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光學測量手冊 版權信息
- ISBN:9787118123517
- 條形碼:9787118123517 ; 978-7-118-12351-7
- 裝幀:一般膠版紙
- 冊數:暫無
- 重量:暫無
- 所屬分類:>
光學測量手冊 內容簡介
本書涵蓋了光學測量技術的方方面面, 包括光學測量技術的發展機遇與挑戰、傳統光學測量技術以及對未來光學測量技術的展望。首先概述光電測量技術 ; 然后分別針對大尺寸零件、中等尺寸零件以及微小尺寸零件的測量介紹相應的激光跟蹤技術、位移干涉測量技術、相移技術、便攜式測量技術以及基于干涉的顯微技術、基于聚焦的光學測量技術 ; *后, 介紹先進光學顯微測量技術及其應用。
光學測量手冊 目錄
第1章 光學測量技術概述
1.1 概述
1.1.1 探測器技術論證
1.2 探測器技術
1.2.1 探測器技術的基本概念
1.3 過程控制探測器
1.3.1 機器視覺探測器概述
1.4 3D探測器概述
1.4.1 3D技術的討論
1.4.2 點三角測量法
1.4.3 線三角測量法
1.4.4 面積三角測量法和莫爾測量法
1.4.5 激光探頭的應用現狀
1.5 誤差分析
1.5.1 接觸式探頭誤差
1.5.2 設備軸線誤差
1.5.3 非接觸式探頭誤差
1.5.4 3D探頭誤差
1.5.5 測量基準誤差
1.6 總結和展望
參考文獻
第2章 基于機器視覺的測量
2.1 機器視覺技術
2.2 搭建機器視覺
2.3 機器視覺照明
2.4 機器視覺中的光學成像
2.5 光學性能
2.5.1 透鏡
2.5.2 窗口
2.5.3 反射鏡
2.5.4 面形質量
2.6 濾光片
2.6.1 干涉濾光片
2.6.2 彩色玻璃濾鏡
2.7 薄膜
2.7.1 增透膜
2.7.2 反射膜
2.7.3 孔徑
2.8 棱鏡
2.8.1 恒偏向棱鏡
2.8.2 旋轉圖像棱鏡
2.9 光學測試元件
2.9.1 反射面
2.9.2 漫反射面
2.9.3 定向反射/投射面
2.9.4 余弦圖
2.10 光學系統的設計
2.11 相機
2.12 機器視覺軟件
2.13 應用
2.14 小結與展望
2.14.1 小結
2.14.2 展望
參考文獻
第2篇 大尺寸物體的光學測量
第3章 激光跟蹤系統
3.1 概述
……
第3篇 中等尺寸物體的光學測量
第4篇 小尺寸物體的光學顯微測量
第5篇 先進光學顯微測量方法
光學測量手冊 作者簡介
凱文·哈丁(Kevin Harding)是紐約尼斯卡尤納通用電氣研究公司(GE Re-search)的首席科學家。他在科學技術研究和開發中心(R & D)擔任光學測量工作的領導,為光學技術項目提供指導。在加入通用電氣公司之前,他在工業技術研究所擔任了14年的光電實驗室主任,建立了光電業務,參與了200多個項目,開發出一批(六種)商業產品。 他在光學技術領域工作了25余年,并發起和主持了技術會議及講習班,包括在機器視覺光學和照明方向講授課程15年。因其在3D測量技術方面的專長而獲得國際認可,他的工作也得到了許多組織的認可。他曾于1989年獲得制造工程師學會(SME)杰出青年工程師獎、1990年獲得底特律工程學會(ESD)公共服務電子化領導獎、1994年獲得自動化成像協會領導獎和1997年獲得SME Eli Whitney生產力獎。 哈丁發表技術論文120余篇,面向工業界和學術界講授短期課程、輔導課程,以及光學測量視頻課程60余門,為6本專著撰寫了部分章節,獲發明專利55余項。哈丁曾擔任協會主席、社會委員會主席和會議主席20余年,與國際光學和光子學學會(SPIE)、美國激光研究所(LIA)、ESD、SME和美國光學學會(OSA)長期合作,曾任2008年SPIE的主席,目前是SPIE的研究員。
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