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嵌入式實時系統(tǒng)調(diào)試 版權(quán)信息
- ISBN：9787111727033
- 條形碼：9787111727033 ; 978-7-111-72703-3
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊數(shù)：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>
嵌入式實時系統(tǒng)調(diào)試 本書特色
獨到的嵌入式實時系統(tǒng)軟硬件調(diào)試方法和策略工具書；利用JTAG、邏輯分析和性能分析工具調(diào)試嵌入式實時系統(tǒng)
嵌入式實時系統(tǒng)調(diào)試 內(nèi)容簡介
通過對真實案例的學習和對專業(yè)工具（例如邏輯分析儀、JTAG調(diào)試器和性能分析儀）的廣泛研究，本書提出了調(diào)試實時系統(tǒng)的實踐方法。它遵循嵌入式系統(tǒng)的傳統(tǒng)設計生命周期原理，指出了哪里會導致錯誤，進一步闡述如何在將來的設計中發(fā)現(xiàn)和避免錯誤。它還研究了應用程序性能監(jiān)控、單個程序運行跟蹤記錄以及多任務OS中單獨運行應用的其它的調(diào)試和控制方法。
嵌入式實時系統(tǒng)調(diào)試 目錄
譯者序
前言
第1章 問題在何處 / 1
參考文獻 / 8
第2章 系統(tǒng)化的調(diào)試方法 / 9
2.1 調(diào)試的六個階段 / 9
2.1.1 誰有故障 / 12
2.1.2 我遇到過的一個缺陷 / 12
2.2 參考文獻 / 22
第3章 嵌入式軟件調(diào)試的*佳實踐 / 23
3.1 引言 / 23
3.2 造成嵌入式系統(tǒng)與眾
不同的原因 / 24
3.2.1 嵌入式系統(tǒng)專門用于特定
的任務，而PC是通用的
計算平臺 / 24
3.2.2 軟件失效在嵌入式系統(tǒng)中
造成的影響要比在桌面系
統(tǒng)中嚴重得多 / 24
3.2.3 嵌入式系統(tǒng)具有實時性約束 / 25
3.2.4 嵌入式系統(tǒng)可被各式各樣
的處理器以及處理器架構(gòu)
支持 / 26
3.2.5 嵌入式系統(tǒng)通常對成本
非常敏感 / 26
3.2.6 嵌入式系統(tǒng)具有功耗限制 / 27
3.2.7 嵌入式系統(tǒng)必須能在極端
環(huán)境下工作 / 27
3.2.8 嵌入式系統(tǒng)的資源要比桌面
系統(tǒng)少得多 / 27
3.2.9 嵌入式微處理器通常具有
專用調(diào)試電路 / 27
3.2.10 如果嵌入式系統(tǒng)用到了操作
系統(tǒng)，那么它所用的很可能
是實時操作系統(tǒng) / 28
3.3 嵌入式系統(tǒng)調(diào)試的*佳實踐 / 28
3.4 通用軟件調(diào)試*佳實踐 / 32
3.5 嵌入式軟件調(diào)試*佳實踐 / 36
3.6 內(nèi)存泄漏 / 37
3.7 時鐘抖動 / 39
3.8 優(yōu)先級反轉(zhuǎn) / 40
3.9 棧溢出 / 40
3.10 本章小結(jié) / 41
3.11 拓展讀物 / 42
3.12 參考文獻 / 43
第4章 調(diào)試嵌入式硬件的*佳實踐 / 44
4.1 概述 / 44
4.2 硬件調(diào)試過程 / 44
4.3 設計評審 / 45
4.4 測試計劃 / 47
4.5 可測試性設計 / 49
4.6 構(gòu)建流程 / 50
4.7 了解你的工具 / 53
4.8 微處理器設計*佳實踐 / 57
4.8.1 引言 / 57
4.8.2 可測試性設計 / 57
4.8.3 考慮PCB問題 / 58
4.9 本章小結(jié) / 63
4.10 拓展讀物 / 64
4.11 參考文獻 / 64
第5章 嵌入式設計與調(diào)試工具概覽 / 66
5.1 概述 / 66
5.2 調(diào)試器 / 66
5.3 軟硬件協(xié)同驗證 / 69
5.4 ROM仿真器 / 73
5.5 邏輯分析儀 / 77
5.6 邏輯分析儀的優(yōu)勢 / 84
5.7 邏輯分析儀的問題 / 84
5.8 在線仿真器 / 85
5.9 拓展讀物 / 89
