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電路與電子系統故障診斷技術 版權信息
- ISBN：9787121279751
- 條形碼：9787121279751 ; 978-7-121-27975-1
- 裝幀：暫無
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
電路與電子系統故障診斷技術 本書特色
本書較全面地介紹電路與電子系統的故障診斷方法，主要內容包括：數字電路、模擬電路、混合電路及微機系統的測試與故障診斷。本書還從實用的角度出發，講解電路的維修技術，介紹當前熱門的可測性設計技術。故障診斷的發展離不開測試技術的發展，本書*后還根據作者多年的科研和工程經驗介紹網絡化測試儀器的設計、面向信號的自動測試系統知識等。本書提供電子課件。
電路與電子系統故障診斷技術 內容簡介
本書較全面地介紹電路與電子系統的故障診斷方法，主要內容包括：數字電路、模擬電路、混合電路及微機系統的測試與故障診斷。本書還從實用的角度出發，講解電路的維修技術，介紹當前熱門的可測性設計技術。故障診斷的發展離不開測試技術的發展，本書*后還根據作者多年的科研和工程經驗介紹網絡化測試儀器的設計、面向信號的自動測試系統知識等。本書提供電子課件。
電路與電子系統故障診斷技術 目錄
目 錄 緒論 10.1 電路與電子系統的復雜性 10.2 電路與電子系統故障診斷的必要性 20.3 電路與電子系統測試的特點 20.3.1 模擬電路與系統測試的特點 20.3.2 數字電路與系統測試的特點 30.3.3 混合電路測試的特點 40.4 本書主要內容 4本章參考文獻 6第1章 電子系統常用故障診斷方法 71.1 常見故障診斷方法 71.1.1 基于故障模型的診斷方法 71.1.2 基于機器學習的診斷方法 91.1.3 基于信號處理的方法 101.1.4 基于解析模型的方法 111.1.5 基于知識的故障診斷方法 121.1.6 故障診斷方法的發展趨勢 141.2 基于故障樹的故障診斷方法 151.2.1 故障樹分析法中的基本概念和 符號 161.2.2 故障樹的生成 171.2.3 ieee 1232的系統結構 191.2.4 ieee 1232模型文件 191.2.5 ieee 1232的推理機服務 20本章參考文獻 21第2章 數字電路測試與故障診斷 222.1 數字電路測試方法概述 222.1.1 數字電路測試的基本概念 222.1.2 數字電路測試的必要性和復雜性 222.1.3 數字電路測試的發展 242.2 數字電路故障模型與測試 252.2.1 故障及故障模型 252.2.2 故障測試 272.2.3 故障冗余 292.3 數字電路測試的基本任務 302.3.1 測試矢量的產生 302.3.2 測試響應的觀測 312.4 可測性與完備性 322.4.1 可測性 322.4.2 完備性 322.5 復雜系統的分級測試 332.5.1 子系統一級的測試 332.5.2 微機系統的測試 342.6 窮舉測試法 342.6.1 單輸出無扇出電路 352.6.2 帶匯聚扇出的單輸出電路 382.6.3 各輸出不依賴于全部輸入的 多輸出電路 402.7 故障表方法 402.7.1 固定式列表計劃偵查 412.7.2 固定計劃定位 422.7.3 適應性計劃偵查和定位 44習題 47本章參考文獻 48第3章 組合電路與時序電路的故障診斷 503.1 通路敏化 503.1.1 敏化通路 503.1.2 通路敏化法 513.1.3 關于一維敏化的討論 533.1.4 多維敏化 553.2 d算法 563.2.1 d算法的基礎知識 563.2.2 d算法的基本步驟 583.2.3 d算法舉例 583.2.4 擴展d算法 633.3 布爾差分法 683.3.1 布爾差分的基本概念 683.3.2 布爾差分的特性 693.3.3 求布爾差分的方法 703.3.4 單故障的測試 733.3.5 多重故障的測試 763.4 故障字典 783.5 時序邏輯電路的測試 783.6 迭接電路法 793.6.1 基本思想 793.6.2 同步時序電路的組合迭接 803.6.3 異步時序電路的組合迭接 823.7 狀態變遷檢查法 853.7.1 初始狀態的設置 853.7.2 狀態的識別 883.7.3 故障的測試 883.7.4 區分序列的存在性 89習題 91第4章 模擬電路與混合信號的故障診斷 924.1 模擬電路測試的復雜性 924.1.1 模擬電路故障診斷概述 924.1.2 模擬電路故障診斷技術的產生 924.1.3 模擬電路故障特點 934.1.4 故障診斷是網絡理論的一個重要 分支 934.2 模擬電路的故障模型 944.3 模擬電路的故障診斷方法 954.3.1 傳統的故障診斷方法 964.3.2 目前的故障診斷方法 964.3.3 發展中的新故障測試方法 974.4 故障字典法 994.4.1 直流域中字典的建立 994.4.2 頻域中字典的建立 1034.4.3 時域中字典的建立 1074.4.4 故障的識別與分辨 1104.5 混合信號測試概述 1124.5.1 混合信號的發展 1124.5.2 混合信號測試面臨的挑戰 1124.5.3 混合信號的基本測試方法 1134.5.4 混合信號測試的展望 1144.6 數模/模數轉換器簡介 