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無損檢測人員取證培訓(xùn)教材數(shù)字射線檢測技術(shù) 版權(quán)信息
- ISBN：9787111619802
- 條形碼：9787111619802 ; 978-7-111-61980-2
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊數(shù)：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
無損檢測人員取證培訓(xùn)教材數(shù)字射線檢測技術(shù) 本書特色
《射線數(shù)字檢測技術(shù)》內(nèi)容包括概述、輻射探測器與其他器件、數(shù)字射線檢測基本理論、數(shù)字射線檢測基本技術(shù)、工業(yè)常用數(shù)字射線檢測系統(tǒng)、等價(jià)性問題、實(shí)驗(yàn)及附錄。經(jīng)過本次修訂，本書在內(nèi)容上構(gòu)成了一個(gè)基本完整的數(shù)字射線檢測技術(shù)知識系統(tǒng)，形成了比較清楚的Ⅱ級人員與Ⅲ級人員要求的區(qū)分界定。
無損檢測人員取證培訓(xùn)教材數(shù)字射線檢測技術(shù) 內(nèi)容簡介
《射線數(shù)字檢測技術(shù)》內(nèi)容包括概述、輻射探測器與其他器件、數(shù)字射線檢測基本理論、數(shù)字射線檢測基本技術(shù)、工業(yè)常用數(shù)字射線檢測系統(tǒng)、等價(jià)性問題、實(shí)驗(yàn)及附錄。經(jīng)過本次修訂，本書在內(nèi)容上構(gòu)成了一個(gè)基本完整的數(shù)字射線檢測技術(shù)知識系統(tǒng)，形成了比較清楚的Ⅱ級人員與Ⅲ級人員要求的區(qū)分界定。
無損檢測人員取證培訓(xùn)教材數(shù)字射線檢測技術(shù) 目錄
前言
第1章概述
1.1數(shù)字射線檢測技術(shù)的發(fā)展概況
1.2數(shù)字射線檢測技術(shù)與膠片射線檢測技術(shù)的區(qū)別
1.3數(shù)字射線檢測技術(shù)基本理論
1.4等價(jià)性問題
1.5數(shù)字射線檢測技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
復(fù)習(xí)題
第2章輻射探測器與其他器件
2.1輻射探測器概述
2.1.1輻射探測器的類型（*）
*2.1.2輻射探測器的一般特性
2.1.3輻射探測器系統(tǒng)
2.2輻射探測器系統(tǒng)的基本性能
2.3分立輻射探測器（DDA）
2.3.1非晶硅輻射探測器（*）
2.3.2非晶硒輻射探測器
2.3.3CCD或CMOS輻射探測器
2.3.4分立輻射探測器的性能（*）
2.4成像板系統(tǒng)（IP板系統(tǒng)）
2.4.1IP板（*）
*2.4.2IP板的主要特性
2.4.3IP板系統(tǒng)的基本性能（*）
*2.5圖像增強(qiáng)器系統(tǒng)
*2.5.1圖像增強(qiáng)器的基本結(jié)構(gòu)
*2.5.2圖像增強(qiáng)器系統(tǒng)的探測過程
*2.5.3圖像增強(qiáng)器系統(tǒng)的主要性能
2.6A/D轉(zhuǎn)換器
2.7射線檢測的像質(zhì)計(jì)與線對卡
2.7.1像質(zhì)計(jì)概述
2.7.2常規(guī)像質(zhì)計(jì)
2.7.3雙絲型像質(zhì)計(jì)（*）
*2.74線對卡
復(fù)習(xí)題
第3章數(shù)字射線檢測基本理論
3.1數(shù)字圖像概念
3.1.1數(shù)字圖像的基本概念
3.1.2數(shù)字圖像的空間頻率
**3.1.3灰度
*3.1.4數(shù)字圖像文件格式
3.2圖像數(shù)字化基本理論
3.2.1圖像數(shù)字化過程