5.10 參考文獻 / 89
第6章 硬件/軟件集成階段 / 90
6.1 概述 / 90
6.2 硬件/軟件集成圖 / 90
6.3 非標準硬盤驅(qū)動器接口的案例 / 91
6.4 向量顯示器的*后關(guān)頭 / 92
6.5 性能差勁的仿真器卡籠 / 92
6.6 功能蠕變和大客戶 / 93
6.7 參考文獻 / 108
第7章 片上調(diào)試資源 / 110
7.1 概述 / 110
7.2 后臺調(diào)試模式 / 111
7.3 JTAG / 112
7.4 MIPS EJTAG / 115
7.5 本章小結(jié) / 116
7.6 參考文獻 / 118
第8章 片上系統(tǒng) / 119
8.1 概述 / 119
8.2 現(xiàn)場可編程門陣列 / 120
8.3 虛擬化 / 126
8.4 本章小結(jié) / 129
8.5 拓展讀物 / 130
8.6 參考文獻 / 130
第9章 隔離缺陷的測試方法 / 131
9.1 概述 / 131
9.2 查找問題的障礙 / 131
9.3 臨時應急 / 132
9.4 尋求幫助 / 132
9.5 故障隔離 / 133
9.5.1 了解你的工具 / 134
9.5.2 理解你的設計 / 136
9.6 與性能相關(guān)的故障 / 137
9.7 可復現(xiàn)故障 / 137
9.8 間歇性故障 / 138
9.9 合規(guī)故障 / 141
9.10 擴頻振蕩器 / 142
9.11 熱故障 / 144
9.12 機械問題 / 146
9.13 與供電相關(guān)的故障 / 147
9.14 本章小結(jié) / 149
9.15 參考文獻 / 151
第10章 調(diào)試實時操作系統(tǒng) / 152
10.1 概述 / 152
10.2 RTOS中的缺陷 / 152
10.3 同步問題 / 153
10.4 內(nèi)存崩潰 / 154
10.5 與中斷相關(guān)的問題 / 155
10.6 意想不到的編譯器優(yōu)化 / 157
10.7 異常 / 157
10.8 RTOS感知工具：一個示例 / 159
10.9 參考文獻 / 163
第11章 串行通信系統(tǒng) / 164
11.1 引言 / 164
11.2 RS-232 / 165
11.3 錯誤的COM端口分配 / 165
11.4 不正確的電纜引腳 / 166
11.5 錯誤的波特率（時鐘頻率） / 166
11.6 不正確的流控 / 167
11.7 I2C和SMBus協(xié)議 / 168
11.8 SPI協(xié)議 / 171
11.9 工具 / 174
11.10 控制器局域網(wǎng)絡（CAN總線） / 174
11.11 本章小結(jié) / 175
11.12 拓展讀物 / 175
11.13 參考文獻 / 175
第12章 存儲器
前言
第1章 問題在何處 / 1
參考文獻 / 8
第2章 系統(tǒng)化的調(diào)試方法 / 9
2.1 調(diào)試的六個階段 / 9
2.1.1 誰有故障 / 12
2.1.2 我遇到過的一個缺陷 / 12
2.2 參考文獻 / 22
第3章 嵌入式軟件調(diào)試的*佳實踐 / 23
3.1 引言 / 23
3.2 造成嵌入式系統(tǒng)與眾
不同的原因 / 24
3.2.1 嵌入式系統(tǒng)專門用于特定
的任務，而PC是通用的
計算平臺 / 24
3.2.2 軟件失效在嵌入式系統(tǒng)中
造成的影響要比在桌面系
統(tǒng)中嚴重得多 / 24
3.2.3 嵌入式系統(tǒng)具有實時性約束 / 25
3.2.4 嵌入式系統(tǒng)可被各式各樣
的處理器以及處理器架構(gòu)
支持 / 26
3.2.5 嵌入式系統(tǒng)通常對成本
非常敏感 / 26
3.2.6 嵌入式系統(tǒng)具有功耗限制 / 27
3.2.7 嵌入式系統(tǒng)必須能在極端
環(huán)境下工作 / 27
3.2.8 嵌入式系統(tǒng)的資源要比桌面
系統(tǒng)少得多 / 27
3.2.9 嵌入式微處理器通常具有
專用調(diào)試電路 / 27
3.2.10 如果嵌入式系統(tǒng)用到了操作
系統(tǒng)，那么它所用的很可能
是實時操作系統(tǒng) / 28
3.3 嵌入式系統(tǒng)調(diào)試的*佳實踐 / 28
