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電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗-電子電路實驗.設(shè)計及現(xiàn)代EDA技術(shù) 版權(quán)信息
- ISBN：9787040466065
- 條形碼：9787040466065 ; 978-7-04-046606-5
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊數(shù)：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗-電子電路實驗.設(shè)計及現(xiàn)代EDA技術(shù) 內(nèi)容簡介
本書是在第三版基礎(chǔ)上修訂而成的，是近年來華中科技大學(xué)國家電工電子實驗教學(xué)示范中心在電子技術(shù)實驗教學(xué)方面的總結(jié)。這次修訂進一步豐富和完善了實驗內(nèi)容與實驗教學(xué)方式。全書分為三篇和兩個附錄。
電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗-電子電路實驗.設(shè)計及現(xiàn)代EDA技術(shù) 目錄
**篇 電子電路實驗與調(diào)試基礎(chǔ)知識第1章 電子技術(shù)實驗基礎(chǔ)知識1．1 電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗的目的和意義1．2 電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗的流程與要求1．3 常用分立元件簡介1．3．1 電阻器1．3．2 電容器1．3．3 電感器1．4 誤差分析與測量結(jié)果的處理1．4．1 誤差的來源與分類1．4．2 誤差表示方法1．4．3 測量結(jié)果的處理第2章 基本測量技術(shù)2．1 概述2．2 電壓測量2．2．1 高內(nèi)阻回路直流電壓的測量2．2．2 交流電壓的測量2．2．3 電壓測量的數(shù)字化方法2．3 阻抗測量2．3．1 輸入電阻的測量2．3．2 輸出電阻的測量2．4 增益及幅頻特性測量2．5 電子示波器及其在測量中的應(yīng)用2．5．1 模擬電子示波器顯示波形的原理2．5．2 模擬電子示波器的基本組成及工作原理2．5．3 雙通道模擬示波器2．5．4 數(shù)字示波器的基本工作原理2．5．5 數(shù)字示波器的組成和關(guān)鍵技術(shù)2．5．6 數(shù)字示波器的技術(shù)參數(shù)2．5．7 示波器的使用第3章 電子電路調(diào)試與故障檢測技術(shù)3．1 電子電路的調(diào)試3．1．1 調(diào)試前的直觀檢查3．1．2 調(diào)試方法3．1．3 調(diào)試中的注意事項3．2 檢查故障的一般方法3．2．1 故障現(xiàn)象和產(chǎn)生故障的原因3．2．2 檢查故障的一般方法3．3 電子電路干擾的抑制3．3．1 干擾源3．3．2 干擾途徑及其抑制方法3．3．3 有關(guān)接地的幾點基本知識第二篇 電子技術(shù)實驗第4章 模擬電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗實驗一 常用電子儀器的使用練習(xí)實驗二 二極管的應(yīng)用實驗三 集成運算放大器的基本應(yīng)用實驗四 MOSFET放大電路實驗五 結(jié)型場效應(yīng)管共源放大電路實驗六 雙極型三極管單級共射放大電路實驗七 共射一共集放大電路實驗八 負反饋放大電路實驗九 正弦波產(chǎn)生電路實驗十 方波和三角波產(chǎn)生電路實驗十一 精密全波整流電路實驗十二 有源濾波電路實驗十三 低頻功率放大電路第5章 數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗實驗十四 集成邏輯門的功能測試與應(yīng)用實驗十五 組合邏輯電路設(shè)計實驗十六 脈沖產(chǎn)生與整形電路實驗十七 集成觸發(fā)器及其應(yīng)用電路設(shè)計實驗十八 計數(shù)、譯碼、顯示電路實驗十九 籃球競賽24s定時電路設(shè)計實驗二十 移位寄存器及其應(yīng)用實驗二十一 D/A轉(zhuǎn)換器實驗二十二 A/D轉(zhuǎn)換器第6章 綜合設(shè)計性實驗實驗二十三 多位LED顯示器的動態(tài)掃描驅(qū)動電路實驗二十四 數(shù)字式音量自動調(diào)節(jié)電路實驗二十五 數(shù)字溫度計實驗二十六 交通信號燈控制電路實驗二十七 音樂彩燈控制電路實驗二十八 語音放大電路實驗二十九 簡易心電圖儀設(shè)計第三篇 常用EDA軟件的使用第7章 OrCAD/PSpice16．6軟件的使用7．1 概述7．1．1 PSpice軟件的主要構(gòu)成7．1．2 運行PSpiee的有關(guān)規(guī)定7．1．3 電路仿真的一般流程7．2 三極管共射放大電路的仿真分析7．2．1 利用0rcAD Capture繪制電路圖7．2．2 直流工作點分析7．2．3 時域（瞬態(tài)）分析7．2．4 交流掃描分析7．2．5 參數(shù)掃描分析7．2．6 實驗任務(wù)7．3 MOS晶體管特性曲線分析7．3．1 繪制電路圖7．3．2 設(shè)置分析參數(shù)，觀察輸出特性曲線7．3．3 設(shè)置分析參數(shù)，觀察轉(zhuǎn)移特性曲線7．3．4 實驗任務(wù)7．4 差分放大電路分析7．4．1 繪制電路圖7．4．2 設(shè)置分析參數(shù)7．4．3 執(zhí)行PSpice程序7．4．4 利用Probe，顯示分析結(jié)果7．4．5 調(diào)用文字輸出文件7．4．6 實驗任務(wù)第8章 ISE 14．7軟件的使用8．1 Xilinx ISE 14．7仿真過程8．1．1 建立新的設(shè)計項目8．1．2 輸入Verilog HDL設(shè)計文件8．1．3 輸入測試平臺文件8．1．4 編譯設(shè)計項目，進行功能仿真8．2 Xilinx ISE：14．7邏輯綜合與實現(xiàn)8．2．1 分配引腳8．2．2 邏輯綜合與實現(xiàn)8．2．3 對目標(biāo)器件編程，實際測試電路功能8．2．4 實驗任務(wù)8．3 Xilinx FPGA實驗平臺8．3．1 開發(fā)板提供的基本資源8．3．2 開發(fā)板提供的：PMOD擴展插座8．4 四位顯示器的動態(tài)掃描控制電路設(shè)計8．4．1 電路工作原理8．4．2 邏輯設(shè)計8．4．3 實際測試8．5 TestBench的編寫8．5．1 TestBench的基本結(jié)構(gòu)8．5．2 Verilog HDL系統(tǒng)任務(wù)8．5．3 Verilog HDL編譯器指令第9章 Quartus Ⅱ9．1軟件的使用9．1 Ouartus Ⅱ9．1軟件主界面及其設(shè)計流程9．2 Ouartus Ⅱ9．1仿真過程9．2．1 建立新的設(shè)計項目9．2．2 輸入設(shè)計文件9．2．3 編譯設(shè)計文件9．2．4 設(shè)計項目的仿真驗證9．2．5 分析信號的延遲特性9．3 Quartus Ⅱ9．1邏輯綜合與實現(xiàn)9．3．1 引腳分配9．3．2 對目標(biāo)器件編程9．3．3 實驗任務(wù)9．4 Altera FPGA實驗平臺9．4．1 開發(fā)板提供的基本輸入/輸出資源9．4．2 開發(fā)板提供的時鐘源與擴展槽
附錄A 常用集成電路引腳排列圖A．1 模擬集成電路A．2 74系列數(shù)字集成電路A．3 4000系列CMOS集成電路附錄B 常用邏輯符號對照表參考文獻
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