3.2.2采樣定理（*）
*3.2.3量化位數(shù)
3.3數(shù)字射線檢測圖像質(zhì)量
3.3.1檢測圖像對比度
3.3.2檢測圖像空間分辨力（*）
3.3.3檢測圖像信噪比（*）
3.4檢測圖像與細(xì)節(jié)識別和分辨
3.4.1檢測圖像與細(xì)節(jié)識別的關(guān)系（*）
3.4.2檢測圖像與細(xì)節(jié)分辨的關(guān)系（*）
**3.5細(xì)節(jié)可識別性理論關(guān)系式
復(fù)習(xí)題
第4章數(shù)字射線檢測基本技術(shù)
4.1概述
4.2探測器系統(tǒng)選擇
4.2.1探測器系統(tǒng)概述
4.2.2探測器系統(tǒng)基本空間分辨力選擇
4.2.3規(guī)格化信噪比選擇
4.3數(shù)字射線檢測透照技術(shù)
4.3.1透照技術(shù)控制概述
4.3.2*佳放大倍數(shù)（*）
4.3.3源到工件表面的距離（*）
4.3.4曝光曲線（*）
4.4圖像數(shù)字化參數(shù)控制
4.5檢測圖像顯示與缺陷評定技術(shù)
4.5.1圖像顯示與觀察條件（*）
4.5.2圖像觀察識別技術(shù)
4.5.3缺陷識別與質(zhì)量級別評定
4.5.4尺寸測量（*）
**4.5.5厚度測定
4.6數(shù)字射線檢測圖像質(zhì)量控制
4.6.1檢測圖像質(zhì)量參數(shù)控制
4.6.2圖像質(zhì)量的補(bǔ)償規(guī)則（*）
*4.7數(shù)字射線檢測技術(shù)級別近似設(shè)計(jì)
*4.7.1技術(shù)級別設(shè)計(jì)概述
*4.7.2檢測圖像常規(guī)像質(zhì)計(jì)指標(biāo)近似設(shè)計(jì)
*4.7.3檢測圖像不清晰度（空間分辨力）指標(biāo)設(shè)計(jì)
*4.7.4例題
4.8數(shù)字射線檢測技術(shù)穩(wěn)定性控制
4.8.1檢測工藝文件（檢測程序文件）
4.8.2檢測系統(tǒng)性能的長期穩(wěn)定性試驗(yàn)控制
4.8.3檢測工藝卡編制
復(fù)習(xí)題
第5章工業(yè)常用數(shù)字射線檢測系統(tǒng)
5.1概述
5.2DR系統(tǒng)
5.2.1DR系統(tǒng)組成
5.2.2DR系統(tǒng)技術(shù)控制（*）
5.2.3探測器響應(yīng)校正與壞像素修正（*）
5.2.4DR系統(tǒng)應(yīng)用特點(diǎn)
5.3CR系統(tǒng)
5.3.1CR系統(tǒng)檢測基本過程
5.3.2CR系統(tǒng)技術(shù)控制
5.3.3CR系統(tǒng)應(yīng)用
*5.4圖像增強(qiáng)器數(shù)字射線檢測系統(tǒng)
**5.5微焦點(diǎn)數(shù)字射線檢測系統(tǒng)
**5.6底片圖像數(shù)字化掃描技術(shù)
**5.6.1掃描儀概述
**5.6.2掃描儀的基本性能指標(biāo)
**5.6.3掃描技術(shù)
**5.6.4掃描儀選用
復(fù)習(xí)題
第6章等價(jià)性問題
6.1等價(jià)性問題概述
6.2等價(jià)技術(shù)級別評定
6.2.1等價(jià)技術(shù)級別評定概述
*6.2.2膠片射線照相檢測技術(shù)的檢測圖像質(zhì)量指標(biāo)分析
*6.2.3等價(jià)技術(shù)級別評定過程
*6.2.4等價(jià)技術(shù)級別評定例題
**6.3等價(jià)性問題的理論處理方法
復(fù)習(xí)題
第7章實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)1DDA基本空間分辨力測定
實(shí)驗(yàn)2DDA規(guī)格化信噪比與曝光量平方根關(guān)系曲線測定
實(shí)驗(yàn)3DDA像素尺寸對缺陷檢測的影響
