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材料現代測試分析技術 版權信息
- ISBN：9787562969297
- 條形碼：9787562969297 ; 978-7-5629-6929-7
- 裝幀：平裝-膠訂
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>
材料現代測試分析技術 內容簡介
本書分為：晶體結構基礎、X射線光電子能譜分析、X射線能譜光譜分析、粉末晶體X射線衍射分析等八章。主要內容包括：晶體的結構及其基本性質、晶體結構與晶體點陣、對稱操作與對稱元素等。具體內容包括：晶體及晶體結構研發簡史；晶體、非晶體與準晶體等。
材料現代測試分析技術 目錄
1 晶體結構基礎
1.1 晶體的結構及其基本性質
1.1.1 晶體及晶體結構研究簡史
1.1.2 晶體、非晶體與準晶體
1.1.3 晶體的自限性
1.1.4 晶體的均勻性與各向異性
1.1.5 晶體的對稱性
1.1.6 晶體的熱力學穩定性
1.2 晶體結構與晶體點陣
1.2.1 晶體的結構基元與點陣
1.2.2 布拉維平面格子（5種）
1.2.3 布拉維空間格子（14種）
1.2.4 晶胞與原胞
1.2.5 晶向、晶面、晶面指數與晶面間距
1.3 對稱操作與對稱元素
1.3.1 點對稱操作
1.3.2 空間對稱操作
1.4 群的概念
1.4.1 群的定義
1.4.2 子群
1.4.3 群的等價操作類
1.5 晶體點群及其特征標表
1.5.1 點群的圣弗利斯符號與國際符號
1.5.2 晶體學點群（32種）
1.5.3 32種點群的矩陣表示及其特征標表
1.6 空間群
1.6.1 晶體點群與空間群的區別及聯系
1.6.2 73個點式空間群的推導
1.6.3 157個非點式空間群的推導
1.6.4 等效點系與等效位置
1.6.5 點群中位置群的不可約表示及其推導方法
1.7 晶體結構數據庫及其建構軟件
1.7.1 CIF文件及晶體結構數據庫
1.7.2 無機晶體結構數據庫檢索軟件的使用
1.7.3 晶體學開放數據庫的使用
1.7.4 劍橋結構數據庫檢索軟件的使用
2 X射線光電子能譜分析
2.1 原子的能級結構
2.1.1 原子論的起源與發展
2.1.2 原子的能級結構
2.1.3 原子的能級圖
2.2 光電效應與光電子能譜法
2.2.1 光電效應基本規律的發現與解釋
2.2.2 凱·西格班與化學分析電子能譜法
2.3 X射線光電子能譜儀
2.3.1 儀器結構
2.3.2 X射線激發源
2.3.3 電子能量分析器
2.3.4 光電子強度探測器
2.4 X射線光電子能譜檢測
2.4.1 能量標尺的校正
2.4.2 樣品與進樣系統
2.4.3 光電子能譜表示法
2.4.4 寬譜掃描與窄譜掃描
2.4.5 荷電校正
2.5 XPS圖的主要譜峰及其來源
2.5.1 元素的特征譜峰
2.5.2 俄歇效應與俄歇電子譜峰
2.5.3 光電子的衛星譜峰
2.5.4 多重分裂譜峰
2.5.5 能量損失譜峰
2.5.6 攜上峰、攜下峰和振離峰
2.5.7 光電子鬼峰
2.6 光電子能譜分析
2.6.1 XPS定性分析
2.6.2 化學態分析
2.6.3 深度分析
2.6.4 XPS定量分析
3 X射線能譜光譜分析
3.1 X射線光譜法及其發展
3.1.1 X射線的本質
3.1.2 莫塞萊定律
3.1.3 X射線高分辨譜的發現
3.1.4 X射線光譜學的發展
3.2 X射線的產生與X射線光譜
3.2.1 X射線的產生
3.2.2 X射線光譜
3.3 能量色散X射線光譜儀
3.3.1 鋰漂移探測器
3.3.2 硅漂移探測器
3.3.3 多通道脈沖幅度分析器
4 粉末晶體X射線衍射分析
5 透射電子顯微分析
6 掃描電子顯微與電子背散射衍射分析
7 熱分析
8 振動光譜分析
附錄
參考文獻
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