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近代物理實驗教程 版權信息
- ISBN:9787030241863
- 條形碼:9787030241863 ; 978-7-03-024186-3
- 裝幀:一般膠版紙
- 冊數:暫無
- 重量:暫無
- 所屬分類:>>
近代物理實驗教程 內容簡介
《近代物理實驗教程(第二版)》選編近代物理發展過程中一些起過重大作用的著名實驗,以及近代物理實驗技術中有廣泛應用的典型實驗43個,包括原子物理、核物理、激光、真空、X射線、低溫、固體物理、聲學、微波、磁共振、計算機模擬和微弱信號檢測技術等方面。《近代物理實驗教程(第二版)》重點在于闡述實驗的物理思想和方法,注重培養學生的實驗能力,提高其科學素質。
近代物理實驗教程 目錄
目錄
第二版前言
**版序
**版前言
單元0 誤差分析與數據處理 1
0.1 測量誤差和不確定度概念 1
0.2 隨機變量的概率分布 4
0.3 隨機誤差的統計分析 11
0.4 實驗結果的不確定度 17
0.5 分布規律的χ2檢驗 21
0.6 *小二乘擬合 24
0.7 系統誤差的限制和消除 31
單元1 原子物理 35
1.1 弗蘭克-赫茲實驗 35
1.2 鈉原子光譜 41
1.3 密立根油滴實驗 48
1.4 塞曼效應 53
1.5 拉曼光譜 60
1.6 氫與氘原子光譜 68
單元2 原子核物理 74
2.0 核物理實驗技術基礎知識 74
2.1 蓋革-米勒計數管的特性及放射性衰變的統計規律 79
2.2 γ能譜的測量 85
2.3 符合測量 90
2.4 用快速電子驗證相對論效應 97
單元3 激光、光信息處理和光學測量 103
3.1 激光器特性及其參數的測量 103
3.2 He-Ne激光器縱模間隔測量 108
3.3 全息技術 113
3.4 光學信息處理 119
3.5 橢圓偏振法測量薄膜厚度、折射率和金屬復折射率 127
3.6 光拍頻法測量光的速度 134
3.7 各向異性晶體光學性質的觀測和研究 142
單元4 真空技術 152
4.1 高真空的獲得與測量 152
4.2 真空鍍膜 157
4.3 蒸氣冷凝法制作納米顆粒 165
4.4 等離子體特性和參數測量 171
單元5 X射線衍射技術 179
5.0 X射線衍射的基礎知識 179
5.1 立方晶系點陣常數的測定 186
5.2 勞厄相法測定單晶取向 191
單元6 低溫和固體物理 197
6.0 低溫基礎知識 197
6.1 電阻溫度關系和減壓降溫技術 199
6.2 高溫超導體基本特性的測量 206
6.3 用電容-電壓法測半導體雜質濃度分布 210
6.4 霍爾效應 216
6.5 鐵電體電滯回線及居里溫度的測量 223
6.6 掃描隧道顯微鏡實驗 228
單元7 聲學 238
7.1 超聲探傷和超聲速測量 238
7.2 噪聲測量和頻譜分析 243
單元8 微波技術 248
8.0 微波基本知識 248
8.1 微波的傳輸特性和基本測量 257
8.2 微波介質特性的測量 261
8.3 大氣衛星云圖的接收和分析 263
單元9 磁共振技術 270
9.0 磁共振基礎知識 270
9.1 核磁共振的穩態吸收 276
9.2 脈沖核磁共振法測量弛豫時間 281
9.3 電子自旋共振 287
9.4 光泵磁共振 295
9.5 核磁共振成像實驗 303
單元10 計算機模擬和微弱信號檢測技術 311
10.1 計算機數值模擬實驗 311
10.2 鎖相放大器實驗 318
10.3 信號取樣平均實驗 325
10.4 單光子計數實驗 332
附表 341
Ⅰ 中華人民共和國法定計量單位 341
Ⅱ 物理學常量表 342
Ⅲ 標準正態分布函數N(x;0,1)數值表 343
Ⅳ t分布的置信系數tξ數值表 344
Ⅴ χ2分布的χ2ξ(ν)數值表 345
第二版前言
**版序
**版前言
單元0 誤差分析與數據處理 1
0.1 測量誤差和不確定度概念 1
0.2 隨機變量的概率分布 4
0.3 隨機誤差的統計分析 11
0.4 實驗結果的不確定度 17
0.5 分布規律的χ2檢驗 21
0.6 *小二乘擬合 24
0.7 系統誤差的限制和消除 31
單元1 原子物理 35
1.1 弗蘭克-赫茲實驗 35
1.2 鈉原子光譜 41
1.3 密立根油滴實驗 48
1.4 塞曼效應 53
1.5 拉曼光譜 60
1.6 氫與氘原子光譜 68
單元2 原子核物理 74
2.0 核物理實驗技術基礎知識 74
2.1 蓋革-米勒計數管的特性及放射性衰變的統計規律 79
2.2 γ能譜的測量 85
2.3 符合測量 90
2.4 用快速電子驗證相對論效應 97
單元3 激光、光信息處理和光學測量 103
3.1 激光器特性及其參數的測量 103
3.2 He-Ne激光器縱模間隔測量 108
3.3 全息技術 113
3.4 光學信息處理 119
3.5 橢圓偏振法測量薄膜厚度、折射率和金屬復折射率 127
3.6 光拍頻法測量光的速度 134
3.7 各向異性晶體光學性質的觀測和研究 142
單元4 真空技術 152
4.1 高真空的獲得與測量 152
4.2 真空鍍膜 157
4.3 蒸氣冷凝法制作納米顆粒 165
4.4 等離子體特性和參數測量 171
單元5 X射線衍射技術 179
5.0 X射線衍射的基礎知識 179
5.1 立方晶系點陣常數的測定 186
5.2 勞厄相法測定單晶取向 191
單元6 低溫和固體物理 197
6.0 低溫基礎知識 197
6.1 電阻溫度關系和減壓降溫技術 199
6.2 高溫超導體基本特性的測量 206
6.3 用電容-電壓法測半導體雜質濃度分布 210
6.4 霍爾效應 216
6.5 鐵電體電滯回線及居里溫度的測量 223
6.6 掃描隧道顯微鏡實驗 228
單元7 聲學 238
7.1 超聲探傷和超聲速測量 238
7.2 噪聲測量和頻譜分析 243
單元8 微波技術 248
8.0 微波基本知識 248
8.1 微波的傳輸特性和基本測量 257
8.2 微波介質特性的測量 261
8.3 大氣衛星云圖的接收和分析 263
單元9 磁共振技術 270
9.0 磁共振基礎知識 270
9.1 核磁共振的穩態吸收 276
9.2 脈沖核磁共振法測量弛豫時間 281
9.3 電子自旋共振 287
9.4 光泵磁共振 295
9.5 核磁共振成像實驗 303
單元10 計算機模擬和微弱信號檢測技術 311
10.1 計算機數值模擬實驗 311
10.2 鎖相放大器實驗 318
10.3 信號取樣平均實驗 325
10.4 單光子計數實驗 332
附表 341
Ⅰ 中華人民共和國法定計量單位 341
Ⅱ 物理學常量表 342
Ⅲ 標準正態分布函數N(x;0,1)數值表 343
Ⅳ t分布的置信系數tξ數值表 344
Ⅴ χ2分布的χ2ξ(ν)數值表 345
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