實(shí)驗(yàn)4IP板圖像讀出掃描點(diǎn)尺寸對缺陷檢測的影響
實(shí)驗(yàn)5曝光量對檢測圖像質(zhì)量的影響
實(shí)驗(yàn)6*佳放大倍數(shù)試驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)7曝光曲線制作
實(shí)驗(yàn)8圖像軟件使用
實(shí)驗(yàn)9DDA數(shù)字射線檢測系統(tǒng)使用
實(shí)驗(yàn)10CR數(shù)字射線檢測系統(tǒng)使用
附錄
附錄A輻射探測器的基礎(chǔ)性知識
附錄B采樣定理說明
附錄C數(shù)字圖像增強(qiáng)處理技術(shù)簡介
附錄D動態(tài)數(shù)字射線檢測技術(shù)
附錄E射線檢測技術(shù)系統(tǒng)的調(diào)制傳遞函數(shù)
附錄F復(fù)習(xí)參考題答案
參考文獻(xiàn)
第1章概述
1.1數(shù)字射線檢測技術(shù)的發(fā)展概況
1.2數(shù)字射線檢測技術(shù)與膠片射線檢測技術(shù)的區(qū)別
1.3數(shù)字射線檢測技術(shù)基本理論
1.4等價(jià)性問題
1.5數(shù)字射線檢測技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
復(fù)習(xí)題
第2章輻射探測器與其他器件
2.1輻射探測器概述
2.1.1輻射探測器的類型（*）
*2.1.2輻射探測器的一般特性
2.1.3輻射探測器系統(tǒng)
2.2輻射探測器系統(tǒng)的基本性能
2.3分立輻射探測器（DDA）
2.3.1非晶硅輻射探測器（*）
2.3.2非晶硒輻射探測器
2.3.3CCD或CMOS輻射探測器
2.3.4分立輻射探測器的性能（*）
2.4成像板系統(tǒng)（IP板系統(tǒng)）
2.4.1IP板（*）
*2.4.2IP板的主要特性
2.4.3IP板系統(tǒng)的基本性能（*）
*2.5圖像增強(qiáng)器系統(tǒng)
*2.5.1圖像增強(qiáng)器的基本結(jié)構(gòu)
*2.5.2圖像增強(qiáng)器系統(tǒng)的探測過程
*2.5.3圖像增強(qiáng)器系統(tǒng)的主要性能
2.6A/D轉(zhuǎn)換器
2.7射線檢測的像質(zhì)計(jì)與線對卡
2.7.1像質(zhì)計(jì)概述
2.7.2常規(guī)像質(zhì)計(jì)
2.7.3雙絲型像質(zhì)計(jì)（*）
*2.74線對卡
復(fù)習(xí)題
第3章數(shù)字射線檢測基本理論
3.1數(shù)字圖像概念
3.1.1數(shù)字圖像的基本概念
3.1.2數(shù)字圖像的空間頻率
**3.1.3灰度
*3.1.4數(shù)字圖像文件格式
3.2圖像數(shù)字化基本理論
3.2.1圖像數(shù)字化過程
3.2.2采樣定理（*）
*3.2.3量化位數(shù)
3.3數(shù)字射線檢測圖像質(zhì)量
3.3.1檢測圖像對比度
3.3.2檢測圖像空間分辨力（*）
3.3.3檢測圖像信噪比（*）
3.4檢測圖像與細(xì)節(jié)識別和分辨
3.4.1檢測圖像與細(xì)節(jié)識別的關(guān)系（*）
3.4.2檢測圖像與細(xì)節(jié)分辨的關(guān)系（*）
**3.5細(xì)節(jié)可識別性理論關(guān)系式
復(fù)習(xí)題
第4章數(shù)字射線檢測基本技術(shù)
4.1概述
4.2探測器系統(tǒng)選擇
4.2.1探測器系統(tǒng)概述
4.2.2探測器系統(tǒng)基本空間分辨力選擇
4.2.3規(guī)格化信噪比選擇
4.3數(shù)字射線檢測透照技術(shù)
4.3.1透照技術(shù)控制概述
4.3.2*佳放大倍數(shù)（*）
4.3.3源到工件表面的距離（*）
4.3.4曝光曲線（*）
4.4圖像數(shù)字化參數(shù)控制
