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鐵磁材料缺陷的磁記憶檢測技術(shù)(精) 版權(quán)信息
- ISBN:9787118122534
- 條形碼:9787118122534 ; 978-7-118-12253-4
- 裝幀:一般膠版紙
- 冊(cè)數(shù):暫無
- 重量:暫無
- 所屬分類:>
鐵磁材料缺陷的磁記憶檢測技術(shù)(精) 內(nèi)容簡介
本書介紹了介紹了金屬磁記憶檢測的原理、國內(nèi)外研究現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢;根據(jù)磁性物質(zhì)的特點(diǎn)和力-磁耦合模型,探討了金屬磁記憶檢測機(jī)理和影響因素;將形態(tài)濾波和EMD分解閾值濾波方法結(jié)合起來,實(shí)現(xiàn)了金屬磁記憶檢測信號(hào)的降噪處理;將磁梯度張量測量分析方法應(yīng)用到信號(hào)特征提取中,提出以總梯度模量作為判據(jù)的磁記憶缺陷檢測方法;分析了不同類型缺陷的磁記憶信號(hào)分布特征差異,提出了基于磁記憶信號(hào)垂面分布特征缺陷損傷狀態(tài)識(shí)別方法;提取了一種可增強(qiáng)缺陷邊界特征的特征量,實(shí)現(xiàn)缺陷二維分布反演;建立了缺陷三維空間反演離散陣列模型,論述了基于截?cái)鄰V義逆矩陣和空間縮小的缺陷反演方法,實(shí)現(xiàn)缺陷三維輪廓重構(gòu)。
鐵磁材料缺陷的磁記憶檢測技術(shù)(精) 目錄
1.1 概述
1.2 磁記憶檢測技術(shù)研究現(xiàn)狀
1.2.1 磁記憶機(jī)理研究現(xiàn)狀
1.2.2 磁記憶信號(hào)特征提取研究現(xiàn)狀
1.2.3 磁記憶信號(hào)降噪方法研究現(xiàn)狀
1.2.4 缺陷損傷狀態(tài)識(shí)別研究現(xiàn)狀
1.2.5 缺陷定量化檢測研究現(xiàn)狀
參考文獻(xiàn)
第2章 磁記憶檢測原理
2.1 概述
2.2 物質(zhì)的磁性及其分類
2.2.1 物質(zhì)的磁性
2.2.2 物質(zhì)磁性的分類
2.3 鐵磁性物質(zhì)的性質(zhì)
2.3.1 鐵磁性物質(zhì)的磁性
2.3.2 自發(fā)磁化與磁疇
2.4 鐵磁性物質(zhì)的磁化效應(yīng)
2.4.1 磁致伸縮效應(yīng)
2.4.2 磁扭轉(zhuǎn)效應(yīng)
2.4.3 磁彈性效應(yīng)
2.5 磁記憶檢測原理
2.6 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第3章 力-磁耦合變化特征及環(huán)境磁場影響分析
3.1 概述
3.2 力-磁耦合變化特征分析
3.2.1 外磁場對(duì)鐵磁材料磁性能的影響
3.2.2 應(yīng)力對(duì)鐵磁材料磁性能的影響
3.2.3 外磁場和應(yīng)力共同作用對(duì)鐵磁材料磁性能的影響
3.3 環(huán)境磁場對(duì)檢測信號(hào)影響
3.3.1 實(shí)驗(yàn)材料及方案
3.3.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
3.3.3 環(huán)境磁場影響討論與分析
3.4 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第4章 磁記憶梯度張量信號(hào)測量及特征提取
4.1 概述
4.2 磁梯度張量測量基礎(chǔ)理論
4.2.1 磁梯度張量定義
4.2.2 磁記憶梯度張量信號(hào)測量方案
4.3 簡單模型磁梯度張量分析
4.3.1 磁偶極子模型
4.3.2 線偶極子模型
4.3.3 磁梯度張量信號(hào)的特點(diǎn)分析
4.4 磁梯度張量信號(hào)不變特征量
4.4.1 總梯度模量的概念及性質(zhì)
4.4.2 基于總梯度模量的缺陷檢測
4.5 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
4.5.1 實(shí)驗(yàn)材料
4.5.2 裂紋試件檢測結(jié)果及分析
4.5.3 應(yīng)力集中試件檢測結(jié)果及分析
4.6 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第5章 磁記憶梯度張量測量信號(hào)預(yù)處理方法
5.1 概述
5.2 數(shù)學(xué)形態(tài)濾波降噪原理
5.2.1 形態(tài)學(xué)濾波算法設(shè)計(jì)
5.2.2 形態(tài)學(xué)濾波結(jié)構(gòu)元素選取
5.3 EMD分解降噪方法
5.3.1 EMD分解原理
5.3.2 EMD降噪方法
5.4 磁記憶信號(hào)處理方法
5.4.1 基于形態(tài)濾波-EMD的磁記憶信號(hào)處理流程
5.4.2 實(shí)測磁記憶信號(hào)處理及分析
5.5 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第6章 基于磁記憶信號(hào)垂面特征分析的損傷狀態(tài)識(shí)別
6.1 概述
6.2 磁記憶信號(hào)分布特征分析方法
6.3 不同損傷狀態(tài)缺陷的磁記憶信號(hào)分布差異分析
6.4 不同缺陷磁場分布特征仿真分析
6.5 不同缺陷磁場分布特征實(shí)驗(yàn)分析
6.5.1 同一試件檢測實(shí)驗(yàn)
6.5.2 不同試件檢測實(shí)驗(yàn)
6.6 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第7章 磁記憶檢測缺陷輪廓重構(gòu)技術(shù)研究
7.1 概述
7.2 缺陷二維平面分布反演技術(shù)
7.2.1 基于磁梯度張量數(shù)據(jù)的缺陷邊界特征
7.2.2 二維網(wǎng)格數(shù)據(jù)插值處理
7.2.3 二維反演實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
7.3 缺陷三維輪廓反演技術(shù)研究
7.3.1 離散磁偶極子模型
7.3.2 磁荷空間位置反演
7.3.3 數(shù)值仿真分析
7.3.4 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
7.4 小結(jié)
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