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硅通孔3D集成技術(shù) 版權(quán)信息
- ISBN:9787030393302
- 條形碼:9787030393302 ; 978-7-03-039330-2
- 裝幀:一般膠版紙
- 冊數(shù):暫無
- 重量:暫無
- 所屬分類:>>
硅通孔3D集成技術(shù) 本書特色
《信息科學技術(shù)學術(shù)著作叢書:硅通孔3d集成技術(shù)》系統(tǒng)討論用于電子、光電子和mems器件的三維集成硅通孔(tsv)技術(shù)的*新進展和未來可能的演變趨勢,同時詳盡討論三維集成關(guān)鍵技術(shù)中存在的主要工藝問題和可能的解決方案。通過介紹半導體工業(yè)中的納米技術(shù)和三維集成技術(shù)的起源和演變歷史,結(jié)合當前三維集成關(guān)鍵技術(shù)的發(fā)展重點討論tsv制程技術(shù)、晶圓減薄與薄晶圓在封裝組裝過程中的拿持技術(shù)、三維堆疊的微凸點制作與組裝技術(shù)、芯片/芯片鍵合技術(shù)、芯片/晶圓鍵合技術(shù)、晶圓/晶圓鍵合技術(shù)、三維器件集成的熱管理技術(shù)以及三維集成中的可靠性等關(guān)鍵技術(shù)問題,*后討論可實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化規(guī)模量產(chǎn)的三維封裝技術(shù)以及tsv技術(shù)的未來發(fā)展趨勢。 《信息科學技術(shù)學術(shù)著作叢書:硅通孔3d集成技術(shù)》適合從事電子、光電子、mems等器件三維集成研究工作的工程師、技術(shù)研發(fā)人員、技術(shù)管理人員和科研人員閱讀,也可以作為相關(guān)專業(yè)大學高年級本科生和研究生的教材。
硅通孔3D集成技術(shù) 內(nèi)容簡介
該書作者是JohnH.Lau,Ph.D.,P.E.,IEEEFellow,ASMEFellow,ITRIFellow,國際領(lǐng)域著名的專家,在硅基設(shè)計方面的權(quán)威。隨著微處理器發(fā)展技術(shù),功耗和摩爾已經(jīng)限制了其發(fā)展。未來的3D設(shè)計解決傳統(tǒng)平面的有效途徑。目前國內(nèi)的專家都是師承l(wèi)au,是受其啟發(fā)開始研究的。該書是作者2013年的*新力作,得到了國內(nèi)學術(shù)界,如李樂民院士、李廣軍教授等強烈關(guān)注。是該領(lǐng)域的**部詳盡的著作。同時也是國家十二五,核高基重點突破的領(lǐng)域,具有重要的借鑒價值和意義。
硅通孔3D集成技術(shù) 目錄
前言
致謝
導讀
第1章 半導體工業(yè)的納米技術(shù)和三維(3d)集成技術(shù)
1.1 引言
1.2 納米技術(shù)
1.2.1 納米技術(shù)起源
1.2.2 納米技術(shù)重要的里程碑
1.2.3 石墨烯與電子工業(yè)
1.2.4 納米技術(shù)的展望
1.2.5 摩爾定律:電子工業(yè)的納米技術(shù)
1.3 三維集成技術(shù)
1.3.1 硅通孔(tsv)技術(shù)
1.3.2 三維集成技術(shù)的起源
1.4 三維硅集成技術(shù)的挑戰(zhàn)和展望
1.4.1 三維硅集成技術(shù)
1.4.2 三維硅集成鍵合組裝技術(shù)
1.4.3 三維硅集成技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)
1.4.4 三維硅集成技術(shù)的展望
1.5 三維集成電路(3dic)集成技術(shù)的潛在應(yīng)用和挑戰(zhàn)
1.5.1 3dic集成技術(shù)的定義
1.5.2 移動電子產(chǎn)品的未來需求
1.5.3 帶寬和widei/o的定義
1.5.4 儲存器的帶寬
1.5.5 存儲器芯片堆疊
1.5.6 widei/o存儲器
1.5.7 widei/o動態(tài)隨機存儲器(dram)
1.5.8 widei/o接口
1.5.9 2.5 d和3dic集成(有源和無源轉(zhuǎn)接板)技術(shù)
1.6 2.5 dic*新進展(轉(zhuǎn)接板)技術(shù)的*新進展
1.6.1 用作中間基板的轉(zhuǎn)接板
1.6.2 用作應(yīng)力釋放(可靠性)緩沖層的轉(zhuǎn)接板
1.6.3 用作載板的轉(zhuǎn)接板
1.6.4 用作熱管理的轉(zhuǎn)接板
1.7 三維集成tsv無源轉(zhuǎn)接板技術(shù)發(fā)展的新趨勢
1.7.1 雙面貼裝空腔式轉(zhuǎn)接板技術(shù)
1.7.2 有機基板開孔式轉(zhuǎn)接板技術(shù)
1.7.3 設(shè)計案例
1.7.4 帶有熱塞或散熱器的有機基板開孔式轉(zhuǎn)接板技術(shù)
1.7.5 超低成本轉(zhuǎn)接板技術(shù)
1.7.6 用于熱管理的轉(zhuǎn)接板技術(shù)
1.7.7 對于三維光發(fā)射二極管(led)和sip有埋入式微流道的轉(zhuǎn)接板
1.8 埋人式3dic集成
1.8.1 帶應(yīng)力釋放間隙的半埋入式轉(zhuǎn)接板
1.8.2 用于光電互連的埋入式三維混合ic集成技術(shù)
1.9 總結(jié)與建議
1.10 tsv專利
1.11 參考文獻
1.12 其他閱讀材料
1.12.1 tsv、3d集成和可靠性
1.12.2 3dmems和ic集成
1.12.3 半導體ic封裝
第2章 硅通扎(tsv)技術(shù)
2.1 引言
2.2 tsv的發(fā)明
2.3 可采用tsv技術(shù)的量產(chǎn)產(chǎn)品
2.4 tsv孔的制作
2.4.1 drie與激光鉆孔
2.4.2 制作椎形孔的drie工藝
……
第3章 硅通孔(bv):機械、熱和電學行為
第4章 薄晶圓強度測量
第5章 薄晶圓拿持技術(shù)
第6章 微凸點制作、組裝和可靠性
第7章 微凸點的電遷移
第8章 瞬態(tài)液相鍵合:芯片到芯片(c2c),芯片到晶圓(c2w),晶圓到晶圓(w2w)
第9章 三維集成電路集成的熱管理
第10章 三維集成電路封裝
第11章 三維集成的發(fā)展趨勢
索引
硅通孔3D集成技術(shù) 作者簡介
曹立強,1974年9月出生。工學博士,現(xiàn)為中國科學院微電子研究所研究員,博士生導師,中國科學院“百人計劃”學者。1997年畢業(yè)于中國科學技術(shù)大學,2003年在瑞典Chalmers大學微電子及納米技術(shù)研究中心獲得博士學位。曾在瑞典國家工業(yè)產(chǎn)品研究所、北歐微系統(tǒng)集成技術(shù)中心、美國Intel技術(shù)開發(fā)有限公司從事系統(tǒng)級封裝技術(shù)的研發(fā)和管理工作。主要從事先進封裝的研究工作,承擔了國家科技重大專項、國家自然科學基金重點項目、國家創(chuàng)新團隊國際合作計劃等項目,在電子封裝材料、品圓級系統(tǒng)封裝、三維硅通孔互連技術(shù)等方面取得多項成果,授權(quán)發(fā)明專利10余項,SCI/EI收錄論文50余篇。
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