器介紹
模塊四 電壓的測(cè)量
項(xiàng)目4.1 電壓表的分類與特點(diǎn)比較
項(xiàng)目4.2 數(shù)字多用表的使用與特點(diǎn)
模塊五 元器件參數(shù)的測(cè)量
項(xiàng)目5.1 萬用表測(cè)量阻抗元件的方法
項(xiàng)目5.2 半導(dǎo)體器件的特性及檢測(cè)方法
項(xiàng)目5.3 RCL參數(shù)測(cè)量?jī)x器介紹
項(xiàng)目5.4 晶體管特性圖示儀測(cè)量實(shí)訓(xùn)
模塊六 頻率測(cè)量?jī)x器
項(xiàng)目6.1 頻率特性測(cè)試儀功能特點(diǎn)及使用方法
項(xiàng)目6.2 頻率特性測(cè)試儀測(cè)量實(shí)訓(xùn)
項(xiàng)目6.3 頻譜分析儀的使用與特點(diǎn)
模塊七 數(shù)據(jù)域分析測(cè)試儀器
項(xiàng)目7.1 數(shù)據(jù)域分析測(cè)試的特點(diǎn)、方法與儀器
項(xiàng)目7.2 邏輯分析儀測(cè)量實(shí)訓(xùn)
模塊八 虛擬儀器設(shè)計(jì)與測(cè)試
項(xiàng)目8.1 虛擬儀器編程環(huán)境——LabVIEW虛擬儀器入門
項(xiàng)目8.2 LabVIEW8.5的高級(jí)操作——編輯LabVIEW8.5的界面
項(xiàng)目8.3 操作實(shí)例1——構(gòu)建多功能信號(hào)發(fā)生器
項(xiàng)目8.4 操作實(shí)例2——構(gòu)建數(shù)字濾波器
參考文獻(xiàn)
電子測(cè)量與儀器操作實(shí)訓(xùn) 節(jié)選
模塊七 數(shù)據(jù)域分析測(cè)試儀器
項(xiàng)目7.1 數(shù)據(jù)域分析測(cè)試的特點(diǎn)、方法與儀器
理解數(shù)據(jù)域測(cè)量的特點(diǎn),熟悉數(shù)據(jù)域測(cè)試儀器的特點(diǎn)及工作原理。
項(xiàng)目?jī)?nèi)容
1)數(shù)據(jù)域測(cè)量的特點(diǎn)。
2)數(shù)據(jù)域測(cè)量的方法與儀器。
3)數(shù)字電路的簡(jiǎn)易測(cè)試。
操作步驟
一、理解數(shù)據(jù)域測(cè)量的特點(diǎn)
隨著微型計(jì)算機(jī)、微控制器、數(shù)字信號(hào)處理器和大規(guī)模與超大規(guī)模集成電路的普遍應(yīng)
用,數(shù)字化、微機(jī)化產(chǎn)品的大量研制、生產(chǎn)和使用,數(shù)字化產(chǎn)品和系統(tǒng)在電子設(shè)備中已占有較大比重,數(shù)字化已成為當(dāng)今電子設(shè)備,相關(guān)系統(tǒng)的發(fā)展趨勢(shì)。對(duì)于數(shù)字系統(tǒng),采用傳統(tǒng)的模擬電路的時(shí)域和頻域分析方法進(jìn)行分析已難以奏效。為了解決數(shù)字設(shè)備、計(jì)算機(jī)、大規(guī)模及超大規(guī)模集成電路在研制、生產(chǎn)和檢修中的測(cè)量問題,一種新的測(cè)量技術(shù)便應(yīng)運(yùn)而生了。由于這種新測(cè)量技術(shù)中被測(cè)系統(tǒng)的信息載體主要是二進(jìn)制數(shù)據(jù)流,為了區(qū)別于時(shí)域和頻域測(cè)量,常把這一類測(cè)量稱為數(shù)據(jù)域測(cè)量。也就是說,數(shù)據(jù)域測(cè)量是測(cè)試數(shù)字量或電路的邏輯狀態(tài)隨時(shí)間變化而變化的特性。
數(shù)據(jù)域測(cè)量的目的有:一是確定系統(tǒng)中是否存在故障,稱為合格/失效測(cè)試,或稱故障檢測(cè);二是確定故障的位置,稱為故障定位。其理論基礎(chǔ)是數(shù)字電路與邏輯代數(shù)。主要研究對(duì)象有數(shù)字系統(tǒng)中數(shù)據(jù)流、協(xié)儀與格式、數(shù)字應(yīng)用芯片與系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、數(shù)字系統(tǒng)特征的狀態(tài)空間表征等。數(shù)字系統(tǒng)的故障診斷、定位和信號(hào)的邏輯分析是數(shù)據(jù)域測(cè)量的典型應(yīng)用。
數(shù)據(jù)域分析測(cè)試的對(duì)象是數(shù)字系統(tǒng),而數(shù)字系統(tǒng)中的信號(hào)表現(xiàn)為一系列隨時(shí)間變化并按一定的時(shí)序關(guān)系形成的數(shù)據(jù)流,其取值和時(shí)間都是離散的,因而其分析測(cè)試方法與時(shí)域及頻域都不相同。圖7-1表示數(shù)據(jù)域分析與時(shí)域分析、頻域分析的比較。
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