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精密納米計量學 版權信息
- ISBN：9787118124668
- 條形碼：9787118124668 ; 978-7-118-12466-8
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>
精密納米計量學 內容簡介
本書**部分-4章描述了用于測量角度和位移的光學傳感器，它們是準確納米測量的基本量。提出了用于改善傳感器靈敏度和帶寬，減小傳感器尺寸的技術以及開發了新的多軸感測方法。
第二部分第5-10章介紹了許多用于表面形狀和臺階運動的準確納米測量的掃描型測量系統。 在納米制造中，*基本的幾何形狀——直線度和圓度測量的誤差分離算法和系統，在第五章和第六章中進行了介紹。在第七章中，描述了微觀非球面的測量，這需要掃描機理和探測技術的發展。在第8章和第9章中，描述了基于掃描探針顯微鏡的新型系統，用于針對新的、重要的納米制造的微小挑戰和納米結構的準確納米測量。第10章介紹掃描式圖像傳感器系統，它可以對長結構的微小尺寸進行快速，準確的測量。
精密納米計量學 目錄
1測量表面坡度和傾斜運動的角度傳感器
1．1簡介；1．2帶有象限光電二極管的角度傳感器；1．3帶有光電二極管陣列的角度傳感器；1．4帶有單元光電二極管的角度傳感器；1．5小結；1．6參考
2用于測量多軸傾斜運動的激光自準直儀
2．1引言；2．2雙軸激光自準直儀；2．3單鏡頭激光微自準直儀；2．4三軸激光自準直儀；2．5總結
3用于測量面內運動的表面編碼器
3．1引言；3．2用于MDOF面內運動的表面編碼器；3．3兩軸正弦網格表面編碼器的制造；3．4表面編碼器在表面電機驅動平面階段的應用；3．5總結；3．6參考文獻
4用于測量平面內和平面外運動的光柵編器
4．1介紹；4．2二自由度線性光柵編碼器；4．3帶正弦網格的三軸光柵編碼器；4．4矩形XY網格的三軸光柵編碼器；4．5總結；4．6參考文獻
5測量圓度的掃描多探針系統
5．1介紹；5．2坡度傳感器方法；5．3混合方法；5．4總結；5．5參考文獻
6測量直線度的掃描誤差分離系統
6．1簡介；6．2具有自調零的三位移傳感器方法；6．3機床滑塊的誤差分離方法；6．4總結；6．5參考
7微型非球面的測量的掃描微型手寫筆系統
7．1簡介；7．2掃描錯誤動作補償；7．3微型探針；7．4微型非球面的小型測量儀器；7．5總結；7．6參考文獻
8用于微紋理表面的大面積掃描探針顯微鏡
8．1簡介；8．2電容式傳感器補償掃描探針顯微鏡；8．3線性編碼器補償掃描探針顯微鏡；8．4螺旋掃描探針顯微鏡；8．5總結；8．6參考
9測量三維納米結構的自動對準掃描探針顯微鏡系統
9．1簡介；9．2自動對準光學探針；9．3自動對準AFM的儀器；9．4小結；9．5參考
10用于測量微小尺寸的掃描圖像傳感器系統
10．1介紹；10．2微寬度測量的掃描區域圖像傳感器；10．3微小半徑測量的掃描線圖像傳感器；10．4總結；10．5參考
1．1簡介；1．2帶有象限光電二極管的角度傳感器；1．3帶有光電二極管陣列的角度傳感器；1．4帶有單元光電二極管的角度傳感器；1．5小結；1．6參考
2用于測量多軸傾斜運動的激光自準直儀
2．1引言；2．2雙軸激光自準直儀；2．3單鏡頭激光微自準直儀；2．4三軸激光自準直儀；2．5總結
3用于測量面內運動的表面編碼器
3．1引言；3．2用于MDOF面內運動的表面編碼器；3．3兩軸正弦網格表面編碼器的制造；3．4表面編碼器在表面電機驅動平面階段的應用；3．5總結；3．6參考文獻
4用于測量平面內和平面外運動的光柵編器
4．1介紹；4．2二自由度線性光柵編碼器；4．3帶正弦網格的三軸光柵編碼器；4．4矩形XY網格的三軸光柵編碼器；4．5總結；4．6參考文獻
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5．1介紹；5．2坡度傳感器方法；5．3混合方法；5．4總結；5．5參考文獻
6測量直線度的掃描誤差分離系統
6．1簡介；6．2具有自調零的三位移傳感器方法；6．3機床滑塊的誤差分離方法；6．4總結；6．5參考
7微型非球面的測量的掃描微型手寫筆系統
7．1簡介；7．2掃描錯誤動作補償；7．3微型探針；7．4微型非球面的小型測量儀器；7．5總結；7．6參考文獻
8用于微紋理表面的大面積掃描探針顯微鏡
8．1簡介；8．2電容式傳感器補償掃描探針顯微鏡；8．3線性編碼器補償掃描探針顯微鏡；8．4螺旋掃描探針顯微鏡；8．5總結；8．6參考
9測量三維納米結構的自動對準掃描探針顯微鏡系統
9．1簡介；9．2自動對準光學探針；9．3自動對準AFM的儀器；9．4小結；9．5參考
10用于測量微小尺寸的掃描圖像傳感器系統
10．1介紹；10．2微寬度測量的掃描區域圖像傳感器；10．3微小半徑測量的掃描線圖像傳感器；10．4總結；10．5參考
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精密納米計量學 作者簡介
李雷，男，2014年畢業后進入中國電子技術標準化研究院工作，歷任計量與檢測中心助理工程師、工程師，現任計量與檢測中心先進制造與長熱力組組長。主要從事微電子領域發展規劃編寫、前沿技術研究、軍工計量科研攻關、設備檢定與校準工作。
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