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無機非金屬材料研究方法(第2版) 版權(quán)信息
- ISBN：9787502491567
- 條形碼：9787502491567 ; 978-7-5024-9156-7
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊數(shù)：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
無機非金屬材料研究方法(第2版) 內(nèi)容簡介
本書介紹了無機非金屬材料常用分析測試方法的基本原理、試驗方法、儀器結(jié)構(gòu)和應(yīng)用范圍。內(nèi)容主要包括：光學(xué)顯微分析、X射線衍射分析、電子顯微分析、熱分析等。為了加深學(xué)生對所學(xué)知識的理解，2～8章后均附有習(xí)題與思考題。本書既可作為高等院校材料科學(xué)與工程專業(yè)的教材，也可供相關(guān)工程技術(shù)人員參考。
無機非金屬材料研究方法(第2版) 目錄
1 緒論
1.1 材料結(jié)構(gòu)及其層次
1.2 研究方法的種類
1.2.1 圖像分析法
1.2.2 非圖像分析法
2 光學(xué)顯微分析
2.1 晶體光學(xué)基礎(chǔ)
2.1.1 可見光的一般知識
2.1.2 光性均質(zhì)體和光性非均質(zhì)體
2.1.3 光率體
2.1.4 光性方位
2.2 偏光顯微鏡及薄片的制備
2.2.1 偏光顯微鏡的構(gòu)造
2.2.2 偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)和校正
2.2.3 偏光顯微鏡研究試樣的制備
2.3 偏光顯微鏡下礦物的光學(xué)性質(zhì)
2.3.1 單偏光系統(tǒng)下礦物的光學(xué)性質(zhì)
2.3.2 正交偏光系統(tǒng)下礦物的光學(xué)性質(zhì)
2.3.3 聚斂偏光系統(tǒng)下礦物的光學(xué)性質(zhì)
2.4 反光顯微鏡光片研究
2.4.1 反射光學(xué)基礎(chǔ)
2.4.2 反光顯微鏡
2.4.3 反光顯微鏡試樣的制備
2.4.4 反射光下礦物的光學(xué)性質(zhì)
習(xí)題與思考題
3 X射線衍射分析
3.1 X射線的物理基礎(chǔ)
3.1.1 X射線的本質(zhì)
3.1.2 X射線的強度
3.1.3 X射線的產(chǎn)生
3.1.4 X射線的性質(zhì)
3.1.5 X射線譜
3.1.6 X射線與物質(zhì)的相互作用
3.2 X射線衍射的幾何條件
3.2.1 勞埃方程
3.2.2 布拉格方程
3.2.3 厄瓦爾德圖解
3.3 X射線衍射強度
3.3.1 一個電子對X射線的散射強度
3.3.2 一個原子對X射線的散射強度
3.3.3 一個晶胞對X射線的散射強度
3.3.4 一個小晶體對X射線的散射強度和衍射積分強度
3.3.5 粉末多晶的衍射積分強度
3.3.6 影響衍射強度的其他因素
3.4 X射線衍射方法
3.4.1 單晶體衍射方法
3.4.2 多晶體衍射方法
3.5 物相分析
3.5.1 物相定性分析
3.5.2 物相定量分析
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