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包郵 材料現(xiàn)代分析測(cè)試方法實(shí)驗(yàn)
作者：劉強(qiáng)春
開(kāi)本：
16開(kāi)
頁(yè)數(shù)：
156
本類(lèi)榜單：工業(yè)技術(shù)銷(xiāo)量榜
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材料現(xiàn)代分析測(cè)試方法實(shí)驗(yàn) 版權(quán)信息
- ISBN：9787312045622
- 條形碼：9787312045622 ; 978-7-312-04562-2
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊(cè)數(shù)：暫無(wú)
- 重量：暫無(wú)
- 所屬分類(lèi)：>
材料現(xiàn)代分析測(cè)試方法實(shí)驗(yàn) 本書(shū)特色
本書(shū)可作為高等院校材料科學(xué)與工程、材料物理、材料化學(xué)等專業(yè)本科生和研究生的實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)，也可供從事材料分析檢測(cè)的科技人員參考。
材料現(xiàn)代分析測(cè)試方法實(shí)驗(yàn) 內(nèi)容簡(jiǎn)介
本書(shū)主要介紹了材料現(xiàn)代分析測(cè)試的實(shí)驗(yàn)方法、技術(shù)和手段，內(nèi)容包括 X 射線衍射分析、電子顯微分析、能譜與光譜分析以及其他材料現(xiàn)代分析 全書(shū)共收錄了23 個(gè)典型的實(shí)驗(yàn)，每個(gè)實(shí)驗(yàn)既闡明了實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹⒒驹砼c實(shí)驗(yàn)內(nèi)容，又介紹了實(shí)驗(yàn)儀器、實(shí)驗(yàn)步驟與要求，同時(shí)也提出了課后思考題，旨在為材料現(xiàn)代分析測(cè)試的實(shí)驗(yàn)教學(xué)提供指導(dǎo)。
材料現(xiàn)代分析測(cè)試方法實(shí)驗(yàn) 目錄
前言
**章 X射線衍射分析
實(shí)驗(yàn)一 X射線衍射儀的構(gòu)造及原理
實(shí)驗(yàn)二 X射線衍射技術(shù)與定性分析
實(shí)驗(yàn)三 點(diǎn)陣常數(shù)的準(zhǔn)確測(cè)量
實(shí)驗(yàn)四 物相定量分析
實(shí)驗(yàn)五 測(cè)定晶粒大小與晶格畸變
實(shí)驗(yàn)六 薄膜材料的X射線反射率（XRR）測(cè)量
第二章 電子顯微分析
實(shí)驗(yàn)七 掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)、工作原理及使用
實(shí)驗(yàn)八 掃描電鏡的二次電子像及形貌分析
實(shí)驗(yàn)九 透射電鏡的基本結(jié)構(gòu)和操作
實(shí)驗(yàn)十 透射電鏡試樣制備與操作
實(shí)驗(yàn)十一 選區(qū)電子衍射及相機(jī)常數(shù)的測(cè)定
第三章 能譜與光譜分析
實(shí)驗(yàn)十二 X射線能譜分析方法與應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)十三 紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)原理與使用
實(shí)驗(yàn)十四 瞬態(tài)/穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀原理與使用
實(shí)驗(yàn)十五 傅立葉變換紅外光譜的測(cè)定與解析
實(shí)驗(yàn)十六 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析
第四章 其他材料現(xiàn)代分析
實(shí)驗(yàn)十七 原子力顯微鏡的原理與操作
實(shí)驗(yàn)十八 激光光散射測(cè)定顆粒粒度分析實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)十九 金屬材料的硬度實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)二十 熱分析儀的使用及應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)二十一 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡操作技巧
實(shí)驗(yàn)二十二 薄試樣的X射線能譜分析
實(shí)驗(yàn)二十三 X射線光電子能譜分析
參考文獻(xiàn)
展開(kāi)全部
材料現(xiàn)代分析測(cè)試方法實(shí)驗(yàn) 作者簡(jiǎn)介
劉強(qiáng)春，教授，畢業(yè)于中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)，現(xiàn)任教于淮北師范大學(xué)物理與電子信息學(xué)院，承擔(dān)材料科學(xué)基礎(chǔ)、材料分析技術(shù)等課程的教學(xué)工作。
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