3.4 通用軟件調(diào)試*佳實踐 / 32
3.5 嵌入式軟件調(diào)試*佳實踐 / 36
3.6 內(nèi)存泄漏 / 37
3.7 時鐘抖動 / 39
3.8 優(yōu)先級反轉(zhuǎn) / 40
3.9 棧溢出 / 40
3.10 本章小結(jié) / 41
3.11 拓展讀物 / 42
3.12 參考文獻 / 43
第4章 調(diào)試嵌入式硬件的*佳實踐 / 44
4.1 概述 / 44
4.2 硬件調(diào)試過程 / 44
4.3 設計評審 / 45
4.4 測試計劃 / 47
4.5 可測試性設計 / 49
4.6 構(gòu)建流程 / 50
4.7 了解你的工具 / 53
4.8 微處理器設計*佳實踐 / 57
4.8.1 引言 / 57
4.8.2 可測試性設計 / 57
4.8.3 考慮PCB問題 / 58
4.9 本章小結(jié) / 63
4.10 拓展讀物 / 64
4.11 參考文獻 / 64
第5章 嵌入式設計與調(diào)試工具概覽 / 66
5.1 概述 / 66
5.2 調(diào)試器 / 66
5.3 軟硬件協(xié)同驗證 / 69
5.4 ROM仿真器 / 73
5.5 邏輯分析儀 / 77
5.6 邏輯分析儀的優(yōu)勢 / 84
5.7 邏輯分析儀的問題 / 84
5.8 在線仿真器 / 85
5.9 拓展讀物 / 89
5.10 參考文獻 / 89
第6章 硬件/軟件集成階段 / 90
6.1 概述 / 90
6.2 硬件/軟件集成圖 / 90
6.3 非標準硬盤驅(qū)動器接口的案例 / 91
6.4 向量顯示器的*后關(guān)頭 / 92
6.5 性能差勁的仿真器卡籠 / 92
6.6 功能蠕變和大客戶 / 93
6.7 參考文獻 / 108
第7章 片上調(diào)試資源 / 110
7.1 概述 / 110
7.2 后臺調(diào)試模式 / 111
7.3 JTAG / 112
7.4 MIPS EJTAG / 115
7.5 本章小結(jié) / 116
7.6 參考文獻 / 118
第8章 片上系統(tǒng) / 119
8.1 概述 / 119
8.2 現(xiàn)場可編程門陣列 / 120
8.3 虛擬化 / 126
8.4 本章小結(jié) / 129
8.5 拓展讀物 / 130
8.6 參考文獻 / 130
第9章 隔離缺陷的測試方法 / 131
9.1 概述 / 131
9.2 查找問題的障礙 / 131
9.3 臨時應急 / 132
9.4 尋求幫助 / 132
9.5 故障隔離 / 133
9.5.1 了解你的工具 / 134
9.5.2 理解你的設計 / 136
9.6 與性能相關(guān)的故障 / 137
9.7 可復現(xiàn)故障 / 137
9.8 間歇性故障 / 138
9.9 合規(guī)故障 / 141
9.10 擴頻振蕩器 / 142
9.11 熱故障 / 144
9.12 機械問題 / 146
9.13 與供電相關(guān)的故障 / 147
9.14 本章小結(jié) / 149
9.15 參考文獻 / 151
第10章 調(diào)試實時操作系統(tǒng) / 152
10.1 概述 / 152
10.2 RTOS中的缺陷 / 152
10.3 同步問題 / 153
10.4 內(nèi)存崩潰 / 154
10.5 與中斷相關(guān)的問題 / 155
10.6 意想不到的編譯器優(yōu)化 / 157
10.7 異常 / 157
10.8 RTOS感知工具：一個示例 / 159
10.9 參考文獻 / 163
第11章 串行通信系統(tǒng) / 164
11.1 引言 / 164
11.2 RS-232 / 165
11.3 錯誤的COM端口分配 / 165
11.4 不正確的電纜引腳 / 166
11.5 錯誤的波特率（時鐘頻率） / 166
11.6 不正確的流控 / 167
11.7 I2C和SMBus協(xié)議 / 168
11.8 SPI協(xié)議 / 171
11.9 工具 / 174
11.10 控制器局域網(wǎng)絡（CAN總線） / 174
11.11 本章小結(jié) / 175
11.12 拓展讀物 / 175
11.13 參考文獻 / 175
第12章 存儲器
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