1154.6.1 數模轉換器 1154.6.2 模數轉換器 1184.7 混合信號測試總線 1244.7.1 ieee 1149.4電路結構 1244.7.2 ieee 1149.4測試方法 1264.7.3 ieee 1149.4標準指令 126本章參考文獻 128第5章 電路板維修技術 1305.1 維修前的準備 1305.1.1 維修設備和工具 1305.1.2 安全技術 1305.1.3 感官訓練 1315.2 檢修技術和方法 1315.2.1 電路檢修原則 1315.2.2 具體電路問題及故障處理順序 1325.2.3 故障維修方法 1325.2.4 小結 145第6章 微機系統的故障診斷 1476.1 存儲器的測試 1476.1.1 ram中的故障類型 1486.1.2 測試的若干原則性考慮 1496.1.3 存儲器測試方法 1506.1.4 各種測試方法的比較 1556.2 rom的測試方法 1566.3 微處理器的測試 1576.3.1 ?p的算法產生測試 1586.3.2 ?p功能性測試的一般方法 1616.3.3 ?p功能性測試的系統圖方法 1666.4 利用被測系統的應用程序進行測試 1686.4.1 基本概念 1686.4.2 應用程序的模型化 1686.4.3 關系圖 1706.4.4 測試的組織 1726.4.5 通路測試的算法 174習題 177本章參考文獻 177第7章 可測性設計 1787.1 可測性設計的概念 1787.1.1 可靠性的定義 1787.1.2 可靠性的主要參數指標 1797.1.3 可測性設計的提出 1797.2 可測性設計的發展 1807.2.1 可測性的起源與發展過程 1807.2.2 國內情況 1817.2.3 關鍵的技術 1827.2.4 國際標準 1837.2.5 可測性設計發展趨勢 1857.3 可測性的測度 1867.3.1 基本定義 1867.3.2 標準單元的可測性分析 1887.3.3 可控性和可觀測性的計算 1907.4 可測性設計方法 1917.5 內建自測試設計 1947.5.1 多位線性反饋移位寄存器 1957.5.2 偽隨機數發生器 1977.5.3 特征分析器 1987.5.4 內建自測試電路設計 2007.6 邊界掃描技術 2027.6.1 jtag邊緣掃描可測性設計 的結構 2037.6.2 工作方式 2057.6.3 邊緣掃描單元的級聯 2067.6.4 jtag的指令 2077.6.5 jtag應用舉例 2087.6.6 jtag的特點 210本章參考文獻 210第8章 網絡化測試儀器 2128.1 分布式自動測試系統 2128.1.1 分布式系統概述 2128.1.2 分布式系統結構及其特點 2138.1.3 分布式系統的優勢 2148.1.4 分布式自動測試系統 2158.2 網絡化測試儀器 2178.2.1 網絡化測試儀器概述 2178.2.2 網絡化測試儀器設計規范 2178.3 lxi總線測試儀器 2338.3.1 lxi總線的發展 2338.3.2 lxi測試儀器的基本特性 2338.3.3 lxi測試儀器的分類 2358.3.4 lxi測試儀器的結構與電氣 特性 2388.3.5 lxi測試儀器的網絡設置 與通信 2428.3.6 lxi測試儀器的觸發與同步 2478.3.7 lxi測試儀器ivi驅動接口設計 方法 250本章參考文獻 253第9章 面向信號的自動測試系統 2549.1 自動測試系統概述及發展 2549.1.1 自動測試系統的框架結構 2549.1.2 自動測試系統的提出與發展 2559.1.3 面向信號自動測試系統 2579.1.4 面向信號的自動測試系統的 技術框架 2589.2 ieee 1641協議 2609.2.1 ieee 1641的提出 2609.2.2 信號的層次結構 2619.2.3 ieee 1641標準的不足 2639.3 atml標準 2639.3.1 xml標記語言 2639.3.2 atml標準 2649.3.3 協議與自動測試系統各部分 的關系 2659.4 ivi技術 2669.4.1 可互換虛擬儀器技術 2669.4.2 ivi技術 2679.4.3 ivisignal 2699.5 自動測試系統應用 2709.5.1 自動測試系統的軟件結構 2709.5.2 測試過程 272本章參考文獻 272
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電路與電子系統故障診斷技術 作者簡介
2011.08- 電子科技大學 儀器科學與技術 副教授。本科：嵌入式系統軟件技術， 32學時 ，教授時間2005年，2006年，2007年。信息論導論，32學時 教授時間2005年，2006年，2010年。數據域測試及儀器 48學時 教授時間2006年，2007年，2008年，2009年。 電路與電子系統故障診斷 32學時 教授時間2011年，2012年，2014年。研究生課程如下嵌入式系統及軟件 工程碩士 40學時 教授時間 2008年嵌入式操作系統及應用 工程碩士 40學時 教授時間 2008年。自動測試系統集成技術 工學碩士 40學時 教授時間 2013年。承擔了研究生測試系統課程實驗設計項目。
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