4.5檢測圖像顯示與缺陷評定技術(shù)
4.5.1圖像顯示與觀察條件（*）
4.5.2圖像觀察識別技術(shù)
4.5.3缺陷識別與質(zhì)量級別評定
4.5.4尺寸測量（*）
**4.5.5厚度測定
4.6數(shù)字射線檢測圖像質(zhì)量控制
4.6.1檢測圖像質(zhì)量參數(shù)控制
4.6.2圖像質(zhì)量的補(bǔ)償規(guī)則（*）
*4.7數(shù)字射線檢測技術(shù)級別近似設(shè)計(jì)
*4.7.1技術(shù)級別設(shè)計(jì)概述
*4.7.2檢測圖像常規(guī)像質(zhì)計(jì)指標(biāo)近似設(shè)計(jì)
*4.7.3檢測圖像不清晰度（空間分辨力）指標(biāo)設(shè)計(jì)
*4.7.4例題
4.8數(shù)字射線檢測技術(shù)穩(wěn)定性控制
4.8.1檢測工藝文件（檢測程序文件）
4.8.2檢測系統(tǒng)性能的長期穩(wěn)定性試驗(yàn)控制
4.8.3檢測工藝卡編制
復(fù)習(xí)題
第5章工業(yè)常用數(shù)字射線檢測系統(tǒng)
5.1概述
5.2DR系統(tǒng)
5.2.1DR系統(tǒng)組成
5.2.2DR系統(tǒng)技術(shù)控制（*）
5.2.3探測器響應(yīng)校正與壞像素修正（*）
5.2.4DR系統(tǒng)應(yīng)用特點(diǎn)
5.3CR系統(tǒng)
5.3.1CR系統(tǒng)檢測基本過程
5.3.2CR系統(tǒng)技術(shù)控制
5.3.3CR系統(tǒng)應(yīng)用
*5.4圖像增強(qiáng)器數(shù)字射線檢測系統(tǒng)
**5.5微焦點(diǎn)數(shù)字射線檢測系統(tǒng)
**5.6底片圖像數(shù)字化掃描技術(shù)
**5.6.1掃描儀概述
**5.6.2掃描儀的基本性能指標(biāo)
**5.6.3掃描技術(shù)
**5.6.4掃描儀選用
復(fù)習(xí)題
第6章等價(jià)性問題
6.1等價(jià)性問題概述
6.2等價(jià)技術(shù)級別評定
6.2.1等價(jià)技術(shù)級別評定概述
*6.2.2膠片射線照相檢測技術(shù)的檢測圖像質(zhì)量指標(biāo)分析
*6.2.3等價(jià)技術(shù)級別評定過程
*6.2.4等價(jià)技術(shù)級別評定例題
**6.3等價(jià)性問題的理論處理方法
復(fù)習(xí)題
第7章實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)1DDA基本空間分辨力測定
實(shí)驗(yàn)2DDA規(guī)格化信噪比與曝光量平方根關(guān)系曲線測定
實(shí)驗(yàn)3DDA像素尺寸對缺陷檢測的影響
實(shí)驗(yàn)4IP板圖像讀出掃描點(diǎn)尺寸對缺陷檢測的影響
實(shí)驗(yàn)5曝光量對檢測圖像質(zhì)量的影響
實(shí)驗(yàn)6*佳放大倍數(shù)試驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)7曝光曲線制作
實(shí)驗(yàn)8圖像軟件使用
實(shí)驗(yàn)9DDA數(shù)字射線檢測系統(tǒng)使用
實(shí)驗(yàn)10CR數(shù)字射線檢測系統(tǒng)使用
附錄
附錄A輻射探測器的基礎(chǔ)性知識
附錄B采樣定理說明
附錄C數(shù)字圖像增強(qiáng)處理技術(shù)簡介
附錄D動態(tài)數(shù)字射線檢測技術(shù)
附錄E射線檢測技術(shù)系統(tǒng)的調(diào)制傳遞函數(shù)
附錄F復(fù)習(xí)參考題答案
參考文獻(xiàn)
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