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技術溢出的機制測度與我國創(chuàng)新模式優(yōu)化策略 版權信息
- ISBN:9787514191820
- 條形碼:9787514191820 ; 978-7-5141-9182-0
- 裝幀:一般膠版紙
- 冊數:暫無
- 重量:暫無
- 所屬分類:>
技術溢出的機制測度與我國創(chuàng)新模式優(yōu)化策略 本書特色
本書介紹了技術溢出的基本概念與技術擴散等概念,分析了它們的異同點;分析了技術溢出的研究背景,包括經濟全球化與技術溢出、產業(yè)地方化集聚中的技術溢出等;綜述了技術溢出的研究視角,如產業(yè)間的技術溢出、區(qū)域間的技術溢出、產學研合作中的技術溢出等。
技術溢出的機制測度與我國創(chuàng)新模式優(yōu)化策略 內容簡介
本書介紹了技術溢出的基本概念與技術擴散等概念,分析了它們的異同點;分析了技術溢出的研究背景,包括經濟優(yōu)選化與技術溢出、產業(yè)地方化集聚中的技術溢出等;綜述了技術溢出的研究視角,如產業(yè)間的技術溢出、區(qū)域間的技術溢出、產學研合作中的技術溢出等。
技術溢出的機制測度與我國創(chuàng)新模式優(yōu)化策略 目錄
技術溢出的機制測度與我國創(chuàng)新模式優(yōu)化策略 作者簡介
魏守華,男,安徽巢湖人。2003年7月獲北京大學博士學位,2007年7月進入南京大學商學院。研究方向 1.產業(yè)集群 2.區(qū)域科技發(fā)展 教學方向 1.城市經濟學 2.創(chuàng)新與經濟增長
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